一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，包括与模拟电压产生模块、电压检测模块、测试板模块、电源和双踪示波器；其中模拟电压产生模块、电压检测模块、测试板模块分别与待测模拟开关的输入端连接，其中待测模拟开关为多路通道模拟开关，待测模拟开关与电源连接，待测模拟开关的输出端还与双踪示波器连接；其中待测模拟开关的输出端还连接有负载电阻和负载电容。能够用来表征模拟开关在高速应用时切换通道的效率，能够提升模拟开关在高速、高精度相关技术领域的应用及发展，为该通用电路更好的服务现代高新电子产业发展做好支撑。

【技术实现步骤摘要】
一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置
本专利技术属于集成电路测试
，涉及一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，尤其是针对具有多路转换功能的模拟开关的测试。
技术介绍
模拟开关是一种应用广泛的通用电路，可采用CMOS、BiCMOS、JFET等工艺实现单路、多路、双向及数据选择等功能，多应用在信号转换选择领域，如音视频监控、工业控制等。随着前端环境感知、中端数据吞吐、后端信号处理能力的大幅提升，采用模拟开关进行系统设计时，设计者越来越关注模拟开关中涉及开关精度及速度的指标。现行92版国标所涵盖的测试项及测试方法只能满足旧工艺条件及早期模拟开关产品类型的测试要求，随着产品技术更迭，使得采用现有国标进行测试提取的参数，无法适用于主流高速、高精度应用。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，能够用来表征模拟开关在高速应用时切换通道的效率，能够提升模拟开关在高速、高精度相关
的应用及发展，为该通用电路更好的服务现代高新电子产业发展做好支撑。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：这种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，包括与模拟电压产生模块、电压检测模块、测试板模块、电源和双踪示波器；其中模拟电压产生模块、电压检测模块、测试板模块分别与待测模拟开关的输入端连接，其中待测模拟开关为多路通道模拟开关，待测模拟开关与电源连接，待测模拟开关的输出端还与双踪示波器连接；其中待测模拟开关的输出端还连接有负载电阻和负载电容。更进一步的，本专利技术的特点还在于：其中负载电阻的阻值为1kΩ，负载电容的电容值为35pF。其中双踪示波器的A端口与测试板模块的控制端连接，双踪示波器的B端口与待测模拟开关的信号输出端连接。其中模拟电压产生模块与待测模拟开关的第一路通道和最后一路通道连接。其中测试板模块与待测模拟开关的最后一路通道连接。其中测试板模块的其他路通道接地。其中待测模拟开关的通道转换无效输出时间为待测模拟开关(4)输出信号变化10％幅值至恢复输出信号90％幅值之间的时间。本专利技术的有益效果是：通过对待测模拟开关选通通路的信号切换，追踪输出端电压的变化，从而测试出模拟开关通大转换无效输出时间，进而表征模拟开关在高速应用时切换通道的效率，该装置能够满足对待测模拟开关相关指标的测试，还能够覆盖国际规定的其他测试项的测试，使用该测试装置，能够最大程度的降低开发专用的测试系统的开发成本；提高了模拟开关在高速、高精度相关
的应用和发展，为该通用电路更好的服务现代高新电子产业发展做好支撑。本专利技术的装置，相较于常规模拟开关的高速、高精度类指标测试装置，降低了测试装置的开发成本和周期，不依赖测试信号链路的高精度控制及匹配，最大程度发掘模拟开关在高速、高精度应用领域的性能。本专利技术的装置，在通路转换控制信号完成信号转换之后，模拟开关输出信号变化10％幅值至恢复输出信号90％幅值之间的时间间隔，其参数即为模拟开关通道转换无效输出时间，该测试过程提取参数的方式简单，直观，对测试装置精度及信号链路的完整性要求低，易于实现。附图说明图1为本专利技术的结构示意图。其中：1为模拟电压产生模块；2为电压检测模块；3为测试板模块；4为待测模拟开关；5为电源；6为双踪示波器。具体实施方式下面结合附图对本专利技术做进一步详细描述：本专利技术提供了一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，如图1所示，包括待测模拟开关4，待测模拟开关4按照电学要求与电源5连接，电源5使待测模拟开关4正常工作；模拟电压产生模块1通过电压检测模块2与待测模拟开关4的第一路通道和最后一路通道的输入端口连接，待测模拟开关4的其他路通道的输入端口接地；测试板模块与待测模拟开关4连接，且待测模拟开关4发送选通开关控制信号，从而使待测模拟开关4选通通路由第一路切换至最后一路；双踪示波器6的A端口接入测试板模块3的控制信号端，双踪示波器6的B端口接如待测模拟开关4的信号输出端，待测模拟开关4的输出端还连接有负载电阻和负载电容，其中负载电阻的阻值为1kΩ，负载电容的电容值为35pF。本专利技术的装置测试的待测模拟开关的工作频率不高于6GHZ，该装置正常工作时，当双踪示波器6显示取通路转换控制信号完成信号转换后，模拟开关输出信号变化10％幅值至恢复输出信号90％幅值之间的时间间隔，其参数即为模拟开关通道转换无效输出时间。本专利技术基于待测模拟开关的通道转换无效时间的具体测试装置的实施例是：待测模拟开关选择4路选通型模拟开关ADG408BRUZ；将模拟开关的供电端口分别接入5V电源及地；并且设定模拟电压产生模块1产生2V恒定电压并且接入模拟开关的第一路和第四路通路的信号输入端，模拟开关的第二路和第三路通路的信号输入端接地，电压检测模块接入第一路通路的信号输入端，监控输入信号情况；将模拟开关的输出端并联1kΩ负载电阻、35pF负载电容后与双踪示波器6的B端口连接；配置测试板模块3使其产生选通开关控制信号，并且与模拟开关连接，控制信号控制模拟开关由第一路选通跳变至第四路选通，并且将双踪示波器6的A端口与测试板模块3的控制信号线连接。选取模拟开关输出信号变化10％幅值至恢复输出信号90％幅值之间的时间间隔topen，即为模拟开关通道转换无效时间。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，其特征在于，包括与模拟电压产生模块(1)、电压检测模块(2)、测试板模块(3)、电源(5)和双踪示波器(6)；所述模拟电压产生模块(1)、电压检测模块(2)、测试板模块(3)分别与待测模拟开关(4)的输入端连接，其中待测模拟开关(4)为多路通道模拟开关，待测模拟开关(4)与电源(5)连接，待测模拟开关(4)的输出端还与双踪示波器(6)连接；所述待测模拟开关(4)的输出端还连接有负载电阻和负载电容。

【技术特征摘要】
1.一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，其特征在于，包括与模拟电压产生模块(1)、电压检测模块(2)、测试板模块(3)、电源(5)和双踪示波器(6)；所述模拟电压产生模块(1)、电压检测模块(2)、测试板模块(3)分别与待测模拟开关(4)的输入端连接，其中待测模拟开关(4)为多路通道模拟开关，待测模拟开关(4)与电源(5)连接，待测模拟开关(4)的输出端还与双踪示波器(6)连接；所述待测模拟开关(4)的输出端还连接有负载电阻和负载电容。2.根据权利要求1所述的测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，其特征在于，所述负载电阻的阻值为1kΩ，负载电容的电容值为35pF。3.根据权利要求1所述的测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，其特征在于，所述双踪示波器(6)的A端口与...

【专利技术属性】
技术研发人员：张冰，
申请(专利权)人：西安微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：陕西,61