一种实验室培养皿综合温度检测管理系统技术方案

本发明专利技术公开了一种实验室培养皿综合温度检测管理系统，包括存储器、显示模块、单片机处理中心、接口电路和单元电路；单元电路包括下位机电路、检测电路和输出控制电路，单元电路通过接口电路连接单片机处理中心，单片机处理中心还分别连接存储器和显示模块。本发明专利技术系统采用了一个单片机控制多个下位机的集总式结构，不仅简化了系统结构，实现了多点监控，而且使用单片机作为主控单元，提高了系统的稳定性和抗干扰性，主控单元连接显示屏，能够将下位机反馈的信息分别处理输出在显示屏上，使用本系统进行多点温度监控不仅性能稳定、监控结果精准、结构简单，而且操作方便，便于调试和控制。

Integrated temperature detection management system for laboratory culture dish

The invention discloses a dish temperature detection and management system of a laboratory culture, including memory, display module, MCU processing center, interface circuit and circuit unit; unit circuit including MCU circuit, detection circuit and the output control circuit, circuit unit through the interface circuit connected with the single-chip microcontroller processing center, processing center is respectively connected with the memory and display module. The system uses a single-chip control multiple slave lumped structure, not only simplifies the system structure, realizes the multi point monitoring, and the use of single-chip microcomputer as the main control unit, and improve the anti-interference of system stability, the main control unit is connected with the display screen, can lower computer feedback information processing the output on the screen, use the system for multi-point temperature monitoring not only stable and accurate monitoring results, simple structure, convenient operation and easy to debug and control.

【技术实现步骤摘要】
一种实验室培养皿综合温度检测管理系统
本专利技术涉及一种管理系统，具体是一种结构简单、性能稳定、传输距离远的实验室培养皿综合温度检测管理系统。
技术介绍
培养皿是一种用于微生物或细胞培养的实验室器皿，由一个平面圆盘状的底和一个盖组成，一般用玻璃或塑料制成。培养皿材质基本上分为两类，主要为塑料和玻璃的，玻璃的可以用于植物材料、微生物培养和动物细胞的贴壁培养也可能用到。塑料的可能是聚乙烯材料的，有一次性的和多次使用的，适合实验室接种、划线、分离细菌的操作，可以用于植物材料的培养。由于同一个实验室中会存在多个培养皿，而每个培养皿真对所培植的细菌种类不同，其最适宜的生长环境也不同，因此需要对各个培养皿中的温度进行单独的控制。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种实验室培养皿综合温度检测管理系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种实验室培养皿综合温度检测管理系统，包括存储器、显示模块、单片机处理中心、接口电路和单元电路；所述单元电路包括下位机电路、检测电路和输出控制电路，单元电路通过接口电路连接单片机处理中心，单片机处理中心还分别连接存储器和显示模块。作为本专利技术的优选方案：所述下位机电路包括芯片IC2、电容C1和电容C2，所述检测电路包括芯片IC1和电阻R5、所述输出控制电路包括继电器J和三极管VT1，继电器J的一端连接二极管D1的负极、光耦合器M的1端口和电源U1，继电器J的另一端连接二极管D1的正极和三极管VT1的集电极，三极管VT1的基极连接电阻R1，三极管VT1的发射极连接电阻R2并接地，电阻R1的另一端连接光耦合器M的2端口和电阻R2的另一端，光耦合器的3端口连接电阻R3，电阻R3的另一端连接电阻R5、电阻R6、继电器J的触点J-1、芯片IC1的1引脚、芯片IC2的5引脚和电源U2，电阻R5的另一端连接芯片IC1的2引脚和芯片IC2的1引脚，芯片IC1的3引脚接地，芯片IC2的2引脚连接电容C1和晶振X1、电容C1的另一端连接电容C2并接地，电容C2的另一端连接晶振X1的另一端和芯片IC2的3引脚，光耦合器M的4端口连接电阻R4，电阻R4的另一端连接芯片IC2的4引脚，芯片IC2的6引脚连接电阻R6的另一端和芯片IC4的1引脚，芯片IC2的7引脚连接芯片IC4的2引脚，芯片IC2的8引脚连接芯片IC3的1引脚，芯片IC2的9引脚接地，芯片IC3的2引脚连接芯片IC4的3引脚和芯片IC4的4引脚，芯片IC4的5引脚接地，芯片IC4的6引脚连接继电器J的触点J-1，芯片IC4的7引脚连接电阻R7和输出OUT，电阻R7的另一端连接芯片IC4的8引脚和输出OUT。作为本专利技术的优选方案：所述芯片IC1为DS18B20型温度传感器，芯片IC2为STC89C52型单片机，所述芯片IC3为7404型反相器，所述芯片IC4为MAX485接口芯片。作为本专利技术的优选方案：所述单片机处理中心的主控单元为AT89C51单片机集成电路。作为本专利技术的优选方案：所述电源U1为12V直流电，所述电源U2为5V直流电。作为本专利技术的优选方案：所述单元电路的个数为n，n=1、2、3···。作为本专利技术的优选方案：所述显示模块为触摸液晶屏。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：系统采用了一个单片机控制多个下位机的集总式结构，不仅简化了系统结构，实现了多点监控，而且使用单片机作为主控单元，提高了系统的稳定性和抗干扰性，主控单元连接显示屏，能够将下位机反馈的信息分别处理输出在显示屏上，使用本系统进行多点温度监控不仅性能稳定、监控结果精准、结构简单，而且操作方便，便于调试和控制。附图说明图1为一种实验室培养皿综合温度检测管理系统的方框图；图2为下位机的电路图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-2，一种实验室培养皿综合温度检测管理系统，包括存储器、显示模块、单片机处理中心、接口电路和单元电路；所述单元电路包括下位机电路、检测电路和输出控制电路，单元电路通过接口电路连接单片机处理中心，单片机处理中心还分别连接存储器和显示模块。作为本专利技术的优选方案：所述下位机电路包括芯片IC2、电容C1和电容C2，所述检测电路包括芯片IC1和电阻R5、所述输出控制电路包括继电器J和三极管VT1，继电器J的一端连接二极管D1的负极、光耦合器M的1端口和电源U1，继电器J的另一端连接二极管D1的正极和三极管VT1的集电极，三极管VT1的基极连接电阻R1，三极管VT1的发射极连接电阻R2并接地，电阻R1的另一端连接光耦合器M的2端口和电阻R2的另一端，光耦合器的3端口连接电阻R3，电阻R3的另一端连接电阻R5、电阻R6、继电器J的触点J-1、芯片IC1的1引脚、芯片IC2的5引脚和电源U2，电阻R5的另一端连接芯片IC1的2引脚和芯片IC2的1引脚，芯片IC1的3引脚接地，芯片IC2的2引脚连接电容C1和晶振X1、电容C1的另一端连接电容C2并接地，电容C2的另一端连接晶振X1的另一端和芯片IC2的3引脚，光耦合器M的4端口连接电阻R4，电阻R4的另一端连接芯片IC2的4引脚，芯片IC2的6引脚连接电阻R6的另一端和芯片IC4的1引脚，芯片IC2的7引脚连接芯片IC4的2引脚，芯片IC2的8引脚连接芯片IC3的1引脚，芯片IC2的9引脚接地，芯片IC3的2引脚连接芯片IC4的3引脚和芯片IC4的4引脚，芯片IC4的5引脚接地，芯片IC4的6引脚连接继电器J的触点J-1，芯片IC4的7引脚连接电阻R7和输出OUT，电阻R7的另一端连接芯片IC4的8引脚和输出OUT。芯片IC1为DS18B20型温度传感器，芯片IC2为STC89C52型单片机，所述芯片IC3为7404型反相器，所述芯片IC4为MAX485接口芯片。单片机处理中心的主控单元为AT89C51单片机集成电路。电源U1为12V直流电，所述电源U2为5V直流电。单元电路的个数为n，n=1、2、3···。显示模块为触摸液晶屏。本专利技术的工作原理是：为了满足多通道数据采集和处理，系统采用了一个单片机和多个下位机的集总式结构。单片机采用AT89C51系列，下位机采用STC89C52型单片机。单片机处理中心与下位机之间采用RS485总线通信。其中单片机处理中心配置显示屏和存储器。可以通过液晶显示屏调整各个点的预置温度和系统时间，查询各个点的预置温度值、实际温度值以及调温设备运行情况，输入下位机的控制信息。液晶显示屏用于显示系统时间，以及各点的预置温度值、实际温度值和调温设备运行情况，如1min内没有任何操作，则液晶显示屏上开始循环显示各个点的实际温度值、预置温度值以及调温设备运转情况，每一个点的数据在液晶屏上显示的时间等。下位机负责温度采集和控制调温设备运转，温度传感器采用DSl8820，采集到的温度信号通过MAX485接口芯片传输给单片机处理中心，在上传信号结束后进行复位操作，复位时，为了避免各下位机信号混乱的情况，总线上的各下位机应处于接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实验室培养皿综合温度检测管理系统，包括存储器、显示模块、单片机处理中心、接口电路和单元电路；其特征在于，所述单元电路包括下位机电路、检测电路和输出控制电路，单元电路通过接口电路连接单片机处理中心，单片机处理中心还分别连接存储器和显示模块。

