激光整形系统与激光整形系统的检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种激光整形系统与激光整形系统的检测装置，该装置包括：1/2波片，用于改变前级激光器出射的激光的偏振态；偏振分光棱镜，用于将1/2波片出射的激光的大部分引导至1/4波片，剩余部分引导至第一检测组件；1/4波片，用于改变激光的偏振态，并将该激光出射至受激布里渊散射相位共轭镜SBS‑PCM；第一分光元件，SBS‑PCM反射回1/4波片的激光经偏振分光棱镜引导至该分光元件，该分光元件用于将该激光的大部分引导至后级激光器，剩余部分引导至第二检测组件；第一检测组件与第二检测组件，用于检测激光的参数。本发明专利技术实施例能够检测激光经SBS‑PCM整形前后的参数变化。

Laser shaping system and laser shaping system detecting device

The detection device of the embodiment of the invention provides a laser shaping system and laser shaping system, comprising a 1/2 wave plate, used to change the front stage laser polarization laser; polarization beam splitter for 1/2, most of the 1/4 wave guide plate sheet laser, the remaining part of the first guide to detection component; 1/4 wave plate, used to change the polarization state of the laser, the laser emitted to the SBS phase conjugate mirror SBS PCM; the first light splitting element, laser SBS PCM 1/4 reflected wave plate by polarization splitting prism is guided to the optical elements, the optical elements for most guide to the level of the laser laser, the remaining part guide to second detection component; the first component and the second detection test kit for detecting laser parameters. The embodiment of the invention can change parameters before and after SBS PCM shaping by laser detection.

【技术实现步骤摘要】
激光整形系统与激光整形系统的检测装置
本专利技术涉及激光器
，特别是涉及一种激光整形系统与激光整形系统的检测装置。
技术介绍
受激布里渊散射(SBS，StimulatedBrillouinscattering)技术在高功率激光器中有着广阔的应用前景。受激布里渊散射相位共轭镜(SBS-PCM)技术不仅可以用于控制激光光束和修正任意波前畸变，还可以用于激光脉冲压缩。在双程或多程放大器中，利用SBS-PCM可以实时补偿激光放大器和放大光路中的动态和静态波前畸变，从而改善高能高功率激光器的输出光束质量。同时，研究表明，SBS-PCM激光脉冲压缩技术具有简单实用，压缩率和能量转化率高的特点。SBS-PCM应用于高能高功率激光系统时，需要观察光束的各项参数发生了哪些变化。同时还需对SBS-PCM自身的特性进行了解，例如，能量反射率是描述受激布里渊散射过程的一个重要参数，它的大小直接反映了SBS相位共轭镜的效率，是SBS在应用过程中首要考虑的一个因素。但是，传统的SBS-PCM激光系统中，缺少参数变化的检测功能。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种激光整形系统与激光整形系统的检测装置，能够检测激光经SBS-PCM整形前后的参数变化。