一种触摸检测方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术适用于电子技术领域，提供了一种触摸检测方法和装置，旨在解决现有技术中大尺寸电阻式触摸屏的性能和触控准确性无法同时满足的问题。所述方法包括：若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样；根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；若触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算触摸点的x轴电压值和y轴电压值；根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。本发明专利技术的技术方案实现了降低处理器的处理负荷，提高触控性能，同时避免了触控显示刷新延迟等问题。

【技术实现步骤摘要】
一种触摸检测方法和装置
本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种触摸检测方法和装置。
技术介绍
目前，随着触摸屏尺寸的不断增大，大尺寸的触摸屏成品在触控压力一致性方面的性能较差。产品开发人员往往通过增加采样点数或者统一使用时间复杂度较高的滤波算法，过滤无效数据，计算出准确的触摸轨迹。但是，增加采样点数和统一使用时间复杂度较高的滤波算法的方式会导致主处理器的负担增大，在性能要求严格的嵌入式系统中，往往又会导致触控显示刷新延迟等问题，影响用户的触控体验。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种触摸检测方法和装置，旨在解决现有技术中大尺寸电阻式触摸屏的性能和触控准确性无法同时满足的问题。第一方面，本专利技术实施例提供了一种触摸检测方法，该触摸检测方法包括：若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值；根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。另一方面，本专利技术实施例提供了一种触摸检测装置，该触摸检测装置包括:采样模块，用于若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；判断模块，用于根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；计算模块，用于若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值；第一确定模块，用于根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。本专利技术实施例若检测到用户通过触摸屏输入的触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，并根据n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域，若该触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点的电压值进行采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值，然后根据x轴电压值和y轴电压值，确定该触摸点在触摸屏的位置坐标。通过对触摸点的电压值进行采样，识别出触控压力不一致的问题区域，只针对问题区域通过增加采样点使用时间复杂度较高的优化算法，而对正常区域可以仍然采用采样点较少的常规过滤算法，从而在减少对系统处理能力的占用，降低处理器的处理负荷，提高触控性能的同时，也避免了触控显示刷新延迟等问题，使得终端能够及时准确地响应触摸操作对应的控制指令。附图说明图1是本专利技术实施例一提供的一种触摸检测方法的流程图；图2是本专利技术实施例提供的一种触摸检测方法中触摸屏坐标分布示意图；图3是本专利技术实施例二提供的一种触摸检测方法的流程图；图4是本专利技术实施例三提供的一种触摸检测装置的结构示意图；图5是本专利技术实施例四提供的一种触摸检测装置的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。以下结合具体附图对本专利技术的实现进行详细的描述。实施例一：图1是本专利技术实施例一提供的一种触摸检测方法的流程图，本专利技术实施例的执行主体为智能终端设备，其具体可以是包含大尺寸电阻式触摸屏的智能手机等智能终端设备，图1示例的触摸检测方法具体可以包括步骤S101至步骤S104，详述如下：S101、若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，n为整数。具体地，若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则可以通过触摸控制芯片对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到的电压采样值具体可以是电压AD值，即电压的模数转换值，在以触摸屏的左上角为坐标原点的二维坐标系中，该电压AD值可以包括x轴的电压采样值和y轴的电压采样值。通过对触摸点的n次电压值采样，可以得到触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值。S102、根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域。具体地，根据步骤S101得到的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域。对触摸灵敏的触摸屏来说，正常触摸滑动时采集到的电压AD值是连续的，因此在一个触摸点采集到的多个电压AD值之间的差值也很小，如果出现较大的差值，则可以认定该触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域。当用户在触摸不灵敏的区域进行触摸操作时，终端无法准确响应该触摸操作对应的控制指令。S103、若触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域，则继续对该触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值。具体的，若触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域，则继续对该触摸点进行多次电压值采样，将得到的采样数据与步骤S101采样得到的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值一起进行统计，根据步骤S101和步骤S103采样得到的全部电压采样值计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值。例如，可以对全部x轴电压采样值和全部y轴电压采样值分别取平均值作为该触摸点的x轴电压值和y轴电压值，也可以对全部x轴电压采样值取中间值，对全部y轴电压采样值取中间值，分别作为该触摸点的x轴电压值和y轴电压值。具体计算方法可以根据实际应用的需要进行选择，此处不做限制。S104、根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。具体地，根据步骤S103得到的x轴电压值和y轴电压值，计算触摸点在触摸屏的位置坐标。需要说明的是，触摸点在触摸屏的位置坐标的计算完全依赖于x轴电压值和y轴电压值这两个电压AD值，若x轴电压值和y轴电压值这两个电压AD值可靠，则计算出的位置坐标就正确。在根据电压AD值计算触摸点的位置坐标时，可以按照电压AD值的取值范围将触摸屏划分为若干数据区域，具体数据区域的划分数量可以根据触摸屏的分辨率进行灵活的调节。以12位的电压AD值为例，如图2所示，在以触摸屏左上角为原点的二维坐标系中，可以将x轴和y轴按照电压AD值划分为八个区域，则每个区域的电压AD值分别为区域0(0～511)、区域1(512～1023)、区域2(1024～1535)、…、区域7(3584～4095)，则整个触摸屏可以划分为8*8即64个区域。根据当前的x轴电压值和y轴电压值，可以判断出该触摸点具体属于哪一个区域，进而计算出在该区域的具体位置坐标。通过本专利技术实施例的方法，当检测出触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域时，对该问题区域的触摸点通过增加采样点，执行时间复杂度较高的优化算法来确定触摸点的准确位置，而对触摸灵敏的正常区域可以仍然采用采样点较少的常本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触摸检测方法，其特征在于，所述触摸检测方法包括：若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值；根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。