【技术特征摘要】
1.一种实验室培养皿综合温度检测管理系统，包括存储器、显示模块、单片机处理中心、接口电路和单元电路；其特征在于，所述单元电路包括下位机电路、检测电路和输出控制电路，单元电路通过接口电路连接单片机处理中心，单片机处理中心还分别连接存储器和显示模块。2.根据权利要求1所述的一种实验室培养皿综合温度检测管理系统，其特征在于，所述下位机电路包括芯片IC2、电容C1和电容C2，所述检测电路包括芯片IC1和电阻R5、所述输出控制电路包括继电器J和三极管VT1，继电器J的一端连接二极管D1的负极、光耦合器M的1端口和电源U1，继电器J的另一端连接二极管D1的正极和三极管VT1的集电极，三极管VT1的基极连接电阻R1，三极管VT1的发射极连接电阻R2并接地，电阻R1的另一端连接光耦合器M的2端口和电阻R2的另一端，光耦合器的3端口连接电阻R3，电阻R3的另一端连接电阻R5、电阻R6、继电器J的触点J-1、芯片IC1的1引脚、芯片IC2的5引脚和电源U2，电阻R5的另一端连接芯片IC1的2引脚和芯片IC2的1引脚，芯片IC1的3引脚接地，芯片IC2的2引脚连接电容C1和晶振X1、电容C1的另一端连接电容C2并接地，电容C2的另一端连接晶振X1的另一端和芯片IC2的3引脚，光耦合器M的4端口连接电阻R4，电阻R4的另一端连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：周源思，
申请(专利权)人：广西大学，
类型：发明
国别省市：广西,45