X射线测定装置制造方法及图纸

技术编号:15573729 阅读:271 留言:0更新日期:2017-06-12 02:20
本发明专利技术涉及一种X射线测定装置。从X射线照射器(30)对多个检测元件(32a)照射扇束形状的X射线。根据各检测元件(32a)检测出的各检测数据即X射线的衰减量来计算各被检测体部分(22a)的面密度。另外,根据各检测数据计算各被检测体部分(22a)的体厚。根据计算出的体厚在各被检测体部分(22a)的体厚方向的中心位置定义虚拟测定面。将各被检测体部分(22a)的面密度与在各被检测体部分(22a)中定义的各虚拟测定面的面积相乘,计算表示各被检测体部分(22a)的质量的多个元件单位质量。通过合计多个元件单位质量来计算被检测体(22)的质量。

【技术实现步骤摘要】
X射线测定装置
本专利技术涉及一种X射线测定装置,特别涉及一种用于计算被检测体的质量的技术。
技术介绍
目前,在医疗机构等中使用X射线测定装置。在X射线测定装置中,向被检测体照射X射线,根据透过了被检测体的X射线的衰减量来进行各种测定。目前,一般在X射线测定装置中测定骨盐量或体脂肪率等,但是近年来提出一种在X射线测定装置中测定被检测体的质量的技术。例如日本特表2013-532823号公报公开一种使用X射线测定装置求出被检测体的重量的技术。作为在X射线测定装置中测定被检测体的质量的一个方法,列举以下的方法。图5是用于说明X射线测定装置中的现有的质量测定方法的图。如图5所示,在X射线光源1与多个检测元件3之间配置被检测体5。从X射线光源照射的X射线是扇束,从X射线光源1向x轴方向扩展地照射。用1点划线表示从X射线光源照射的X射线的照射范围。多个检测元件3在扇束的扩展方向排列。用2点划线分隔来表示各检测元件3检测出的X射线的透过区域。各个透过区域中包括被检测体5的一部分即被检测体部分5a。例如在与检测元件3a对应的透过区域中包括用斜线表示的被检测体部分5a。另外,检测元件3a(以及X射线光源1)在y轴方向扫描,因此与检测元件3a对应的被检测体部分5a时刻发生变化。如果X射线光源1和多个检测元件3在y轴方向扫描,则扇束形状的X射线在y轴方向扫描,其结果得到由2维排列的多个检测数据组成的检测数据群。图6表示得到的2维检测数据群9的概念图。根据各检测元件3检测出的检测数据来求出各被检测体部分5a的面密度(单位面积的质量)。详细是在检测数据群9的各检测数据9a中求出对应的被检测体5a的面密度。通过将各检测数据9a所对应的与被检测体部分5a相关的单位面积与根据各检测数据9a计算出的各被检测体部分5a的面密度相乘,计算各检测数据9a的元件单位质量。元件单位质量是各被检测体部分5a的质量。在各被检测体部分5a内定义与各被检测体部分5a相关的单位面积,将其设定为与检测元件面3b平行设置的面(以下记载为“虚拟测定面”)的面积。即,与各被检测体5a相关的单位面积表示各被检测体部分5a的水平截面(与检测元件面3b平行的面的截面)的面积。虚拟测定面7(参照图5)按照各被检测体5a进行定义。若将X射线光源1与虚拟测定面7之间的距离设为l1,将X射线光源1与检测元件面3b之间的距离设为l2,将各检测元件3的扇束的扩展方向(x轴方向)的长度设为dx,则通过以下公式求出虚拟测定面7的x轴方向的长度(图5中的Δx)。[数学式1]另外,虚拟测定面7的y轴方向的长度是在所有的检测元件3中得到检测数据之前由X轴光源1以及多个检测元件3在y轴方向移动后的距离,将其设为Δy。于是,通过以下公式得到虚拟测定面7的面积。[数学式2]这样得到的各虚拟测定面7的面积是与各被检测体部分5a相关的单位面积。通过关于如上述那样计算出的各被检测体5a的面密度与单位面积的相乘处理得到各被检测体部分5a的质量(元件单位质量),将多个元件单位质量进行合计,求出被检测体5的质量。如上所述,与各被检测体部分5a相关的单位面积、即虚拟测定面7的面积是直接影响计算出的被检测体5的质量的重要的参数。但是,以往在各被检测体5a中均等地设定虚拟测定面7的面积。即在离X射线光源1均等的距离定义各被检测体5a的虚拟测定面7的位置。在如扇束形状那样X射线的射束形状为扇形的情况下,均等地定义虚拟测定面7的位置会使计算结果产生误差。根据图5可知在使用了扇形的X射线射束时,各被检测体部分5a的水平截面面积为离X射线光源1越近变得越小,离X射线光源1越远则变得越大。因此,需要适当地定义本来在体厚方向的虚拟测定面的位置。具体地说,对于体厚大的部分应该将虚拟测定面7设定在远离X射线光源1的位置(即,使虚拟测定面7的面积更大),对于体厚小的部分应该将虚拟测定面7设定在离X射线光源1近的位置(即,使虚拟测定面7的面积更小)。反过来说,如果在各虚拟测定面7的面积均等,即在离X射线照射器均等的位置定义虚拟测定面7,则会有对于体厚薄的部分过大评价(计算过大)质量,对于体厚厚的部分过小评价(计算过小)质量的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的为在X射线测定装置中进一步提高被检测体的质量的测定精度。本专利技术的X射线测定装置具备:X射线照射器,其对被检测体照射具有扇形的射束形状的X射线;X射线检测元件,其检测透过了上述被检测体的上述X射线并输出检测数据;以及质量计算部,其将根据上述X射线检测元件输出的检测数据确定的、该X射线检测元件检测出的X射线透过区域中包括的被检测体部分的面密度与根据该检测数据计算出的单位面积相乘来计算元件单位质量,根据上述元件单位质量计算上述被检测体的质量。优选设置多个上述X射线检测元件,多个上述X射线检测元件输出多个上述检测数据,上述质量计算部按照每个上述X射线检测元件计算上述元件单位质量,并计算上述被检测体的质量作为对多个上述X射线检测元件计算出的多个元件单位质量的总和。另外,优选根据上述被检测体部分的体厚来计算上述单位面积,上述被检测体部分的体厚根据上述X射线检测元件输出的检测数据来计算。根据上述结构,根据与各被检测体部分对应的检测数据来决定与各被检测体部分相关的单位面积。例如,如果被检测体的射线吸收系数已知,则能够根据检测数据即X射线的衰减量计算被检测体部分的体厚。根据这样计算出来的各被检测体部分的体厚能够设定与各被检测体部分相关的单位面积。由此,能够消除以下现有的问题,即对于体厚薄的部分质量被评价过大,而对于体厚较厚的部分质量被评价过小。优选上述单位面积被定义在上述被检测体部分的体厚方向的中心位置,并被计算为与上述X射线检测元件的检测面平行的面即虚拟测定面的面积。从X射线照射器照射的X射线具有扇形的射束形状、即面向前进方向扩展的形状,所以在被检测体部分中定义的虚拟测定面的面积越接近X射线照射器则变得越小,越远离X射线照射器则变得越大。即,该面积根据虚拟测定面的定义位置而不同。这里,在各X射线检测元件中计算出的面密度是根据透过了各X射线检测元件所对应的被检测体部分的整体的X射线计算出来的面密度。因此,作为单位面积优选是在该被检测体部分中定义得到的虚拟测定面的面积的平均面积。在被检测体部分的体厚方向的中心位置定义的虚拟测定面的面积成为该平均的面积。通过在被检测体部分的体厚方向的中心位置设定虚拟测定面积,能够更高精度地计算被检测体的质量。优选还具备警报单元,当根据上述X射线检测元件输出的检测数据计算出的上述被检测体部分的体厚在预定值以上时,输出警报。不能够对体厚太厚的被检测体适当地进行X射线测定。因此当被检测体部分的体厚在预定值(根据能够适当地进行X射线测定的体厚来决定该预定值)以上时,输出警报,由此能够对测定者暗示所得到的数据有可能不正确。另外,本专利技术的X射线测定程序使计算机作为质量计算单元发挥功能,该质量计算单元将根据检测出具有扇形的射束形状并透过了被检测体的X射线的X射线检测元件输出的检测数据而确定的、该X射线检测元件检测出的X射线的透过区域中包括的被检测体部分的面密度与根据该检测数据计算出的单位面积相乘来计算元件单位质量,根据上述元件单位质量计算上述被检测体的质量。附图说明图1是X射本文档来自技高网
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X射线测定装置

