一种测试方法和装置制造方法及图纸

技术编号:15544054 阅读:185 留言:0更新日期:2017-06-05 14:31
本发明专利技术提供了一种测试方法和装置,微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器,该继电器接收该闭合指令或该断开指令,并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接,或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接,以测试该待测模块的耐冲击性能。与现有技术相比,有益效果在于:本发明专利技术中,通过微处理器控制继电器的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试,从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块,从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能,降低产品返修率高,节约资源。

Testing method and device

The present invention provides a method and apparatus for testing, the microprocessor sends closed instruction or disconnect command to the relay, the relay receives the closed instruction or the disconnect command, and according to the closed instruction to be measured and communicated with a power module is electrically connected or disconnected according to the command to disconnect the power supply and the the electrical connection between the sensing module, the module to be tested to test impact resistance. Compared with the prior art, the invention has the advantages that the invention, by closing the microprocessor control relay to test module for impact resistance current testing, which can withstand the impact of the impact of the current selection module to be tested as the battery management module in the system, so as to improve the battery management system of impact resistance, reduce product high repair rate, saving resources.

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法和装置
本专利技术适用于测试领域,尤其涉及一种测试方法和装置。
技术介绍
冲击电流指设备在开启的瞬间产生的电流。在容性负载的电池管理系统中,上电瞬间产生的冲击电流相当于短路产生的电流,如果电池管理系统中的模块电源功率低或器件响应速度慢,冲击电流会对电池管理系统造成很大的伤害。通常,在选择电池管理系统的模块时,现有技术中通常根据电池管理系统中模块的工作参数,如额定功率,额定电流,由工作人员凭经验进行选择,这样会使得电池管理系统在上电过程中,因承受不了冲击电流而烧毁,进而使得产品返修率高,造成资源浪费。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题为提供一种测试方法和装置,旨在解决凭经验选择电池管理系统中的模块,产生的产品返修率高,资源浪费的问题。本专利技术提供一种测试方法,包括:微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器,该继电器接收该闭合指令或该断开指令,并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接,或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接,以测试该待测模块的耐冲击性能。本专利技术提供一种测试装置,包括:微处理器和继电器;微处理器用于发送闭合指令或断开指令至继电器,继电器用于接收所述闭合指令或所述断开指令,并根据所述闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接,或根据所述断开指令断开所述电源与所述待测模块之间的电连接,以测试所述待测模块的耐冲击性能。本专利技术提供了一种测试方法和装置,包括:微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器,该继电器接收该闭合指令或该断开指令,并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接,或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接,以测试该待测模块的耐冲击性能。与现有技术相比,有益效果在于:本专利技术中,通过微处理器控制继电器的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试,从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块,从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能,降低产品返修率高,节约资源。附图说明图1是本专利技术第一实施例提供的一种测试方法的实现流程示意图;图2是本专利技术第二实施例提供的一种测试方法的实现流程示意图;图3是本专利技术第三实施例提供的一种测试装置的结构示意图;图4是本专利技术第四实施例提供的一种测试装置的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。作为本专利技术的第一个实施例,如图1所示,本专利技术提供的一种测试方法,图1示出的该测试方法主要包括:S101、微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器。该闭合指令用于控制该继电器进行闭合,该断开指令用于控制该继电器进行断开。S102、该继电器接收该闭合指令或该断开指令,并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接,或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接,以测试该待测模块的耐冲击性能。该待测模块为待检测耐冲击性能的模块,该待测模块为电流管理系统中的模块,如主控模块、从控模块或绝缘模块等。耐冲击性能为该待检测模块耐冲击电流冲击的性能。本专利技术实施例中,微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器,该继电器接收该闭合指令或该断开指令,并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接,或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接,以测试该待测模块的耐冲击性能。因此,通过微处理器控制继电器的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试,从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块,从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能,降低产品返修率高,节约资源。作为本专利技术的第二个实施例,如图2所示,本专利技术提供的一种测试方法,图2示出的该测试方法实现流程主要包括:S201、档位开关按照用户的切换操作切换档位,并将该档位所表示的控制参数的类型发送至微处理器。该控制参数为控制继电器闭合和断开的参数,该控制参数的类型包括连通时长、断开时长和通断次数,其中,连通时长为继电器闭合的时长,该断开时长为继电器断开的时长,该通断次数为继电器闭合或断开的次数,其中,继电器闭合一次且断开一次,该通断次数为一次。在耐冲击电流测试中,通过设置通断次数,进行多次耐冲击电流测试,可以进一步了解该待测模块的耐冲击性能的稳定性,选择耐冲击性能稳定性更好的待测模块。优选的,档位开关包括三个档位,可以通过闭合其中一个档位来切换该控制参数的类型。即,当闭合其中一个档位时,另外两个档位为断开状态,此时,闭合的档位所表示的控制参数的类型为当前切换的控制参数的类型。例如,三个档位分别表示“连通时长”、“断开时长”或“通断次数”,将表示“断开时长”的档位闭合,则选择的控制参数的类型为“断开时长”。然后,将表示“通断次数”的档位闭合,此时,表示“断开时长”的档位断开,这时该控制参数的类型由“断开时长”切换到“通断次数”。S202、数字开关按照该用户的调节操作,调节该控制参数的数值,并将已调节的该控制参数的数值发送至该微处理器。优选地,数字开关为四个,每一个数字开关都可以显示“0-9”十个数字。当切换到“通断次数”的档位时,四个数字开关分别表示“个”、“十”、“百”和“千”。此时,四个数字开关显示的数值按照“个”、“十”、“百”和“千”组合后的数值即为通断次数的数值。例如,将表示“个”、“十”、“百”和“千”的数字开关上的设置分别设置为0、2、3和1,则表示通断次数为1320次。优选地,当档位切换到“连通时长”时,两个数字开关可以用来设置连通时长的数值,即,两个数字开关中的一个表示“十”,另外一个表示“个”,则该两个数字开关显示的数字按照“个”和“十”组合后的数值即为该连通时长的数值。例如,将表示“个”和“十”的数字开关上的设置分别设置为1和2,则表示连通时长为21秒。需要说明的是,通过数字开关所设置的连通时长和断开时长的单位可以按照实际情况进行设置。在本实施例中,该连通时长和断开时长的单位为秒。S203、该微处理器将接收的该控制参数的类型和该控制参数的数值发送至显示屏;S204、该显示屏显示该控制参数的类型和该控制参数的数值。显示屏通过显示该控制参数的类型和该控制参数的数值,可以使得该用户进一步确认设置的参数,防止出现测试误差。需要说明的是,显示屏显示的控制参数的类型为档位开关切换后的控制参数的类型,显示屏显示的控制参数的数值为数字开关调节的该控制参数的数值。可选地,该显示屏还可以在测试过程中将待测模块测试的剩余时间、剩余次数或测试状态发送至显示屏进行显示,便于用户了解测试进度。该测试状态可以为该待测模块与电源的连通状态或断开状态。S205、控制按钮根据用户的操作发送闭合指令或断开指令至微处理器。该闭合指令用于控制该继电器进行闭合,该断开指令用于控制该继电器进行断开。该控制按钮通过该用户的按压操作来发送该闭合指令或该断开指令。在实际应用中,当测试装置处于测试状态时,按压该控制按钮可以发送断开指令,当该测试装置处于关闭状态时,按压该控制按钮可以发送闭合指令。S206、该微处理器接收该闭合指令或该断开指令。S207、该微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器。进一步地,该微处理器发送闭合指令或断开指令至该继电器,具体包括:该微处理器发送该闭合指令本文档来自技高网...
一种测试方法和装置

