一种多通道电路测试装置及脑深部电极测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种多通道电路测试装置，属于电路测试技术领域，其包括主测试电路，还包括被测通道切换电路，被测通道切换电路包括主处理器和至少两个由主处理器控制通断的可控开关，可控开关分别串联在主测试电路与各待测通道电极组成的电路回路中。该主处理器可以通过控制不同可控开关的通断使得主测试电路与不同的待测通道接通，从而可以实现多个待测通道的自动测试过程。与人工切换测试通道的方法相比，其测试操作简单、测试效率高、可靠性高。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道电路测试装置及脑深部电极测试方法
本专利技术涉及电路测试
，具体涉及一种多通道电路测试装置及脑深部电极测试方法。
技术介绍
目前，进行多通道电路的耐压测试或导通测试时，需要人工将测试仪的两个测试端分别与待测通道两端的电极接通进行测试，在测量完一个通道后再将两个测试端分别移到另一个待测通道两端的电极上以完成另一通道的测试。例如，包含多个触点的脑深部电极由于其触点较多，相同截面积的电极导线密度大，生产工艺复杂，最终的成品要通过耐压测试进行严格筛选。当前主要使用的耐压测试方法是通过耐压仪的两个输出电极接口直接夹在被测电极触点上进行测试，每测试完一组电极，就需要人工干预重新布线和重启耐压仪，操作流程复杂。另一方面，由于电极触点较多，人工布线很容易出现重复测试或者漏测的情况，对于产品筛选存在隐患。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的技术问题在于待测通道数量较多时，采用人工逐个连接测试电路不仅操作繁琐而且容易导致漏测的情况出现，测试结果的可靠性低。为此，本专利技术实施例提供了如下技术方案：一种多通道电路测试装置，包括主测试电路，还包括被测通道切换电路，被测通道切换电路包括主处理器和至少两个由主处理器控制通断的可控开关，可控开关分别串联在主测试电路与各待测通道电极组成的电路回路中。可选地，可控开关为固态继电器，固态继电器的两个输入端分别与主处理器连接，其中一路输出的两端分别与主测试电路供压电路的一端、待测通道的其中一个电极连接，另一路输出的两端分别与主测试电路供压电路的另一端、待测通道的另一个电极连接。可选地，主测试电路包括用于采集被测通道两端电压的电压采集电路，电压采集电路的输出端与主处理器连接。可选地，还包括用于显示测试参数和测试状态的显示电路，显示电路包括显示器件和连接器，显示器件通过连接器与主处理器连接。可选地，还包括至少一路按键电路，按键电路分别与主处理器连接，用于控制测试流程的启动和停止、设定测试的起始通道和结束通道以及选择不同的测试参数。可选地，按键电路包括按键元件、第一电容和第一电阻，第一电容与第一电阻并联后一端与按键元件的一端连接、另一端接地，按键元件的另一端接供电电源。可选地，还包括电源管理电路和储能模块，电源管理电路包括充放电管理电路和电压转换电路，充放电管理电路用于控制储能模块的充放电过程，电压转换电路用于将储能模块的输出电压转换为待供电电路所需的电压。可选地，充放电管理电路包括充电管理芯片，充电管理芯片的状态指示输出端与主处理器连接。可选地，还包括用于检测储能模块电压的电压检测电路，电压检测电路与主处理器连接。可选地，电压转换电路包括电压转换芯片，电压转换芯片的电能输入端与储能模块连接、电能输出端与待供电电路连接。本专利技术还提供一种脑深部电极测试方法，采用上述装置，包括以下步骤：对任意两个电极触点进行耐压测试；耐压测试完毕后，从顶端开始的脑深部电极上的第一个与第二个电极触点和/或第二个与第三个电极触点使用电阻连接，电阻的电阻值为300-500欧姆，之后，向从顶端开始的脑深部电极上的第二个电极触点通入50-150V的电压，调节电压值到电极触点处温度升高至80-90℃，保持2s；经过上述测试后，脑深部电极仍然完好则为良品，否则为废品。本专利技术技术方案，具有如下优点：本专利技术实施例提供的测试装置，其主处理器可以通过控制不同可控开关的通断使得主测试电路与不同的待测通道接通，从而可以实现多个待测通道的自动测试过程。与人工进行待测通道的切换方法相比，操作流程简单，降低了测试人员的工作量、提高了测试效率，另外也避免了在电极触点较多时人工布线很容易出现的重复测试或者漏测情况，大大增加了测试的准确性和可靠性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例中的主处理器及其周边电路图；图2为本专利技术实施例中的电压采集电路图；图3为本专利技术实施例中的固态继电器引脚连接图；图4为本专利技术实施例中的显示电路图；图5为本专利技术实施例中的按键电路图；图6为本专利技术实施例中的充放电管理电路图；图7为本专利技术实施例中的电压转换电路图；图8一种脑深部电极的结构示意图。