【技术实现步骤摘要】
一种针对微观形貌分析降低背景值的雾霾单颗粒采样方法
本专利技术属于大气污染检测与治理
,特别涉及一种针对微观形貌分析降低背景值的雾霾单颗粒采样方法。
技术介绍
近些年,大气雾霾已成为全国范围内的重大民生问题,不仅造成能见度下降,也对人体健康造成累积性负面影响。自2013年1月北京出现重雾霾事件以来,PM2.5污染即成为当今我国最严重的环境问题之一。目前常用的颗粒物分析方法为膜采样-离子色谱及在线观测手段,通过定量后的质量浓度与排放、气象等参数条件,推测其可能的形成机理。此方法缺少对颗粒物形成过程的直接观测,无法衡量气相反应、液相反应、非均相反应以及碰并吸附、吸湿增长等化学物理作用对硫酸盐生成的影响程度。因此,探索快速高效的颗粒物单颗分析集方法已成为当今环境分析领域的重要研究方向之一,而单颗粒分析的前提是单颗粒捕集方法的建立。当前单颗粒分析方法包括颗粒物形貌研究的扫描电子显微镜、原子力显微镜和基于官能团分析的拉曼光谱等。这些技术均要求膜背景表面尽可能平滑无孔,背景介质干扰尽可能降低,膜最好具有导电性以提高各分析手段的灵敏度,由此就需要对分级采样的采样膜进行筛选。以往研究中用于扫描电子显微镜的采样膜多为核孔膜,其表面平整,易于单颗粒的扫描观察,但其明显存在三个不足:一是核孔膜均有孔,孔径范围大都在100nm至500nm不等,即会在采样时造成小粒径颗粒物的丢失,无法得到颗粒物的有效采集和真实采样结果;二是核孔膜主要成分是聚碳酸酯,会造成较高的C和O的背景峰,不易于识别颗粒物中含有C及O的化学组分;三是需要对电镜探测的样品膜其进行导电化处理,即在核孔膜样品表 ...
【技术保护点】
一种针对微观形貌分析降低背景值的雾霾单颗粒采样方法,其特征在于,取多片Ag膜作为大气颗粒物采集膜,分别安装在分级采样器每一级的膜托上,在恒定的气体流量下捕集一定时间,然后将已捕集颗粒物的Ag膜在4℃下双层密封于自封袋内保存。
【技术特征摘要】
1.一种针对微观形貌分析降低背景值的雾霾单颗粒采样方法,其特征在于,取多片Ag膜作为大气颗粒物采集膜,分别安装在分级采样器每一级的膜托上,在恒定的气体流量下捕集一定时间,然后将已捕集颗粒物的Ag膜在4℃下双层密封于自封袋内保存。2.根据权利要求1所述针对微观形貌分析降低背景值的雾霾单颗粒采样方法,其特征在于,所述Ag膜为圆形,直径为25mm,厚度为10μm。3.根据权利要求1所述针对微观形貌分析降低背景值的雾霾单颗粒采样方法,其特征在于,取13片Ag膜,气体流量为10L/min。4.根据权利要求1所述针对微观形貌分...
【专利技术属性】
技术研发人员:段凤魁,孙振丽,贺克斌,
申请(专利权)人:清华大学,
类型:发明
国别省市:北京,11
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