【技术保护点】
一种测试方法,其特征在于,所述方法包括:微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器;所述继电器接收所述闭合指令或所述断开指令,并根据所述闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接,或根据所述断开指令断开所述电源与所述待测模块之间的电连接,以测试所述待测模块的耐冲击性能。

【技术特征摘要】
1.一种测试方法,其特征在于,所述方法包括:微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器;所述继电器接收所述闭合指令或所述断开指令,并根据所述闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接,或根据所述断开指令断开所述电源与所述待测模块之间的电连接,以测试所述待测模块的耐冲击性能。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器之前,还包括:控制按钮根据用户的操作发送所述闭合指令或所述断开指令至所述微处理器;所述微处理器接收所述闭合指令或所述断开指令。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述控制按钮根据用户的操作发送所述闭合指令或所述断开指令至所述微处理器之前,还包括:档位开关按照所述用户的切换操作切换档位,并将所述档位表示的控制参数的类型发送至微处理器,所述控制参数的类型包括连通时长、断开时长和通断次数;数字开关按照所述用户的调节操作,调节所述控制参数的数值,并将已调节的所述控制参数的数值发送至所述微处理器。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器,具体包括:所述微处理器发送所述闭合指令至所述继电器,并判断发送所述闭合指令后的等待时长是否与所述连通时长相等;若相等,则所述微处理器发送所述断开指令至所述继电器;所述微处理器判断发送所述断开指令后的等待时长是否与所述断开时长时长相等;若相等,则所述微处理器发送所述闭合指令至所述继电器,直到所述微处理器发送所述闭合指令或所述断开指令的次数为所述通断次数。5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述数字开关按照所述用户的调节操作,调节所述控制参数的数值,并将已调节的所述控制参数的数值发送至所述微处理器之后,还包括:所述微处理器将接收的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:李龙刚尹旭勇
申请(专利权)人:深圳市沃特玛电池有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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