状态模拟电路和USB‑C接口测试方法技术

本发明专利技术公开了一种状态模拟电路和USB‑C接口测试方法。其中，状态模拟电路包括：对外接口，用于连接待测产品的USB‑C接口，对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口，CC1测试接口和CC2测试接口用于连接测试设备，CC1测试接口与USB‑C接口的第一配置通道CC1相连接，CC2测试接口与USB‑C接口的第二配置通道CC2相连接；至少一个上拉电路，每个上拉电路的第一端与CC1测试接口或CC2测试接口相连接，每个上拉电路的第二端与第一外部电源相连接，至少一个上拉电路用于使USB‑C接口的配置通道处于UFP模式的预设状态以使测试设备测试USB‑C接口处于UFP模式的预设状态下的电参数。本发明专利技术解决了如何快速检测USB‑C接口处于UFP模式下的配置通道功能的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
状态模拟电路和USB-C接口测试方法
本专利技术涉及测试领域，具体而言，涉及一种状态模拟电路和USB-C接口测试方法。
技术介绍
随着通用串行总线(UniversalSerialBus，简称USB)技术的广泛运用，USB的更新换代也越来越频繁，USBType-C(简称USB-C)作为新的USB产品类型，如何快速检测USB-C产品的USB-C接口的配置通道(ConfigurationChannel，简称CC)处于UFP(UpstreamFacingPort，上行端口)模式下的功能成为本领域的一个技术瓶颈。针对如何快速检测USB-C接口处于UFP模式下的配置通道功能的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种状态模拟电路和USB-C接口测试方法，以至少解决如何快速检测USB-C接口处于UFP模式下的配置通道功能的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种状态模拟电路，状态模拟电路用于使待测产品的USB-C接口处于UFP模式的预设状态下，状态模拟电路包括：对外接口，用于连接待测产品的USB-C接口，对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口，CC1测试接口和CC2测试接口用于连接测试设备，CC1测试接口与USB-C接口的第一配置通道CC1相连接，CC2测试接口与USB-C接口的第二配置通道CC2相连接；至少一个上拉电路，每个上拉电路的第一端与CC1测试接口或CC2测试接口相连接，每个上拉电路的第二端与第一外部电源相连接，至少一个上拉电路用于使USB-C接口的配置通道处于UFP模式的预设状态以使测试设备测试USB-C接口处于UFP模式的预设状态下的电参数。进一步地，每个上拉电路的第一端和第二端之间串联有开关和上拉电阻，状态模拟电路中的每个开关用于控制对应的上拉电路的第一端和第二端之间电路的通断以使USB-C接口处于对应的预设状态。进一步地，至少一个上拉电路分为第一组上拉电路和第二组上拉电路，其中：第一组上拉电路中的每个上拉电路的第一端连接至CC1测试接口，且第一组上拉电路中每个上拉电路的上拉电阻的等效阻值均不相同；第二组上拉电路中的每个上拉电路的第二端连接至CC2测试接口，且第二组上拉电路中每个上拉电路的上拉电阻的等效阻值均不相同。进一步地，状态模拟电路还包括：外部电源接口，用于连接第一外部电源，外部电源接口与每个上拉电路的第二端相连接；接地接口，用于连接第二外部电源或测试设备的地，接地接口为状态模拟电路的接地端。进一步地，USB-C接口还包括VBUS通道，对外接口还引出VBUS测试接口以与VBUS通道相连接。进一步地，对外接口包括一个公头对外接口和一个母头对外接口，公头对外接口和母头对外接口之间连接有CC1信号线和CC2信号线，其中，CC1信号线与USB-C接口的第一配置通道CC1相连接且CC1测试接口从CC1信号线上引出，CC2信号线与USB-C接口的第二配置通道CC2相连接且CC2测试接口从CC2信号线上引出。进一步地，公头对外接口和母头对外接口之间还连接有VBUS信号线，其中，VBUS信号线与USB-C接口的VBUS通道相连接，状态模拟电路还包括VBUS测试接口，VBUS测试接口从VBUS信号线上引出。进一步地，状态模拟电路设置在电路板上。进一步地，状态模拟电路中的每个接口均在电路板上设置一个公头接口和一个母头接口。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种USB-C接口测试方法，该方法包括：在状态模拟电路中的对外接口接入USB-C接口的情况下，通过对外接口接收待测产品发送的上行信号；通过配置本专利技术的状态模拟电路使USB-C接口的第一配置通道和第二配置通道处于UFP模式的预设状态；分别采集第一配置通道的电参数和第二配置通道的电参数；判断第一配置通道的电参数和第二配置通道的电参数是否符合预设条件以检测USB-C接口的配置通道功能。在本专利技术实施例中，通过状态模拟电路使待测产品的USB-C接口的配置通道处于UFP模式的预设状态下，以使与状态模拟电路的测试接口相连接的测试设备测试USB-C接口处于UFP模式的预设状态下的电参数，解决了如何快速检测USB-C接口处于UFP模式下的配置通道功能的技术问题，进而实现了快速对USB-C产品的接口的配置通道功能的技术效果。