摄像模组开短路测试装置、系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种摄像模组开短路测试装置、系统，其中的装置包括主控芯片、第一开关使能芯片、第二开关使能芯片、第三开关使能芯片以及恒流源；主控芯片发送第一使能信号给第一开关使能芯片，第一开关使能芯片控制恒流源与摄像模组地连接；主控芯片发送第二使能信号给第二开关使能芯片及第三开关使能芯片，第二开关使能芯片控制第一待检测引脚与摄像模组地连接，第三开关使能芯片控制第二待检测引脚与系统地连接；其中第一待检测引脚为当前检测的一待检测引脚，第二待检测引脚为其余待检测引脚；主控芯片读取第一待检测引脚的电压，并根据电压确定第一待检测引脚的开短路状态，按顺序即可准确高效地检测所有待检测引脚的开短路状态。

Camera module opening short circuit test device and system

The invention provides a camera module for open circuit and short-circuit test device, system, which comprises a main control chip, a first switch, the second switch can make the chip enable chip and third chip enable switch and a constant current source; sending the first master chip enable signal to enable the first switch chip, a first switch enable chip control constant current source and the camera module is connected; the main control chip sends second enable signal to the second switch and three switch chip enable enable chip, second chip enable control switch to the first detection pin and camera module connected, third switch chip enable control pin second to be detected and the connection system; the first pin is detected to detect pin current detection, the detected second pin for the rest of the detecting pin; the main control chip reads the first pin voltage to be detected, and the root The open short-circuit state of the first detected pin is determined according to the voltage, and the open short-circuit state of all the detected pins can be accurately and efficiently detected in sequence.

【技术实现步骤摘要】
摄像模组开短路测试装置、系统
本专利技术涉及检测领域，尤其涉及一种摄像模组开短路测试装置、系统。
技术介绍
在摄像模组测试领域，经常会碰到模组点不亮或其他异常情况，这时工作人员会测试分析摄像模组的管脚开短路状况，传统的方式为用万用表测试，该方式采用一个个PIN脚挨个测试对比，效率低下，易误判，同时pin比较密测试也极不方便。
技术实现思路