【技术保护点】
一种X射线测定装置,其特征在于,该X射线测定装置具备:X射线照射器,其对被检测体照射具有扇形的射束形状的X射线;X射线检测元件,其检测透过了上述被检测体的上述X射线并输出检测数据;以及质量计算部,其将根据上述X射线检测元件输出的检测数据确定的、该X射线检测元件检测出的X射线透过区域中包括的被检测体部分的面密度与根据该检测数据计算出的单位面积相乘来计算元件单位质量,根据上述元件单位质量计算上述被检测体的质量。

【技术特征摘要】
2015.11.26 JP 2015-2308931.一种X射线测定装置,其特征在于,该X射线测定装置具备:X射线照射器,其对被检测体照射具有扇形的射束形状的X射线;X射线检测元件,其检测透过了上述被检测体的上述X射线并输出检测数据;以及质量计算部,其将根据上述X射线检测元件输出的检测数据确定的、该X射线检测元件检测出的X射线透过区域中包括的被检测体部分的面密度与根据该检测数据计算出的单位面积相乘来计算元件单位质量,根据上述元件单位质量计算上述被检测体的质量。2.根据权利要求1所述的X射线测定装置,其特征在于,设置有多个上述X射线检测元件,多个上述X射线检测元件输出多个上述检测数据,上述质量计算部按照每个...

【专利技术属性】
技术研发人员:实政光久宫本高敬足立龙太郎川上嘉人
申请(专利权)人:株式会社日立制作所
类型:发明
国别省市:日本,JP

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