附图标记说明：1-套管；2-电极触点；21-导线；3-温度传感器；31-信号传输线具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。实施例1如图1-2所示，本施例提供了一种多通道电路测试装置，包括主测试电路，其用于提供测试所用的电压、检测并输出被测通道两端的电压，该主测试电路具体可以是耐压仪，该装置还包括被测通道切换电路，被测通道切换电路包括主处理器和至少两个由主处理器控制通断的可控开关，可控开关分别串联在主测试电路与各待测通道电极组成的电路回路中。其中，上述主处理器可以采用基于ARM的32位微控制器STM32F103VET6，该主处理器可以通过控制不同可控开关的通断使得主测试电路与不同的待测通道接通，从而可以实现多个待测通道的自动测试过程。可控开关的数量与待测通道的数量相对应，具体可以是图3所示的18个，也可以是其它大于2的合理数量，从而实现各个待测通道依次与主测试电路导通。本实施例提供的测试装置可以用于检测待测通道的绝缘阻抗和工频耐压是否满足设计标准，具体测试过程可以是：按照主处理器中预设的算法依次控制其中一路待测通道的两端与耐压仪的输出电压端导通，从而将耐压仪输出的工频电压加在待测通道两端，并通过耐压仪实时检测并输出待测通道两端的电压，如果待测通道两端的电压非正常跌落，则判定被测通道的耐压测试不合格。其中，被测通道两端是电极触点，也即电路回路的连接是通过电极触点实现的。该测试装置具体可以应用于多触点脑深部电极的耐压测试。与目前主流的通过耐压仪的两个输出电极接口直接夹在被测电极触点上进行测试的耐压测试方法相比，省去了每测试完一组电极就需要人工干预重新布线和重启耐压仪的过程，操作流程简单，降低了测试人员的工作量、提高了测试效率，另外也避免了在电极触点较多时人工布线很容易出现的重复测试或者漏测情况，大大增加了测试的准确性和可靠性。上述测试装置还可以用于其它类型的测试，例如用于测试各待测通道之间的导通性能等。在具体的实施方案中，主测试电路包括用于采集被测通道两端电压的电压采集电路，该电压采集电路的输出端与主处理器连接，具体是主处理器的PC1端口，以使得主处理器可以实时获取待测通道的测试电压，从而判断待测通道是否测试合格。如图2所示，该电压采集电路主要包括串联的电阻R438和R439，用于对待测通道两端的电压进行分压后输入主处理器；还包括电容C419，用于为反相的交流信号提供通路。另外，如图3所示，上述可控开关可以为固态继电器，例如COTOmos的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多通道电路测试装置，包括主测试电路，其特征在于，还包括被测通道切换电路，所述被测通道切换电路包括主处理器和至少两个由所述主处理器控制通断的可控开关，所述可控开关分别串联在所述主测试电路与各待测通道电极组成的电路回路中。

【技术特征摘要】
1.一种多通道电路测试装置，包括主测试电路，其特征在于，还包括被测通道切换电路，所述被测通道切换电路包括主处理器和至少两个由所述主处理器控制通断的可控开关，所述可控开关分别串联在所述主测试电路与各待测通道电极组成的电路回路中。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述可控开关为固态继电器，所述固态继电器的两个输入端分别与所述主处理器连接，其中一路输出的两端分别与所述主测试电路供压电路的一端、待测通道的其中一个电极连接，另一路输出的两端分别与所述主测试电路供压电路的另一端、待测通道的另一个电极连接。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主测试电路包括用于采集被测通道两端电压的电压采集电路，所述电压采集电路的输出端与所述主处理器连接。4.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其特征在于，还包括用于显示测试参数和测试状态的显示电路，所述显示电路包括显示器件和连接器，所述显示器件通过所述连接器与所述主处理器连接。5.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其特征在于，还包括至少一路按键电路，所述按键电路分别与所述主处理器连接，用于控制测试流程的启动和停止、设定测试的起始通道和结束通道以及选择不同的测试参数。6.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐文文，张新国，蒋军庭，谭韦君，
申请(专利权)人：常州瑞神安医疗器械有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32