针对现有技术中无法高效准确的测试摄像模组管脚的开短路状态的技术问题，提供了一种摄像模组开短路测试装置、系统。本专利技术提供了一种摄像模组开短路测试装置，所述装置包括主控芯片、第一开关使能芯片、第二开关使能芯片、第三开关使能芯片以及恒流源；所述恒流源的输出端以及摄像模组地分别与所述第一开关使能芯片连接，所述第一开关使能芯片与所述主控芯片连接，所述主控芯片发送第一使能信号给所述第一开关使能芯片，所述第一开关使能芯片根据所述第一使能信号控制所述恒流源的输出端与摄像模组地连接；所述第二开关使能芯片与所述主控芯片、摄像模组各待检测引脚以及摄像模组地连接，所述第三开关使能芯片与所述主控芯片、摄像模组各待检测引脚以及系统地连接；所述主控芯片发送第二使能信号给所述第二开关使能芯片以及第三开关使能芯片，所述第二开关使能芯片根据所述第二使能信号控制第一待检测引脚与摄像模组地连接，第二待检测引脚不与摄像模组地连接，所述第三开关使能芯片根据所述第二使能信号控制第二待检测引脚与系统地连接，所述第一待检测引脚不与系统地连接；其中第一待检测引脚为当前检测的一待检测引脚，第二待检测引脚为所述待检测引脚中除第一待检测引脚以外的引脚；所述主控芯片与摄像模组各待检引脚连接，所述主控芯片读取所述第一待检测引脚的电压，并根据所述电压确定所述第一待检测引脚的开短路状态。优选地，所述主控芯片包括引脚更换单元，所述引脚更换单元用于在一个所述待检测引脚检测完毕后，将所述第一待检测引脚更换为其他未检测的所述待检测引脚中的一个引脚。优选地，所述主控芯片还包括存储单元，所述存储单元用于存储各个所述待检测引脚的开短路状态。优选地，所述存储单元包括若干个寄存器。优选地，所述主控芯片还包括状态确定单元；所述状态确定单元判断所述电压是否大于或等于开路预定电压，若是，则所述第一待检测引脚为开路状态；若所述电压小于所述开路预定电压，则所述状态确定单元判断所述电压是否小于或等于短路预定电压，若是，则所述第一待检测引脚为短路状态，否则，第一待检测引脚为正常连接状态。优选地，所述三开关使能芯片包括若干个晶体管。优选地，所述主控芯片为CY8C3866AXI-040芯片。优选地，所述第一开关使能芯片和/或第二使能芯片为FST3125MTC14。本专利技术还公开了一种摄像模组开短路测试系统，所述系统包括上述装置以及信令发送器；所述信令发送器发送开始使能信令给所述装置，所述装置根据所述使能信令检测摄像模组各待检测引脚的开短路状态。优选地，所述装置与信令发送器采用I2C的通讯方式进行通讯。由上述技术方案可知，本专利技术提供一种摄像模组开短路测试装置、系统，其中的装置包括主控芯片、第一开关使能芯片、第二开关使能芯片、第三开关使能芯片以及恒流源；主控芯片发送第一使能信号给第一开关使能芯片，第一开关使能芯片控制恒流源的输出端与摄像模组地连接；主控芯片发送第二使能信号给第二开关使能芯片以及第三开关使能芯片，第二开关使能芯片控制第一待检测引脚与摄像模组地连接，第三开关使能芯片控制第二待检测引脚与系统地连接；其中第一待检测引脚为当前检测的一待检测引脚，第二待检测引脚为待检测引脚中除第一待检测引脚以外的引脚；主控芯片读取第一待检测引脚的电压，并根据电压确定第一待检测引脚的开短路状态，按顺序即可检测所有待检测引脚的开短路状态，可见该装置能够高效精确的测试各个待检测引脚的开短路状态。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些图获得其他的附图。图1是本专利技术的一较佳实施例的恒流源与第一开关使能芯片的连接电路图；图2是本专利技术的一较佳实施例的第三开关使能芯片与主控芯片、摄像模组的连接电路图；图3是本专利技术的一较佳实施例的第二开关使能芯片与主控芯片、摄像模组的连接电路图；图4是本专利技术的一较佳实施例的摄像模组的连接电路图；图5是本专利技术的一较佳实施例的主控芯片的连接电路图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。一种摄像模组开短路测试装置，所述装置包括主控芯片、第一开关使能芯片、第二开关使能芯片、第三开关使能芯片以及恒流源。所述恒流源的输出端以及摄像模组地分别与所述第一开关使能芯片连接，所述第一开关使能芯片与所述主控芯片连接，所述主控芯片发送第一使能信号给所述第一开关使能芯片，所述第一开关使能芯片根据所述第一使能信号控制所述恒流源的输出端与摄像模组地连接。优选地，恒流源的采用型号为LM334的芯片，第一开关使能芯片采用型号为FST3125MTC14的芯片，如图1、5所示，恒流源的输出端与第一开关使能芯片的1A引脚连接，摄像模组地与第一开关使能芯片的1B引脚连接，第一开关使能芯片使能端OE1与主控芯片一输出端连接，主控芯片发送第一使能信号给第一开关使能芯片，第一开关使能芯片使引脚1A和1B连接，即述恒流源的输出端与摄像模组地连接。