The invention relates to a crystal upconversion luminescence characteristic measuring device, which comprises excitation light path, sample stage, spectrometer and computer; samples showed disc and the driving device driven by rotating around its center axis, the sample table is provided with at least two for placing the samples, and the kinds of taste uniform on the sample table and located in the same sample stage to the center of the circle; excitation light path comprises a laser, polarizer and lens, the laser through the center of the polarizer after vertical irradiation in the lens center laser, to focus on the sample stage of one sample; also relates to a method for measuring crystal upconversion luminescence properties. The device of the present invention can rapidly measure up conversion luminescence characteristics of a plurality of crystal samples, thereby improving the measuring efficiency, and having high measurement stability and good reliability of measurement results.
【技术实现步骤摘要】
一种晶体上转换发光特性测量装置及测量方法
本专利技术涉及光电材料领域,尤其涉及一种晶体上转换发光特性测量装置及测量方法。
技术介绍
随着科技的发展,光电子功能材料已经成为人们日常应用当中重要的组成部分,高效、稳定的光电子功能材料的探索研究渐渐成为了一个热门的领域。稀土发光材料在光电子功能材料中扮演了非常重要的角色,其中上转换发光材料则是一种重要的稀土发光材料,其具有能量上转换、荧光寿命长、发光稳定、低背景噪音、高组织穿透性等优点,因而在医疗检查、防伪技术、三维立体显示、通讯、探测等领域具有巨大应用潜力,近年来受到广泛关注。上转换发光材料的上转换发光特性是其非常重要的参数,因此,研究上转换材料的上转换发光特性就显得特别重要。然而传统的上转换荧光特性测试装置的测量过程比较繁锁,且效率较低,这在很大程度上限制了上转换荧光测量的效率。
技术实现思路
本专利技术所要解决的第一个技术问题是针对现有技术而提供一种结构简单且测量效率高的晶体上转换发光特性测量装置。本专利技术所要解决的第二个技术问题是针对现有技术而提供一种测量效率高且精确的晶体上转换发光特性测量方法。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案为:一种晶体上转换发光特性测量装置,其特征在于,包括用于激发样品发出上转换荧光信号的激发光路,用于放置上述样品的样品台,用于采集样品的上转换荧光信号并转化成荧光光谱数据的光谱仪,以及接收荧光光谱数据并进行分析对比的计算机;所述样品台呈圆盘状并可在驱动装置驱动下绕其自身中心轴旋转,该样品台上设置有至少两个用于放置样品的样品位,且各样品位均布在样品台上并位于同一个以样品台的中心 ...
【技术保护点】
一种晶体上转换发光特性测量装置,其特征在于,包括用于激发样品(3)发出上转换荧光信号的激发光路(1),用于放置上述样品(3)的样品台(2),用于采集样品(3)的上转换荧光信号并转化成荧光光谱数据的光谱仪(5),以及接收荧光光谱数据并进行分析对比的计算机(7);所述样品台(2)呈圆盘状并可在驱动装置驱动下绕其自身中心轴旋转,该样品台(2)上设置有至少两个用于放置样品(3)的样品位,且各样品位均布在样品台(2)上并位于同一个以样品台(2)的中心为圆心的圆上;所述激发光路(1)包括激光器(11)、偏振片(12)以及透镜(13),所述激光器(11)的出射激光通过偏振片(12)的正中心后垂直照射在透镜(13)的正中心,从而聚焦在样品台(2)的其中一个样品(3)上。
【技术特征摘要】
1.一种晶体上转换发光特性测量装置,其特征在于,包括用于激发样品(3)发出上转换荧光信号的激发光路(1),用于放置上述样品(3)的样品台(2),用于采集样品(3)的上转换荧光信号并转化成荧光光谱数据的光谱仪(5),以及接收荧光光谱数据并进行分析对比的计算机(7);所述样品台(2)呈圆盘状并可在驱动装置驱动下绕其自身中心轴旋转,该样品台(2)上设置有至少两个用于放置样品(3)的样品位,且各样品位均布在样品台(2)上并位于同一个以样品台(2)的中心为圆心的圆上;所述激发光路(1)包括激光器(11)、偏振片(12)以及透镜(13),所述激光器(11)的出射激光通过偏振片(12)的正中心后垂直照射在透镜(13)的正中心,从而聚焦在样品台(2)的其中一个样品(3)上。2.如权利要求1所述的晶体上转换发光特性测量装置,其特征在于,所述驱动装置为步进电机(4)。3.如权利要求1所述的晶体上转换发光特性测量装置,其特征在于,所述样品台(2)的底部支撑有可升降的载物台(6)。4.一种利用如权利要求1所述的装置的上转换发光特性测量...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡雪芳,陶卫东,何仕楠,顾银炜,夏海平,
申请(专利权)人:宁波大学,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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