一种面板缺陷位置的偏移补偿方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，首先获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标，然后将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比，将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比，均满足条件时，即第一对比结果小于预设的第一阈值，第二对比结果小于预设的第二阈值时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值，根据该坐标偏差值进行补偿，其中第一阈值和第二阈值分别根据允许误差来合理设置，该方案可及时修正上游设备及修补设备坐标偏差，避免了人工查找带来的缺陷，提高了面板缺陷位置定位的准确性，提高了补偿的及时性，从而提高了面板修补的产能。

【技术实现步骤摘要】
一种面板缺陷位置的偏移补偿方法、装置及系统
本专利技术涉及面板检测领域，具体涉及一种面板缺陷位置的偏移补偿方法及装置。
技术介绍
近年来，显示技术快速发展，对显示面板的要求也越来越高。然而，现有的显示面板的制造技术，无法完全避免显示缺陷的发生，因此在面板的生成过程中，对面板缺陷的检测至关重要。对于存在缺陷的面板，为了避免浪费、节约资源，不是将存在缺陷的面板全部淘汰，而是采用修补设备对存在缺陷的面板产品进行修补，从而有效挽救产品的良率。修补设备的修补成功率及修补效率是面板生产过程中的关键因素，在实际使用修补设备的过程中，上游设备传过来的缺陷坐标信息与修补设备坐标系存在一定偏差，作业人员需要人工检查后才能找到需要实施修补的缺陷位置，然后再进行修补，这种方式不仅需要花费较多的时间，人工检查也容易导致定位不准确的缺陷，因此使得修补设备的产能低下。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的技术问题在于现有技术的面板修补过程中上游设备和修补设备的坐标存在误差。为此，本专利技术提供一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，包括如下步骤：获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。优选地，当所述第一对比结果不满足第一条件时，则对自动光学检测设备进行故障排查。优选地，当所述第二对比结果不满足第二条件时，则对修补设备进行故障排查。优选地，根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿的步骤，包括：将所述坐标偏差值写入到所述自动光学检测设备的DFS文件中。优选地，所述总间距测量设备为TP设备。此外，本专利技术还提供一种面板缺陷位置的偏移补偿装置，包括：坐标获取单元，用于获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；第一比较单元，用于将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；第二比较单元，用于将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；缺陷坐标计算单元，用于当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；补偿单元，用于根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。优选地，还包括第一故障排查单元，用于当所述第一对比结果不满足第一条件时，则对自动光学检测设备进行故障排查。优选地，还包括第二故障排查单元，用于当所述第二对比结果不满足第二条件时，则对修补设备进行故障排查。优选地，所述补偿单元包括补偿子单元，用于将所述坐标偏差值写入到所述自动光学检测设备的DFS文件中。此外，本专利技术还提供一种面板缺陷位置的偏移补偿系统，包括总间距测量设备，用于识别第一缺陷坐标；自动光学检测设备，用于识别第二缺陷坐标；修补设备，用于识别第三缺陷坐标；所述的偏移补偿装置，与所述获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别连接，用于对面板缺陷位置进行补偿。本专利技术技术方案，具有如下优点：本专利技术提供的面板缺陷位置的偏移补偿方法，首先获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标，然后将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比，将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比，均满足条件时，即第一对比结果小于预设的第一阈值，第二对比结果小于预设的第二阈值时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值，根据该坐标偏差值进行补偿，其中第一阈值和第二阈值根据AOI设备和修补设备的允许误差合理设置，该方案可以及时修正上游设备及修补设备坐标偏差，避免了人工查找带来的缺陷，提高了面板缺陷位置定位的准确性，提高了补偿的及时性，从而提高了面板修补的产能。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例1中面板缺陷位置的偏移补偿方法的一个具体示例的流程图；图2为本专利技术实施例2中面板缺陷位置的偏移补偿装置的一个具体示例的结构框图；图3为本专利技术实施例3中面板缺陷位置的偏移补偿系统的一个具体示例的结构示意图。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。实施例1本实施例中提供一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，用于修正面板缺陷位置的坐标，该方法可以设置在CIM系统中，CIM全称为ComputerIntegratedManufacturing,即计算机集成制造系统，是指在所有与生产有关企业部门中集成地用电子数据处理的系统，该面板缺陷位置的偏移补偿方法包括如下步骤：S1、获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标。总间距测量设备，简称TP设备是用于测量阵列图形形变量的设备，其中TP是TotalPitch的缩写，TotalPitch是指在面板制造工序中产生的、玻璃基板上两点之间距离的变化。TP设备可以测量上述TotalPitch，TP设备的测量精度比较高，使用TP设备获得的缺陷位置的坐标作为第一缺陷坐标。自动光学检测设备(AOI设备)是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备，也可以得到一个缺陷坐标，作为第二缺陷坐标。修补设备(Repair设备)是用于进行修补校正的设备，也对应一个缺陷坐标，作为第三缺陷坐标。S2、将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件，第一条件为第一对比结果是否小于预设的第一阈值Spec1，如果不小于执行S6，如果满足该条件(即第一对比结果小于预设的第一阈值)且满足S3的条件时执行S4。此处的第一阈值Spec1是预先设定的一个数值，第一缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，其特征在于，包括如下步骤：获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。

【技术特征摘要】
1.一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，其特征在于，包括如下步骤：获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。2.根据权利要求1所述的偏移补偿方法，其特征在于，还包括，当所述第一对比结果不满足第一条件时，则对自动光学检测设备进行故障排查。3.根据权利要求2所述的偏移补偿方法，其特征在于，还包括，当所述第二对比结果不满足第二条件时，则对修补设备进行故障排查。4.根据权利要求3所述的偏移补偿方法，其特征在于，根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿的步骤，包括：将所述坐标偏差值写入到所述自动光学检测设备的DFS文件中。5.根据权利要求1或2或3或4所述的偏移补偿方法，其特征在于，所述总间距测量设备为TP设备。6.一种面板缺陷位置的偏移补偿装置，其特征在于，包括：坐标获取单元，用于获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷...

【专利技术属性】
技术研发人员：施文峰，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32