【技术实现步骤摘要】
大型零件化学铣削切割非接触在线检测方法
本专利技术属于激光测量
,涉及一种测量大型零件化铣切割质量的非接触性在线检测方法。
技术介绍
在飞机制造工艺中,需要对机身等零部件进行化学铣削,然后将化铣件进行切边处理,使其达到规定的技术及精度要求,满足装配条件。在零件化学铣削之后,将零件放在切边机床上按照设计要求对边缘部分进行切割,零件边缘质量的好坏直接影响零件的外形尺寸,从而影响飞机的装配质量,因此零件切割位置的准确性对飞机的质量非常重要。通过轮廓切割位置测量数据的分析,可获得实际加工位置与理论数模的偏差大小,同时为加工过程中的偏差分析提供数据依据,有效调整加工中运动偏差。经文献检索,中国专利技术专利号:CN201210153987.1,卢科青等人的专利技术专利“基于影像复合的薄片零件轮廓自动检测测头与检测方法”提出了一种基于影像复合的薄片零件轮廓自动检测测头与检测方法。该方法在测量过程中将放大倍数不同的三个照相机镜头安装在镜头转换器上,先将低倍镜头转换至工作位置,由CCD照相机获取薄片零件的全景图像,并提取零件轮廓;然后由路径规划模块根据零件整体轮廓分布情况规划二次测量路径;接着将高倍镜头转换至工作位置,由CCD照相机按二次测量路径对薄片零件的轮廓分区域进行精确测量;最后以二次测量获得的数据作为最终的检测结果。该方法装置结构简单,能实现复杂形状薄片零件的自动化检测,但由于安装在三坐标测量仪上,无法对飞机的大型零件边界进行检测,并需要对路径进行规划,效率较低,无法对正在加工中的零件进行实时检测。
技术实现思路
本专利技术为克服现有技术的缺陷,专利技术一种大型零 ...
【技术保护点】
大型零件化学铣削切割非接触在线检测方法,其特性是,检测方法将双目视觉系统集成在机床的横梁上,通过调节双目视觉系统的位姿测得多种大型零件边界的数据;分别对双目摄像机内外参数、T‑Mac位姿进行标定,通过T‑Mac得到运动的双目视觉系统局部坐标系和静止的激光跟踪仪全局坐标系之间的转换关系,实现全局坐标实时统一;采集测量数据,对数据进行零件边界结构特征点提取处理,得到零件边界的局部三维信息;将局部测量数据统一到全局坐标系下,实现整体三维信息的测量与重建;方法的具体步骤如下:第一步将双目视觉系统集成在机床的横梁上将上横向导轨(1)通过两端的左、右固定块(2A、2B)用螺母紧固后安装在机床的横梁上,再将下横向导轨(3)也通过两端的左、右固定块(2A、2B)用螺母紧固后安装在上横向导轨(1)下面;纵向导轨(6)上端由固定块(4)固定在上、下横向导轨(1、3)上,纵向导轨(6)下端通过连接块(5)与联接板(9)连接;搭建小型双目视觉集成系统的集成箱(7);首先将激光器(11)与转台(12)通过螺套连接在一起,再将转台(12)通过四个螺栓固定在集成箱(7)的底部中心;将左、右摄像机(10A、10B)安 ...
【技术特征摘要】
1.大型零件化学铣削切割非接触在线检测方法,其特性是,检测方法将双目视觉系统集成在机床的横梁上,通过调节双目视觉系统的位姿测得多种大型零件边界的数据;分别对双目摄像机内外参数、T-Mac位姿进行标定,通过T-Mac得到运动的双目视觉系统局部坐标系和静止的激光跟踪仪全局坐标系之间的转换关系,实现全局坐标实时统一;采集测量数据,对数据进行零件边界结构特征点提取处理,得到零件边界的局部三维信息;将局部测量数据统一到全局坐标系下,实现整体三维信息的测量与重建;方法的具体步骤如下:第一步将双目视觉系统集成在机床的横梁上将上横向导轨(1)通过两端的左、右固定块(2A、2B)用螺母紧固后安装在机床的横梁上,再将下横向导轨(3)也通过两端的左、右固定块(2A、2B)用螺母紧固后安装在上横向导轨(1)下面;纵向导轨(6)上端由固定块(4)固定在上、下横向导轨(1、3)上,纵向导轨(6)下端通过连接块(5)与联接板(9)连接;搭建小型双目视觉集成系统的集成箱(7);首先将激光器(11)与转台(12)通过螺套连接在一起,再将转台(12)通过四个螺栓固定在集成箱(7)的底部中心;将左、右摄像机(10A、10B)安装在激光器(11)的两侧,并用螺栓固定在集成箱(7)底部;最后将集成系统箱(7)与T-Mac(8)通过通孔用螺母装配连接在一起;通过联接板(9)安装到纵向导轨(6)上;第二步对测量系统进行标定首先采用张氏标定方法对双目视觉系统的左、右摄像机的内参数进行标定,然后,在现场测量安装好激光跟踪仪,利用激光跟踪仪标定双目摄像机的外参数;并进行T-Mac与视觉系统的标定,最终使在每一个测量位置拍摄时重建的测量结果都在激光跟踪仪的测量坐标系下;第三步图像目标信息的获取针对被检测零件化铣边界结构特征的精密检测,基于光条位置突变进行边界特征点的识别;首先获取准确的光条中心位置Pj,定义其坐标值为(x,f(x)),提取光条;定义f(x)的一阶离散导数最大值与二阶离散导数为零的位置为结构边界特征点;建立理想光条中心位置特征点模型为:f(x)=(b2-b1)u(x-x0)+q1x+b1(1)其中,u(x-x0)为理想阶跃函数,b1,b2不同结构表面光条中心线方程截距参数,q1为光条中心线斜率;x0为光条中心线曲率突变位置,即被测物理论边界特征点;对提取得到的光条中心位置坐标值(x,f(x))进行离散求导计算,其中,m为第m个离散点,i为m点之后的其他点;一阶导数最大值所对应的行坐标v0为目标初始结构边界行坐标,定义其对应的光条中心列坐标f(v0)为目标初始结构边界列坐标值,得到目标初始结构边界特征点坐标为(v0,f(v0));再进行边界精定位,令一维理...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘巍,张致远,兰志广,张洋,赵海洋,叶帆,马建伟,贾振元,
申请(专利权)人:大连理工大学,
类型:发明
国别省市:辽宁,21
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