温度检测电路制造技术

本发明专利技术提供一种温度检测电路，包括能带隙电压产生电路以及偏置调整电路。能带隙电压产生电路依据偏压电压来产生参考电压。能带隙电压产生电路并具有分压电路，分压电路针对参考电压进行分压并产生多个输出电压。偏置调整电路包括电流源以及电阻串。电流源提供参考电流。电阻单元接收参考电流并产生多个调整后输出电压。其中，参考电流的电流值与各电阻单元的电阻值的至少其中之一被提供以进行调整，并藉以使电流源的输出端上的电压实质上等于参考电压及输出电压的其中之一。本发明专利技术的温度检测电路能够提升温度侦测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
温度检测电路
本专利技术涉及一种温度检测电路，尤其涉及一种可补偿参考电压偏置的温度检测电路。
技术介绍
在现今的集成电路中，在很多的应用上，需要在芯片上设置温度检测电路。例如，通过温度检测电路来检测温度是否过热以启动电路的过热保护机制，并藉以确保电路的工作效能。在已知的
中，常利用提供与温度无关的参考电压，并在电路中设置与温度有关的电路元件。这些与温度有关的电路元件，其电性参数可以是具有正温度系数，或也可以具有负温度系数。再通过电路元件所提供随温度变化的电性参数(例如电压)来与与温度无关的参考电压相比较，就可以检测出当时的温度。然而，请参照图1显示的已知技术的温度检测波形图。在已知的
中，参考电压Vref可能产生一定的范围的偏置(如虚线的范围)，而与温度有关的电路元件所提供的电压V1～V3也可能发生同样的状态，如此一来，会使参考电压Vref与电压V1～V3的比较结果产生一定的误差，而导致温度检测的不准确。
技术实现思路
本专利技术提供一种温度检测电路，可补偿因作为基准的参考电压产生偏置时所造成的误差。本专利技术的温度检测电路，包括能带隙电压产生电路以及偏置调整电路。能带隙电压产生电路依据偏压电压来产生参考电压。能带隙电压产生电路并具有分压电路，分压电路针对参考电压进行分压并产生多个输出电压。偏置调整电路耦接能带隙电压产生电路。偏置调整电路包括电流源以及电阻串。电流源提供参考电流。电阻串耦接电流源的输出端，并具有串接的多个电阻单元。电阻单元接收参考电流并产生多个调整后输出电压。其中，参考电流的电流值与各电阻单元的电阻值的至少其中之一被提供以进行调整，并藉以使电流源的输出端上的电压实质上等于参考电压及输出电压的其中之一。基于上述，本专利技术通过提供偏置调整电路中的参考电流的电流值与各电阻单元的电阻值的至少其中之一以进行调整，如此一来，在参考电压因各种可能的原因所产生的偏置时，所产生的温度检测的误差可以有效的得到补偿，提升温度检测的准确性。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。附图说明图1显示的已知技术的温度检测波形图；图2显示本专利技术一实施例的温度检测电路的示意图；图3显示本专利技术另一实施例的温度检测电路的示意图；图4显示本专利技术再一实施例的温度检测电路的示意图；图5显示本专利技术实施例的偏置调整电路中的电流源的一实施方式；图6A～图6C显示本专利技术实施例的电阻单元的实施方式。附图标记：Vref：参考电压V1～V3：电压200、300、400：温度检测电路210、310、410：带隙电压产生电路220、320、420：偏置调整电路211、311、411：分压电路VBG1～VBG(N-1)：输出电压GND：参考接地端RBG1～RBG(N)：电阻单元221、321、421、500：电流源222、322、422：电阻串VCT1～VCT(N)：调整后输出电压VTN、VA1、VA2：电压312、412：电流生成器OP：操作放大器RU1、RU2：参考电阻D1～D4：二极管VB：偏压电压I1～I3：电流R11、R12：电阻VDD：电源电压M1～M3、M4、M41、M51：晶体管M52～M54：辅助晶体管F1～F3、610、620：熔丝单元Iref：参考电流RGBx、RCTx：电阻单元RB1～RB2、RC1～RC5：单位电阻RC11、RC21、RC31、RC41、RC51：单位电阻RC12、RC22、RC32、RC42、RC52：单位电阻具体实施方式以下请参照图2，图2显示本专利技术一实施例的温度检测电路的示意图。温度检测电路200包括能带隙电压产生电路210以及偏置调整电路220。能带隙电压产生电路210依据偏压电压VB来产生参考电压Vref。能带隙电压产生电路210并具有分压电路211，分压电路211接收参考电压Vref，并通过针对参考电压Vref进行分压来产生多个输出电压VBG1～VBG(N-1)。在本实施例中，分压电路211包括多个电阻单元RBG1～RBG(N)，其中，电阻单元RBG(N)至RBG1依序串接在能带隙电压产生电路210产生参考电压Vref的端点以及参考接地端GND间。在另一方面，偏置调整电路220耦接至能带隙电压产生电路210。偏置调整电路220包括电流源221以及电阻串222。其中，电流源221依据偏压电压VB来产生参考电流。电阻串222则耦接至电流源221的输出端来接收电流源221所提供的参考电流。电阻串222由串接的多个电阻单元RCT1～RCT(N)所构成，其中，电阻串222依据所接收的参考电流在相邻的两电阻单元RCT1～RCT(N)相互耦接的节点上产生调整后输出电压VCT1～VCT(N)。