An electrical test system is adapted to perform electrical testing on a device fabricated on a continuous frame of a substrate coil, each frame comprising a plurality of reference markers. The digital imaging system captures the digital image of the frame and analyzes the digital image to determine the spatial relationship between the position of a set of test pads and the location of the reference mark. The frame is advanced to the electrical test fixture including a set of test probes suitable for electrical contact with the test pads. A reference sensing system comprising a plurality of reference sensors determines the position of the reference mark. In response to determine the spatial relationship and determine the position of fiducial mark position adjustment of the electrical test fixture, making the test probe and the corresponding test pad alignment, and the implementation of the electrical test device.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有视觉引导对准的电气测试系统专利
本专利技术涉及卷对卷电气测试领域,并且更具体地涉及用于接触待测试装置的测试焊盘的测试探针的视觉引导对准。专利技术背景触摸屏是具有可被配置来检测例如通过手指、手或触笔的触摸的存在和位置的区域的视觉显示器。触摸屏可在电视、计算机、计算机外围装置、移动计算装置、汽车、电器以及游戏控制台中以及在其他工业、商业和家庭应用中找到。电容式触摸屏包括基本上透明的基板,其设置有不过度损害透明度的导电图案,或者因为导体由基本上透明的材料诸如氧化铟锡制成,或者因为导体足够窄,使得透明度由不包含导体的相对较大的开放区域提供。对于具有金属导体的电容式触摸屏,有利的是特征是高度导电但也很窄的。电容式触摸屏传感器膜是具有由无电镀金属层产生的具有改进的导电率的非常精细的特征的物品的实例。投射电容式触摸技术是电容式触摸技术的变型。投射电容式触摸屏由形成栅格的导电材料的行和列的矩阵构成。施加到此栅格的电压产生均匀的静电场,所述静电场可被测量。当导电物体(诸如手指)接触时,其使所述点处的局部静电场变形。这可作为电容的变化来测量。可在栅格上的每个交叉点处测量电容。以这种方式,系统能够准确地跟踪触摸。投射电容式触摸屏可使用互电容传感器或自电容传感器。在互电容传感器中,在每行和每列的每个交叉处存在电容器。例如,16×14阵列将具有224个独立电容器。电压施加到行或列。将手指或导电触笔靠近传感器的表面改变局部静电场,这减小了互电容。可测量栅格上每个单独点处的电容变化,以便通过测量另一轴上的电压来准确地确定触摸位置。互电容允许多触摸操作,其中多个手指、手掌或触笔可 ...
【技术保护点】
一种电气测试系统,其被配置来测试在基板卷材的连续框架上制造的一系列装置,每个框架包括多个基准标记以及具有一系列测试焊盘的装置,所述电气测试系统包括:卷材传送系统,其用于使所述基板卷材沿着卷材传送路径前进;电气测试夹具,其包括适于与所述基板卷材上的特定装置的所述测试焊盘进行电气接触的一组测试探针;测试仪器,其与所述组测试探针相关联;数字成像系统,其被配置来捕获特定框架的包括所述特定装置的所述测试焊盘以及所述基准标记的至少一部分的数字图像;基准感测系统,其包括多个基准传感器,每个基准传感器适于感测相关联的基准标记的位置;以及控制器,其被配置来:分析由所述数字成像系统捕获的数字图像,以确定所述捕获数字图像中测试焊盘的位置与所述基准标记的位置之间的空间关系;使用所述基准感测系统确定所述基准标记的位置;响应于测试焊盘的位置与所述基准标记的位置之间的所述确定空间关系以及所述基准标记的所述确定位置调整所述电气测试夹具的位置,使得所述测试探针与对应的测试焊盘对准;移动所述测试探针与所述测试焊盘电气接触;以及使用所述测试仪器执行所述特定装置的电气测试。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.10.08 US 14/5092721.一种电气测试系统,其被配置来测试在基板卷材的连续框架上制造的一系列装置,每个框架包括多个基准标记以及具有一系列测试焊盘的装置,所述电气测试系统包括:卷材传送系统,其用于使所述基板卷材沿着卷材传送路径前进;电气测试夹具,其包括适于与所述基板卷材上的特定装置的所述测试焊盘进行电气接触的一组测试探针;测试仪器,其与所述组测试探针相关联;数字成像系统,其被配置来捕获特定框架的包括所述特定装置的所述测试焊盘以及所述基准标记的至少一部分的数字图像;基准感测系统,其包括多个基准传感器,每个基准传感器适于感测相关联的基准标记的位置;以及控制器,其被配置来:分析由所述数字成像系统捕获的数字图像,以确定所述捕获数字图像中测试焊盘的位置与所述基准标记的位置之间的空间关系;使用所述基准感测系统确定所述基准标记的位置;响应于测试焊盘的位置与所述基准标记的位置之间的所述确定空间关系以及所述基准标记的所述确定位置调整所述电气测试夹具的位置,使得所述测试探针与对应的测试焊盘对准;移动所述测试探针与所述测试焊盘电气接触;以及使用所述测试仪器执行所述特定装置的电气测试。2.如权利要求1所述的电气测试系统,其中所述数字成像系统包括线扫描摄像机,所述线扫描摄像机被配置来在所述基板卷材在介质前进方向上沿着所述卷材传送路径移动时捕获一组连续图像线,其中所述组连续图像线被组合以提供所述数字图像。3.如权利要求2所述的电气测试系统,其中所述数字成像系统还包括编码器,所述编码器被配置来接触所述基板卷材的表面并且提供表示所述基板卷材的位置的编码器信号,并且其中响应于所述编码器信号确定用于捕获所述连续图像线的定时。4.如权利要求3所述的电气测试系统,其中所述基准传感器中的至少两个沿着所述介质前进方向彼此间隔开,并且其中使用所述基准传感器中的所述至少两个确定的所述基准标记的所述位置之间的差用于校准所述编码器信号。5.如权利要求2所述的电气测试系统,其中提供所述线扫描摄像机与所述基准感测系统之间的距离,使得当框架的所述基准标记接近所述相关联基准传感器时,所述线扫描摄像机的视场定位在两个连续框架之间的框架间区域中。6.如权利要求1所述的电气测试系统,其中所述基准传...
【专利技术属性】
技术研发人员:EK蔡斯,TA勒布朗,KM奥康诺尔,
申请(专利权)人:伊斯曼柯达公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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