【技术特征摘要】
1.一种触摸检测方法，其特征在于，所述触摸检测方法包括：若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值；根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。2.根据权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域包括：将所述n个x轴电压采样值划分成m1组，并计算每组x轴电压采样值的平均值，得到m1个x轴电压平均值，其中，所述m1为小于或者等于所述n的整数；将所述n个y轴电压采样值划分成m2组，并计算每组y轴电压采样值的平均值，得到m2个y轴电压平均值，其中，所述m2为小于或者等于所述n的整数；在所述m1个x轴电压平均值中，计算相邻两个所述x轴电压平均值的绝对差值，得到m1个x轴绝对差值；在所述m2个y轴电压平均值中，计算相邻两个所述y轴电压平均值的绝对差值，得到m2个y轴绝对差值；若在所述m1个x轴绝对差值中存在至少一个x轴绝对差值大于预设的x轴偏差阈值，或者在所述m2个y轴绝对差值中存在至少一个y轴绝对差值大于预设的y轴偏差阈值，则确认所述触摸点所在的位置属于所述问题区域。3.根据权利要求1或2所述的触摸检测方法，其特征在于，所述若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值包括：若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行p次电压值采样，得到p个x轴电压采样值和p个y轴电压采样值；对n+p个x轴电压采样值按照递增顺序进行排序；根据排序后的n+p个x轴电压采样值，将第个x轴电压采样值和第个x轴电压采样值的平均值确定为所述触摸点的x轴电压值；对n+p个y轴电压采样值按照递增顺序进行排序；根据排序后的n+p个y轴电压采样值，将第个y轴电压采样值和第个y轴电压采样值的平均值确定为所述触摸点的y轴电压值。4.根据权利要求2所述的触摸检测方法，其特征在于，所述在所述m2个y轴电压平均值中，计算相邻两个所述y轴电压平均值的绝对差值，得到m2个y轴绝对差值之后，所述触摸检测方法还包括：若所述m1个x轴绝对差值均小于或者等于所述x轴偏差阈值，并且所述m2个y轴绝对差值均小于或者等于所述y轴偏差阈值，则确认所述触摸点所在的位置不属于所述问题区域。5.根据权利要求4所述的触摸检测方法，其特征在于，若所述触摸点所在的位置不属于所述问题区域，则所述触摸检测方法还包括：根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标...

【专利技术属性】
技术研发人员：李文权，李志敏，
申请(专利权)人：深圳市亿维自动化技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44