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是根据本专利技术实施例的一种可选的状态模拟电路的示意图；图2是根据本专利技术实施例的另一种可选的状态模拟电路的示意图；图3是根据本专利技术实施例的一种可选的USB-C接口测试方法的流程图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种状态模拟电路。该状态模拟电路用于使相连的USB-C接口处于上行端口(UFP)模式。而USB-C接口可能具有多种状态，该状态模拟电路可以使USB-C接口处于预设状态。图1是根据本专利技术实施例的一种可选的状态模拟电路的示意图，如图1所示，该状态模拟电路包括：对外接口10，CC1测试接口21，CC2测试接口22，至少一个上拉电路30。对外接口用于连接待测产品的USB-C接口，对外接口可以是公头或母头，可选地，该实施例中的状态模拟电路可以包括一个公头对外接口和一个母头对外接口，以便于连接不同形式接口的产品。对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口，CC1测试接口与USB-C接口的第一配置通道CC1相连接，CC2测试接口与USB-C接口的第二配置通道CC2相连接。CC1测试接口和CC2测试接口可以用于连接测试设备，使测试设备测试USB-C接口的第一配置通道CC1和第二配置通道CC2的电参数。至少一个上拉电路可以包括如图1中所示的上拉电路31和上拉电路31，每个上拉电路的第一端与CC1测试接口或CC2测试接口相连接，上拉电路31与CC1测试接口相连接，上拉电路32与CC2测试接口相连接。每个上拉电路的第二端与第一外部电源相连接，第一外部电源是上拉电源，可以使得第一配置通道CC1和第二配置通道CC2处于UFP模式。至少一个上拉电路用于使USB-C接口的配置通道处于预设状态。USB-C接口可能包括多种状态，例如，未连接设备、连接1.5A@5V的设备等等。至少一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种状态模拟电路，其特征在于，所述状态模拟电路包括：对外接口，用于连接所述待测产品的USB‑C接口，所述对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口，所述CC1测试接口和所述CC2测试接口用于连接测试设备，所述CC1测试接口与所述USB‑C接口的第一配置通道CC1相连接，所述CC2测试接口与所述USB‑C接口的第二配置通道CC2相连接；至少一个上拉电路，每个所述上拉电路的第一端与所述CC1测试接口或所述CC2测试接口相连接，每个所述上拉电路的第二端与第一外部电源相连接，所述至少一个上拉电路用于使所述USB‑C接口的配置通道处于预设状态以使所述测试设备测试处于所述UFP模式的所述USB‑C接口在所述预设状态下的电参数。

【技术特征摘要】
1.一种状态模拟电路，其特征在于，所述状态模拟电路包括：对外接口，用于连接所述待测产品的USB-C接口，所述对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口，所述CC1测试接口和所述CC2测试接口用于连接测试设备，所述CC1测试接口与所述USB-C接口的第一配置通道CC1相连接，所述CC2测试接口与所述USB-C接口的第二配置通道CC2相连接；至少一个上拉电路，每个所述上拉电路的第一端与所述CC1测试接口或所述CC2测试接口相连接，每个所述上拉电路的第二端与第一外部电源相连接，所述至少一个上拉电路用于使所述USB-C接口的配置通道处于预设状态以使所述测试设备测试处于所述UFP模式的所述USB-C接口在所述预设状态下的电参数。2.根据权利要求1所述的状态模拟电路，其特征在于，每个所述上拉电路的第一端和第二端之间串联有开关和上拉电阻，所述状态模拟电路中的每个所述开关用于控制对应的上拉电路的第一端和第二端之间电路的通断以使所述USB-C接口处于对应的预设状态。3.根据权利要求2所述的状态模拟电路，其特征在于，所述至少一个上拉电路分为第一组上拉电路和第二组上拉电路，其中：所述第一组上拉电路中的每个上拉电路的第一端连接至所述CC1测试接口，且所述第一组上拉电路中每个上拉电路的上拉电阻的等效阻值均不相同；所述第二组上拉电路中的每个上拉电路的第二端连接至所述CC2测试接口，且所述第二组上拉电路中每个上拉电路的上拉电阻的等效阻值均不相同。4.根据权利要求1所述的状态模拟电路，其特征在于，所述状态模拟电路还包括：外部电源接口，用于连接所述第一外部电源，所述外部电源接口与每个所述上拉电路的第二端相连接；接地接口，用于连接第二外部电源或所述测试设备的地，所述接地接口为所述状态模拟电路的接地端。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：李金秀，
申请(专利权)人：硅谷数模半导体北京有限公司，硅谷数模国际有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11