为解决上述技术问题，本专利技术实施方式采用的一个技术方案是：提供一种激光整形系统，包括：前级激光器与后级激光器；1/2波片，用于改变前级激光器出射的激光的偏振态；偏振分光棱镜，用于将1/2波片出射的激光的大部分引导至第一光路出射，剩余部分引导至第二光路出射；1/4波片，用于改变第一光路出射的激光的偏振态；受激布里渊散射相位共轭镜SBS-PCM，用于对1/4波片出射的激光整形后反射回该1/4波片；第一分光元件，反射回1/4波片的激光经偏振分光棱镜引导至该分光元件，该分光元件用于将该激光的大部分引导至后级激光器，剩余部分引导至第三光路出射；第一检测组件，用于检测第二光路出射的激光的参数；第二检测组件，用于检测第三光路出射的激光的参数。其中，第一检测组件包括第二分光元件、第一能量计，第二分光元件用于将第二光路出射的激光的部分光出射至第一能量计，剩余光引导至第四光路出射；第二检测组件包括第三分光元件、第二能量计，第三分光元件用于将第三光路出射的激光的部分光出射至第二能量计，剩余光引导至第五光路出射。其中，第一检测组件还包括第四分光元件、第一远场分布测量器，第四分光元件用于将第四光路出射的激光的部分光出射至第一远场分布测量器，剩余光引导至第六光路出射；第二检测组件还包括第五分光元件、第二远场分布测量器，第五分光元件用于将第五光路出射的激光的部分光出射至第二远场分布测量器，剩余光引导至第七光路出射。其中，第一检测组件还包括第六分光元件、第一时间波形分布测量器，第六分光元件用于将第六光路出射的激光的部分光出射至第一时间波形分布测量器，剩余光引导至第八光路出射；第二检测组件还包括第七分光元件、第二时间波形分布测量器，第七分光元件用于将第七光路出射的激光的部分光出射至第二时间波形分布测量器，剩余光引导至第九光路出射。其中，第一检测组件还包括第八分光元件、第一波前相位分布测量器，第八分光元件用于将第八光路出射的激光的部分光出射至第一波前相位分布测量器，剩余光引导至第十光路出射；第二检测组件还包括第九分光元件、第二波前相位分布测量器，第九分光元件用于将第九光路出射的激光的部分光出射至第二波前相位分布测量器，剩余光引导至第十一光路出射。其中，第一检测组件还包括第一近场分布测量器，用于接收第十光路出射的激光；第二检测组件还包括第二近场分布测量器，用于接收第十一光路出射的激光。其中，第一检测组件包括第一能量计，且第二检测组件包括第二能量计；或，第一检测组件包括第一远场分布测量器，且第二检测组件包括第二远场分布测量器；或，第一检测组件包括第一近场分布测量器，且第二检测组件包括第二近场分布测量器；或，第一检测组件包括第一时间波形分布测量器，且第二检测组件包括第二时间波形分布测量器；或，第一检测组件包括第一波前相位分布测量器，且第二检测组件包括第二波前相位分布测量器。其中，系统还包括：调整器件，用于调整1/2波片，以改变入射该1/2波片的激光的偏振方向与该1/2波片的晶片光轴的夹角。为解决上述技术问题，本专利技术实施方式采用的另一个技术方案是：提供一种激光整形系统的检测装置，包括：1/2波片，用于改变前级激光器出射的激光的偏振态；偏振分光棱镜，用于将1/2波片出射的激光的大部分引导至第一光路出射，剩余部分引导至第二光路出射；1/4波片，用于改变第一光路出射的激光的偏振态，并将该激光出射至受激布里渊散射相位共轭镜SBS-PCM；第一分光元件，SBS-PCM反射回1/4波片的激光经偏振分光棱镜引导至该分光元件，该分光元件用于将该激光的大部分引导至后级激光器，剩余部分引导至第三光路出射；第一检测组件，用于检测第二光路出射的激光的参数；第二检测组件，用于检测第三光路出射的激光的参数。与现有技术相比，本专利技术实施例包括如下有益效果：本专利技术实施例中，通过1/2波片与偏振分光棱镜的配合，将入射SBS-PCM之前的待整形激光分出少部分给第一检测组件；并通过第一分光元件将SBS-PCM整形之后的激光分出少部分给第二检测组件，使得系统能够单发次(即一个脉冲)检测激光经SBS-PCM整形前后的参数变化。例如，系统能够检测激光经SBS-PCM整形前后的能量变化，从而能够计算出SBS-PCM的反射率。并且，基本是在激光整形系统的原有光路中将光导出进行测量，对系统自身光路影响较小。附图说明一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。图1是本专利技术激光整形系统的一个实施例的结构示意图；图2是本专利技术激光整形系统的另一实施例的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。