所述第二开关使能芯片与所述主控芯片、摄像模组各待检测引脚以及摄像模组地连接，所述第三开关使能芯片与所述主控芯片、摄像模组各待检测引脚以及系统地连接。所述主控芯片发送第二使能信号给所述第二开关使能芯片以及第三开关使能芯片，所述第二开关使能芯片根据所述第二使能信号控制第一待检测引脚与摄像模组地连接，第二待检测引脚不与摄像模组地连接，所述第三开关使能芯片根据所述第二使能信号控制第二待检测引脚与系统地连接，所述第一待检测引脚不与系统地连接；其中第一待检测引脚为当前检测的一待检测引脚，第二待检测引脚为所述待检测引脚中除第一待检测引脚以外的引脚。其中摄像模组的待检测引脚有SGND、AVDD、DVDD、DOVDD、AFVDD、RESET、PWDN、MCLK、MIPI信号、I2C信号等。优选地，第三开关使能芯片包括若干个晶体管，型号为2N7002，每个待检测引脚均对应一个晶体管，利用晶体管控制待检测引脚是否与系统地连接。第二开关使能芯片采用型号为FST3125MTC14的芯片。所述主控芯片为CY8C3866AXI-040芯片。如图2、3、4、5所示，晶体管的基极连接主控芯片的一输出端，晶体管的集电极与待检测引脚连接，晶体管的发射机与系统地连接，主控芯片的输出端发送的信号能够控制晶体管导通和关断，即主控芯片通过晶体管控制待检测引脚是否与系统地连接。第二开关使能芯片的各个使能端与主控芯片的输出端连接，例如OE2与主控芯片的一输出端连接，各开关分别控制各待检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种摄像模组开短路测试装置，其特征在于，所述装置包括主控芯片、第一开关使能芯片、第二开关使能芯片、第三开关使能芯片以及恒流源；所述恒流源的输出端以及摄像模组地分别与所述第一开关使能芯片连接，所述第一开关使能芯片与所述主控芯片连接，所述主控芯片发送第一使能信号给所述第一开关使能芯片，所述第一开关使能芯片根据所述第一使能信号控制所述恒流源的输出端与摄像模组地连接；所述第二开关使能芯片与所述主控芯片、摄像模组各待检测引脚以及摄像模组地连接，所述第三开关使能芯片与所述主控芯片、摄像模组各待检测引脚以及系统地连接；所述主控芯片发送第二使能信号给所述第二开关使能芯片以及第三开关使能芯片，所述第二开关使能芯片根据所述第二使能信号控制第一待检测引脚与摄像模组地连接，第二待检测引脚不与摄像模组地连接，所述第三开关使能芯片根据所述第二使能信号控制第二待检测引脚与系统地连接，所述第一待检测引脚不与系统地连接；其中第一待检测引脚为当前检测的一待检测引脚，第二待检测引脚为所述待检测引脚中除第一待检测引脚以外的引脚；所述主控芯片与摄像模组各待检引脚连接，所述主控芯片读取所述第一待检测引脚的电压，并根据所述电压确定所述第一待检测引脚的开短路状态。...

【技术特征摘要】
1.一种摄像模组开短路测试装置，其特征在于，所述装置包括主控芯片、第一开关使能芯片、第二开关使能芯片、第三开关使能芯片以及恒流源；所述恒流源的输出端以及摄像模组地分别与所述第一开关使能芯片连接，所述第一开关使能芯片与所述主控芯片连接，所述主控芯片发送第一使能信号给所述第一开关使能芯片，所述第一开关使能芯片根据所述第一使能信号控制所述恒流源的输出端与摄像模组地连接；所述第二开关使能芯片与所述主控芯片、摄像模组各待检测引脚以及摄像模组地连接，所述第三开关使能芯片与所述主控芯片、摄像模组各待检测引脚以及系统地连接；所述主控芯片发送第二使能信号给所述第二开关使能芯片以及第三开关使能芯片，所述第二开关使能芯片根据所述第二使能信号控制第一待检测引脚与摄像模组地连接，第二待检测引脚不与摄像模组地连接，所述第三开关使能芯片根据所述第二使能信号控制第二待检测引脚与系统地连接，所述第一待检测引脚不与系统地连接；其中第一待检测引脚为当前检测的一待检测引脚，第二待检测引脚为所述待检测引脚中除第一待检测引脚以外的引脚；所述主控芯片与摄像模组各待检引脚连接，所述主控芯片读取所述第一待检测引脚的电压，并根据所述电压确定所述第一待检测引脚的开短路状态。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主控芯片包括引脚更换单元，所述引脚更换单元用于在一个所述待检测引脚检测完毕后，将所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨金彪，
申请(专利权)人：湖北三赢兴电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42