一种测试产品功能的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:15610519 阅读:50 留言:0更新日期:2017-06-14 01:53
本发明专利技术公开了一种测试产品功能的方法和装置。该方法包括:在测试环境A下对待测产品进行n次功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_A和标准差SD_A;在测试环境B下对待测产品进行n次相同的功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_B和标准差SD_B;计算两种测试环境下的标准差平均值SD;判断两种测试环境下的标准差的差异是否小于或等于f

【技术实现步骤摘要】
一种测试产品功能的方法和装置
本专利技术涉及产品功能测试
,特别涉及一种测试产品功能的方法和装置。
技术介绍
电子产品功能的好坏直接影响用户的体验。例如,在带有传感器功能模块的电子产品的生产测试中,需要对传感器的功能进行测试,以保证传感器具有符合要求的感应灵敏度,以及每个产品功能的稳定性,这些传感器包括接近感应传感器、张力传感器、声呐传感器等。产品功能测试必须要满足的条件就是准确和稳定。一方面要保证测试成功的产品在功能方面是符合要求的,另一方面要避免对良品的误判。现有技术中,通常是限定一个符合要求的标准范围,只要满足该标准范围的产品均可通过,但是通常情况下,不同批次的电子产品的功能测试结果的误差较大,测试结果稳定性差,采用限定一个标准范围的方式无法保证功能测试结果的准确性,导致复测率和不良率提高。
技术实现思路
鉴于现有技术的产品功能测试无法保证稳定和准确,导致复测率和不良率提高的问题,提出了本专利技术的一种测试产品功能的方法和装置,以便解决或至少部分地解决上述问题。根据本专利技术的一个方面,提供了一种测试产品功能的方法,所述方法包括:在测试环境A下对待测产品进行n次功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_A和标准差SD_A;在测试环境B下对所述待测产品进行n次相同的功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_B和标准差SD_B;计算测试环境A的标准差SD_A和测试环境B下的标准差SD_B的平均值SD;判断两种测试环境下的标准差的差异|SD_B-SD_A|是否小于或等于,若判断为否,则判定该待测产品的功能不正常并结束测试;若判断为是,则进一步判断两种测试环境下的平均值的差异|Avg_B-Avg_A|是否大于或等于,若判断为是,则判定该待测产品的功能正常并结束测试,否则判定该待测产品的功能不正常并结束测试;其中,n取值大于设定测试次数,f1为根据功能正常的产品样本确定的判定参数,f2为根据测试环境A和测试环境B的差异性确定的判定参数。根据本专利技术的另一个方面,提供了一种测试产品功能的装置,所述装置包括:数据获取单元,用于获取在测试环境A下对待测产品进行n次功能测试获得的n个数据和在测试环境B下对待测产品进行n次相同的功能测试获得的n个数据;计算单元,用于对测试环境A下获得的n个数据计算平均值Avg_A和标准差SD_A、对测试环境B下获得的n个数据计算平均值Avg_B和标准差SD_B,以及计算测试环境A下的标准差SD_A与测试环境B下的标准差SD_B的平均值SD;判断单元,用于判断两种测试环境下的标准差的差异|SD_B-SD_A|是否小于或等于f1×SD,若判断为否,则判定该待测产品的功能不正常并结束测试;若判断为是,则进一步判断两种测试环境下的平均值的差异|Avg_B-Avg_A|是否大于等于f2×SD,若判断为是,则判定该待测产品的功能正常并结束测试,否则判定该待测产品的功能不正常并结束测试;其中,n取值大于预设测试次数,f1为根据功能正常的产品样本确定的判定参数,f2为根据测试环境A和测试环境B的差异性确定的判定参数。