一种干扰测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种干扰测试方法及装置。一方面，本发明专利技术实施例通过检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度；若第一状态和第二状态的灵敏度差值大于等于预设阈值，则获取差值大于等于预设阈值的目标频段测试信道；检测待测试设备在目标频段测试信道中第三状态的灵敏度，若第三状态的灵敏度和第一状态的灵敏度差值大于等于预设阈值，则确认目标频段测试信道的灵敏度受第一状态的干扰。本发明专利技术实施例技术方案能够克服了现有技术中对每一状态在多个频段测试信道一一进行测试时耗时长，确定干扰状态慢的问题；将两个状态的干扰测试二合为一，减少测试次数，确定目标频段测试信道，覆盖绝大多数干扰频点，减少测试时间。

Interference testing method and device

The embodiment of the invention provides a interference testing method and device. On the one hand, the sensitivity of the embodiment of the invention through the detection device to be tested first and second states in the same frequency band test in the channel; if the sensitivity difference between the first state and the second state is greater than or equal to a preset threshold value, obtaining the difference is greater than or equal to the target frequency test channel threshold; sensitivity detection device to be tested in the target frequency third the test channel state, if the sensitivity difference sensitivity of third state and the first state is greater than or equal to a preset threshold, then confirm the sensitivity of target band test channel interference from the first state. The method and the device can overcome the existing technologies of each state in a multi band channel test one by one test is time-consuming, determine the interference problem of slow state; two state interference test two in one, reducing the number of testing, to determine the target band test channel, covering the majority of interference frequency point, reduce test time.

【技术实现步骤摘要】
一种干扰测试方法及装置
本专利技术涉及信号测试
，尤其涉及一种干扰测试方法及装置。
技术介绍
对于类似手机的电子产品在出厂前必须进行一系列功能测试，以手机为例，用以检验该手机的功能是否能正常操作。因此，手机在工厂组装出货之前，由公司内部的研发人员对该手机先进行一系列的功能测试，待测试正常后，该手机才顺利地出场销售。从而确保该手机具有稳定品质，让消费者能安心购买及使用。此外，研发人员在对手机进行测试的过程中，也可以在手机认证之前尽早发现问题，以降低取得手机许可证所需要的成本支出。在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：目前手机干扰测试，由于有很多频段的测试信道，例如在手机亮屏测试和摄像头射频灵敏度干扰测试时，需要对每一个频段的测试信道状态下的手机进行亮屏状态干扰测试，以及对每一个频段的测试信道状态下的手机进行摄像头灵敏度干扰测试，比如在亮屏状态下无干扰问题时，还需要重新对每个频段下的手机进行摄像头灵敏度干扰测试，再确认手机摄像头是否有干扰问题，浪费了大量的测试时间。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种干扰测试方法及装置，用以解决现有技术测试效率低的问题。一方面，本专利技术实施例提供了一种干扰测试方法，包括：检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度；若所述第一状态和第二状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值，则获取所述差值大于等于预设阈值的目标频段测试信道；检测所述待测试设备在所述目标频段测试信道中第三状态的灵敏度，若所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值，则确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第一状态的干扰。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，在检测所述待测试设备在所述目标频段测试信道中第三状态的灵敏度之后，所述方法还包括：若所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值小于预设阈值，则确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第二状态的干扰。在检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度之前，所述方法还包括：预先划分多个频段测试信道。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述预设阈值为3dB。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第一状态为待测试设备灭屏状态，所述第二状态为待测试设备开启摄像头状态，所述第三状态为待测试设备亮屏状态。上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果：通过比较待测试设备在同一频段测试信道中的两个状态灵敏度的差值，准确获取出现干扰问题的目标频段的测试信道，再通过获取目标频段的测试信道中分别将两个状态与第三状态的灵敏度的差值与预设阈值进行比较，并确定出现干扰时对应的状态，克服了现有技术中对每一状态在多个频段测试信道一一进行测试时测试耗时长，确定干扰状态慢的问题；另外将两个状态的干扰测试二合为一，减少测试次数，确定目标频段测试信道，覆盖绝大多数干扰频点，减少测试时间。另一方面，本专利技术实施例提供了一种干扰测试装置，包括：灵敏度检测模块，用于检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度；测试信道获取模块，用于在所述第一状态和第二状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值时，获取所述差值大于等于预设阈值的目标频段测试信道；所述灵敏度检测模块，还用于检测所述待测试设备在所述目标频段测试信道中第三状态的灵敏度；干扰确认模块，用于在所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值时，确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第一状态的干扰。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述干扰确认模块，还用于所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值小于预设阈值时，确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第二状态的干扰。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述装置还包括：信道划分模块，用于预先划分多个频段测试信道。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述预设阈值为3dB。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第一状态为待测试设备灭屏状态，所述第二状态为待测试设备开启摄像头状态，所述第三状态为待测试设备亮屏状态。上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果：通过灵敏度检测模块获取待测试设备在同一频段测试信道中的两个状态灵敏度，测试信道获取模块比较待测试设备在同一频段测试信道中的两个状态灵敏度的差值，准确获取出现干扰问题的目标频段的测试信道，再通过灵敏度检测模块获取目标频段的测试信道中分别将两个状态与第三状态的灵敏度的差值与预设阈值进行比较，并通过干扰确认模块确定出现干扰时对应的状态，克服了现有技术中对每一状态在多个频段测试信道一一进行测试时测试耗时长，确定干扰状态慢的问题；另外将两个状态的干扰测试二合为一，减少测试次数，确定目标频段测试信道，覆盖绝大多数干扰频点，减少测试时间。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1是本专利技术实施例所提供的干扰测试方法的实施例一的流程示意图；图2是本专利技术实施例所提供的干扰测试方法的实施例二的流程示意图；图3是本专利技术实施例所提供的干扰测试装置的实施例三的结构示意图；【具体实施方式】为了更好的理解本专利技术的技术方案，下面结合附图对本专利技术实施例进行详细描述。应当明确，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本专利技术。在本专利技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。应当理解，尽管在本专利技术实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述待测试设备的状态，但这些待测试设备的状态不应限于这些术语。这些术语仅用来将待测试设备的状态彼此区分开。例如，在不脱离本专利技术实施例范围的情况下，第一状态也可以被称为第二状态，类似地，第二状态也可以被称为第一状态。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。实施例一本专利技术实施例给出一种干扰测试方法，请参考图1，其为本专利技术实施例所提供的方法的流程示意图，如图所示，该方法包括以下步骤：S101，检测待测试设备在同一频段测试信道中第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种干扰测试方法，其特征在于，包括：检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度；若所述第一状态和第二状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值，则获取所述差值大于等于预设阈值的目标频段测试信道；检测所述待测试设备在所述目标频段测试信道中第三状态的灵敏度，若所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值，则确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第一状态的干扰。

【技术特征摘要】
1.一种干扰测试方法，其特征在于，包括：检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度；若所述第一状态和第二状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值，则获取所述差值大于等于预设阈值的目标频段测试信道；检测所述待测试设备在所述目标频段测试信道中第三状态的灵敏度，若所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值，则确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第一状态的干扰。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在检测所述待测试设备在所述目标频段测试信道中第三状态的灵敏度之后，所述方法还包括：若所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值小于预设阈值，则确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第二状态的干扰。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度之前，所述方法还包括：预先划分多个频段测试信道。4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述预设阈值为3dB。5.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一状态为待测试设备灭屏状态，所述第二状态为待测试设备开启摄像头状态，所述第三状态为待测试设...

【专利技术属性】
技术研发人员：王坤，
申请(专利权)人：深圳天珑无线科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44