下面结合附图和实施方式对本专利技术实施例进行详细说明。实施例一本专利技术提供一种激光整形系统。请参阅图1，图1是本专利技术激光整形系统的一个实施例的结构示意图。如图1所示，激光整形系统100包括：前级激光器110、1/2波片120、偏振分光棱镜130、1/4波片140、受激布里渊散射相位共轭镜(SBS-PCM)150、透镜151、第一分光元件160、后级激光器170、第一检测组件180与第二检测组件190。前级激光器110用于出射待整形的激光，1/2波片120用于接收该激光，并改变该激光的偏振态。偏振分光棱镜130用于将1/2波片出射的激光的大部分透射至第一光路出射，剩余部分反射至第二光路出射至第一检测组件180。具体地，本实施例中，前级激光器110出射的待整形激光为P偏振光，1/2波片120改变该激光的偏振态，使得该激光的99％能量为P偏振光，被偏振分光棱镜130透射至1/4波片140，1％为S偏振光，被偏振分光棱镜130反射至第一检测组件180。由于第一检测组件检测所需的光束能量只需少量，所以应让本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光整形系统，其特征在于，包括：前级激光器与后级激光器；1/2波片，用于改变所述前级激光器出射的激光的偏振态；偏振分光棱镜，用于将所述1/2波片出射的激光的大部分引导至第一光路出射，剩余部分引导至第二光路出射；1/4波片，用于改变第一光路出射的激光的偏振态；受激布里渊散射相位共轭镜SBS‑PCM，用于对所述1/4波片出射的激光整形后反射回该1/4波片；第一分光元件，所述反射回1/4波片的激光经所述偏振分光棱镜引导至该分光元件，该分光元件用于将该激光的大部分引导至所述后级激光器，剩余部分引导至第三光路出射；第一检测组件，用于检测第二光路出射的激光的参数；第二检测组件，用于检测第三光路出射的激光的所述参数。

【技术特征摘要】
1.一种激光整形系统，其特征在于，包括：前级激光器与后级激光器；1/2波片，用于改变所述前级激光器出射的激光的偏振态；偏振分光棱镜，用于将所述1/2波片出射的激光的大部分引导至第一光路出射，剩余部分引导至第二光路出射；1/4波片，用于改变第一光路出射的激光的偏振态；受激布里渊散射相位共轭镜SBS-PCM，用于对所述1/4波片出射的激光整形后反射回该1/4波片；第一分光元件，所述反射回1/4波片的激光经所述偏振分光棱镜引导至该分光元件，该分光元件用于将该激光的大部分引导至所述后级激光器，剩余部分引导至第三光路出射；第一检测组件，用于检测第二光路出射的激光的参数；第二检测组件，用于检测第三光路出射的激光的所述参数。2.根据权利要求1所述的激光整形系统，其特征在于：第一检测组件包括第二分光元件、第一能量计，第二分光元件用于将第二光路出射的激光的部分光出射至第一能量计，剩余光引导至第四光路出射；第二检测组件包括第三分光元件、第二能量计，第三分光元件用于将第三光路出射的激光的部分光出射至第二能量计，剩余光引导至第五光路出射。3.根据权利要求2所述的激光整形系统，其特征在于：第一检测组件还包括第四分光元件、第一远场分布测量器，第四分光元件用于将第四光路出射的激光的部分光出射至第一远场分布测量器，剩余光引导至第六光路出射；第二检测组件还包括第五分光元件、第二远场分布测量器，第五分光元件用于将第五光路出射的激光的部分光出射至第二远场分布测量器，剩余光引导至第七光路出射。4.根据权利要求3所述的激光整形系统，其特征在于：第一检测组件还包括第六分光元件、第一时间波形分布测量器，第六分光元件用于将第六光路出射的激光的部分光出射至第一时间波形分布测量器，剩余光引导至第八光路出射；第二检测组件还包括第七分光元件、第二时间波形分布测量器，第七分光元件用于将第七光路出射的激光的部分光出射至第二时间波形分布测量器，剩余光引导至第九光路出射。5.根据权利要求4所述的激光整形系统，其特征在于：第一检测组件还包括第八分光元件、第一波前相位分布测量器，第八分光元件用于将第八光路出射的激...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐熊忻，邱基斯，樊仲维，王昊成，刘昊，刘悦亮，
申请(专利权)人：中国科学院光电研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11