综上所述,本专利技术通过分别获取两种测试环境下n次功能测试获得的n个数据,分别计算平均值和标准差,首先判断两种测试环境下的标准差的差异是否小于或等于根据功能正常的产品样本确定的判断参数,以判定两种测试环境下的产品的功能处于一个合理的水平,保证通过测试的产品其功能都是正常的,提高测试结果的准确性;然后对比两种测试环境下的平均值的差异是否大于或等于根据两种测试环境的差异性确定的判定参数,以排除产品本身误差的影响,提高测试结果的稳定性。可见,本专利技术的产品功能测试方案能够在保证功能测试结果的准确度的前提下,消除产品本身误差的影响,提高测试的稳定性,有效减少复测率和不良率,缩减测试成本。附图说明图1为本专利技术一个实施例提供的一种测试产品功能的方法的流程图;图2为本专利技术一个实施例提供的一种根据功能正常的产品样本确定判定参数f1的方法的流程图;图3本专利技术另一个实施例提供的一种测试产品功能的方法的流程图;图4为本专利技术一个实施例提供的一种测试产品功能的装置示意图;图5为本专利技术另一个实施例提供的一种测试产品功能的装置示意图。具体实施方式本专利技术的设计思路是:鉴于现有技术的功能测试中限定一个判定功能正常的标准范围,功能测试无法达到一个稳定的水平,导致复测率和不良率,本专利技术分别获取两种测试环境下多次功能测试获得的测试数据的平均值和标准差,首先判断两种测试环境下的标准差的差异是否小于或等于根据功能正常的产品样本确定的判断参数,以保证通过测试的产品其功能都是正常的,提高测试结果的准确性;然后对比两种环境下的数据平均值的差异是否大于或等于根据两种测试环境的差异性确定的判定参数,以排除产品本身误差的影响,提高测试结果的稳定性,有效减少复测率和不良率。为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合实施例和附图以接近感性传感器为例对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。实施例一图1为本专利技术一个实施例提供的一种测试产品功能的方法的流程图。如图1所示,该方法包括:步骤S110,在测试距离A下对待测传感器进行n次功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_A和标准差SD_A,公式可表示为:上述公式中的di是待测传感器在测试距离A下的n个数据中的第i个数据的值。步骤S120,在测试距离B下对待测传感器进行n次相同的功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_B和标准差SD_B,公式可表示为:上述公式中的di是待测传感器在测试距离B下的n个数据中的第i个数据的值。步骤S130,计算测试环境A的标准差SD_A和测试环境B下的标准差SD_B的平均值SD,该标准差差异度的计算公式为SD=(SD_A+SD_B)/2。步骤S140,判断两种测试环境下的标准差的差异|SD_B-SD_A|是否小于或等于f1×SD,本步骤是为了判定在测试距离A和测试距离B下的传感器取值的波动性处于一个合理的水平,即功能处于一个合理的水平,验证传感器的功能的稳定性,提高测试结果的准确性。其中f1为根据功能正常的产品样本确定的判定参数。上述判断步骤,若判断为否,说明该待测传感器的功能测试取值的波动性较大,功能不稳定,则判定该待测传感器的功能不正常并结束测试。因为传感器的自身会存在一定的误差,为了保证传感器在测试距离A和测试距离B下的取值的差异不是有传感器自身的误差引起的,上述判断步骤,若判断为是,则进一步判断两种测试环境下的平均值的差异|Avg_B-Avg_A|是否大于或等于f2×SD,若判断为是,则判定该待测产品的功能正常并结束测试,否则判定该待测产品的功能不正常并结束测试。这样就排除传感器自身的影响,两种测试距离下的差值确实是其功能在不同距离下的测试引起的。,可以减少误判率,有效减少复测率和不良率,缩减测试成本。其中,f2为根据测试距离A和测试距离B的差异性确定的判定参数,在测试距离A下的功能测试的取值是在Avg_A的基础上,正负波动值不大于SD_A,在测试距离B下的功能测试的取值是在Avg_B的基础上,正负波动值不大于SD_B,因为传感器本身也存在误差,那么在测试距离B下的取值的个别数据也有可能处于传感器在测试环境A下的波动范围内,这种情况下,传感器在两种测试距离下的本文档来自技高网...
一种测试产品功能的方法和装置