通过将调整后输出电压VCT1～VCT(N)与预设的标准数值进行比较，就可以精准的检测出目前芯片上的温度。请注意，在本实施例中，电流源221所提供的参考电流的电流值以及电阻单元RCT1～RCT(N)的电阻值中的至少其中之一是可以被调整的。并且，在当参考电压Vref发生偏置的情况下，通过调整电流源221所提供的参考电流的电流值以及电阻单元RCT1～RCT(N)的电阻值中的至少其中之一，来调整电流源221以及电阻串222耦接的端点上的电压VTN，并使电压VTN实质上等于参考电压Vref及输出电压VBG1～VBG(N-1)的其中之一，如此，参考电压Vref偏置所造成的误差可以获得补偿。关于电流源221所提供的参考电流的电流值以及电阻单元RCT1～RCT(N)的电阻值的调整动作，在本专利技术实施例中，皆可应用校正(trim)的技术来完成。也就是说，本专利技术实施例仅需通过单次的校正动作，就可完成温度检测电路200的补偿动作。请参照图3，图3显示本专利技术另一实施例的温度检测电路的示意图。温度检测电路300包括能带隙电压产生电路310以及偏置调整电路320。能带隙电压产生电路310包括分压电路311、电流生成器312、操作放大器OP、参考电阻RU1及RU2以及二极管D1～D3。操作放大器OP的正、负输入端分别接收电压VA2以及VA1，并在输出端产生偏压电压VB。电流生成器312耦接至操作放大器OP并接收偏压电压VB，电流生成器312依据偏压电压VB产生电流I1～I3。参考电阻RU1、RU2分别接收电流I1及I2并串接在电流生成器312与参考接地端GND间。通过电流I1及I2，参考电阻RU1、RU2耦接电流生成器312的端点分别产生电压VA1以及VA2。参考电阻RU2由两个电阻R11、R12串接而成，其中，电阻R11的电阻值可以与参考电阻RU1的电阻值相同。也就是说，参考电阻RU2的电阻值大于参考电阻RU1的电阻值。另外，二极管D1以及D2的阳极分别接收电流I1及I2，二极管D1以及D2的阴极耦接至参考接地端GND。电流I3被提供至分压电路311，并在分压电路311与电流生成器312耦接的端点上产生参考电压Vref。分压电路311另耦接至二极管D3的阳极，二极管D3的阴极耦接至参考接地端。分压电路311包括多个串接的电阻单元RBG1～RBG(N)。分压电路311针对参考电压Vref进行分压并产生多个输出电压VBG1～VBG(N-1)。另外，在本实施例中，电流生成器312包括晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种温度检测电路，其特征在于，包括：能带隙电压产生电路，依据偏压电压来产生参考电压，该能带隙电压产生电路并具有分压电路，该分压电路针对该参考电压进行分压并产生多个输出电压；以及偏置调整电路，耦接该能带隙电压产生电路，包括：电流源，提供参考电流；以及电阻串，耦接该电流源的输出端，并具有串接的多个电阻单元，所述多个电阻单元接收该参考电流并产生多个调整后输出电压，其中，该参考电流的电流值与各该电阻单元的电阻值的至少其中之一被提供以进行调整，并藉以使该电流源的输出端上的电压实质上等于该参考电压及所述多个输出电压的其中之一。

【技术特征摘要】
1.一种温度检测电路，其特征在于，包括：能带隙电压产生电路，依据偏压电压来产生参考电压，该能带隙电压产生电路并具有分压电路，该分压电路针对该参考电压进行分压并产生多个输出电压；以及偏置调整电路，耦接该能带隙电压产生电路，包括：电流源，提供参考电流；以及电阻串，耦接该电流源的输出端，并具有串接的多个电阻单元，所述多个电阻单元接收该参考电流并产生多个调整后输出电压，其中，该参考电流的电流值与各该电阻单元的电阻值的至少其中之一被提供以进行调整，并藉以使该电流源的输出端上的电压实质上等于该参考电压及所述多个输出电压的其中之一。2.根据权利要求1所述的温度检测电路，其特征在于，该电流源包括：晶体管，其第一端接收电源电压，其第二端耦接至该电阻串，且其控制端接收该偏压电压。3.根据权利要求2所述的温度检测电路，其特征在于，该电流源还包括：至少一辅助晶体管，其第一端接收该电源电压，其第二端耦接至该电阻串，且其控制端接收该偏压电压；以及至少一熔丝单元，串接在该辅助晶体管接收该电源电压的路径间或串接在该辅助晶体管耦接至该电阻串的路径间，其中，该熔丝单元被切断或被导通以调整该电流源所提供的电流值大小。4.根据权利要求1所述的温度检测电路，其特征在于，各所述多个电阻单元包括多个单位电阻，所述多个单位电阻相互串接，且所述多个单位电阻的电阻值相等。5.根据权利要求4所述的温度检测电路，其特征在于，各所述多个电阻单元还包括：至少一熔丝单元，其中该熔丝单元的一端耦接至所述多个单位电阻其中之一受调整电阻的一端，该熔丝单元的另一端耦接至该受调整电阻的另一端。6.根据权利要求1所述的温度检测电路，其特征在于，该偏置调整电路还包括：二极管，其阴极耦接至参考接地电压，其阳极耦接至该电阻串。7.根据权利要求1所述的温度检测电路，其特征在于，该能带隙电压产生电路还包括：操作放大器，其负输入端接收第一电压，其正输入端接收第二电压，其输...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋汝安，
申请(专利权)人：华邦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71