一种ET测试的测试架及其制作方法技术

一种ET测试的测试架及其制作方法，包括两个部分，其一为测试架边框，用于固定在ET测试机上，其二为测试模块，所述测试模块通过底部固定于测试架边框上；所述测试架边框上等距设有一排螺丝孔，这样一个测试架边框可以拼接多种尺寸的测试模块，当一个测试架报废时，测试架边框可以重复利用。利用本发明专利技术，可避免由于所测PCB料号尺寸偏小导致测试架制作物料的浪费。

【技术实现步骤摘要】
一种ET测试的测试架及其制作方法
本专利技术涉及一种测试架及其制作方法，具体涉及一种PCBET测试的测试架及其制作方法。
技术介绍
在PCB电性测试中，测试架是PCB业内ET测试所用的测试治具，每一个测试架只能测试对应的PCB料号。因此，业内PCB厂都得根据不同客户不同型号制作大量的测试架，从而花费一定的人力、物力。现有的制作方法，所有测试架都根据ET测试机装接台面的需求制作为一种固定尺寸，而不同型号的板尺寸大小不一样，用同样尺寸制作小尺寸的板时，测试有效面积小，板材利用率较低。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种ET测试的测试架及其制作方法，避免由于所测PCB料号尺寸偏小导致测试架制作物料的浪费。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种ET测试的测试架，包括两个部分，其一为测试架边框，用于固定在ET测试机上，其二为测试模块，所述测试模块通过底部固定于测试架边框上；所述测试架边框上等距设有一排螺丝孔，这样一个测试架边框可以拼接多种尺寸的测试模块，当一个测试架报废时，测试架边框可以重复利用。所述ET测试的测试架的制作方法：在制作测试架时，除去制作测试架边框外，制作测试模块时只需要制作有效部分即可。测试架都是安装在ET测试机上进行测试，测试机测试台面尺寸大小是固定的，因此测试架的框架大小也是固定的。PCB料号尺寸大小是不一致的，有大有小。偏小的PCB料号制作测试架时势必会造成测试架物料的浪费。本专利技术在制作测试架时，除去制作测试架边框外，制作测试模块时只需要制作有效部分即可，这样则就可以节省一部分制作材料。附图说明图1为本专利技术之实施例ET测试的测试架的俯视图；图2为图1所示实施例的仰视图；图3为图1所示实施例的测试架边框的结构示意图。具体实施方式以下结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明。实施例参照图1-图3，本实施例之ET测试的测试架，包括两个部分，其一为测试架边框1，用于固定在ET测试机上，其二为测试模块2，所述测试模块2通过底部固定于测试架边框1上；所述测试架边框1上等距设有一排螺丝孔，这样一个测试架边框可以拼接多种尺寸的测试模块2，当一个测试架报废时，测试架边框1可以重复利用。所述ET测试的测试架的制作方法：在制作测试架时，除去制作测试架边框1外，制作测试模块2时只需要制作有效部分即可。利用本专利技术，可避免由于所测PCB料号尺寸偏小导致测试架制作物料的浪费。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ET测试的测试架，其特征在于：包括两个部分，其一为测试架边框，用于固定在ET测试机上，其二为测试模块，所述测试模块通过底部固定于测试架边框上；所述测试架边框上等距设有一排螺丝孔，这样一个测试架边框可以拼接多种尺寸的测试模块，当一个测试架报废时，测试架边框可以重复利用。

【技术特征摘要】
1.一种ET测试的测试架，其特征在于：包括两个部分，其一为测试架边框，用于固定在ET测试机上，其二为测试模块，所述测试模块通过底部固定于测试架边框上；所述测试架边框上等距设有一排螺丝孔，这样一个测试架边框可以...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊璐，程文君，李世清，
申请(专利权)人：奥士康科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43