【技术保护点】
一种测试产品功能的方法,其特征在于,所述方法包括:在测试环境A下对待测产品进行n次功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_A和标准差SD_A;在测试环境B下对所述待测产品进行n次相同的功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_B和标准差SD_B;计算测试环境A的标准差SD_A和测试环境B下的标准差SD_B的平均值SD;判断两种测试环境下的标准差的差异|SD_B‑SD_A|是否小于或等于f

【技术特征摘要】
1.一种测试产品功能的方法,其特征在于,所述方法包括:在测试环境A下对待测产品进行n次功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_A和标准差SD_A;在测试环境B下对所述待测产品进行n次相同的功能测试获得的n个数据,计算平均值Avg_B和标准差SD_B;计算测试环境A的标准差SD_A和测试环境B下的标准差SD_B的平均值SD;判断两种测试环境下的标准差的差异|SD_B-SD_A|是否小于或等于f1×SD,若判断为否,则判定该待测产品的功能不正常并结束测试;若判断为是,则进一步判断两种测试环境下的平均值的差异|Avg_B-Avg_A|是否大于或等于f2×SD,若判断为是,则判定该待测产品的功能正常并结束测试,否则判定该待测产品的功能不正常并结束测试;其中,n取值大于设定测试次数,f1为根据功能正常的产品样本确定的判定参数,f2为根据测试环境A和测试环境B的差异性确定的判定参数。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:根据功能正常的产品样本确定判定参数f1的步骤;以及,根据测试环境A和测试环境B的差异性确定判定参数f2。3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据功能正常的产品样本确定判定参数f1的步骤包括:获取功能正常的Num个产品样本,其中,Num取值大于设定产品样本数量;对每个产品样本分别在测试环境A下进行n次功能测试获得的n个数据计算平均值avg_A和标准差sd_A,以及在测试环境B下进行n次相同的功能测试获得的n个数据计算平均值avg_B和标准差sd_B;对每个产品样本分别计算在测试环境A的标准差SD_A和测试环境B下的标准差sd_B的平均值sd,并计算每个产品样本的测试环境A和测试环境B的标准差差异度,所述标准差差异度的计算公式为|sd_B-sd_A|/sd;比较每个产品样本的测试环境A和测试环境B的标准差差异度,将f1取值为所述Num个产品样本中最小的标准差差异度。4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据功能正常的产品样本获取判定参数f1的步骤包括:令产品样本数量的初始值为1,判定参数f1的初始值为0,获取第一个产品样本,分别在测试环境A下进行n次功能测试获得的n组数据计算平均值avg_A1和标准差sd_A1,以及在测试环境B下进行n次相同的功能测试获得的n个数据计算平均值avg_B1和标准差sd_B1;对第一个产品样本计算在测试环境A的标准差sd_A1和测试环境B下的标准差sd_B1的平均值sd1以及测试环境A和测试环境B的标准差差异度f1_1=|sd_B1-sd_A1|/sd1,并在用户模式下判断第一个产品样本的功能是否正常,若判断为是,则令f1=f1_1;将产品样本数量加1,并获取下一个产品样本,对获取的第j个产品样本,其中j大于等于2,分别在测试环境A下进行n次功能测试获得的n个数据计算平均值avg_Aj和标准差sd_Aj,以及在测试环境B下进行n次相同的功能测试获得的n个数据计算平均值avg_Bj和标准差sd_Bj,并计算第j个产品样本的sdj,以及测试环境A和测试环境B的标准差差异度f1_j=|sd_Bj-sd_Aj|/sdj;比较f1与f1_j的大小,若f1_j大于f1,则不进行处理;若f1_j小于f1,则在用户模式进一步判断第j产品样本的功能是否正常,若判断为否,则不进行处理,若判断为是,则令f1=f1_j;判断产品样本数量是否达到设定产品样本数量Num,若达到则停止获取下一个产品样本并输出f1,若未达到则继续获取下一个产品样本。5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,根据测试环境A和测试环境B的差异性确定所述判定参数f2大于或等于2。6.一种测试产品功能的装置,其特征在于,所述装...

【专利技术属性】
技术研发人员:李宁
申请(专利权)人:歌尔科技有限公司
类型:发明
国别省市:山东,37

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