LCD驱动芯片的测试系统及方法技术方案

一种LCD驱动芯片的测试系统及方法，所述测试系统包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。上述方案能够提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。

Test system and method for LCD drive chip

A test system and method of LCD driver, including the test system: Taiwan and chip bearing testing machine, wherein the chip bearing units, and the test machine coupling, suitable for carrying the LCD driving chip; the test machine, and the measured LCD driver chip is coupled with the. Is suitable to the measured LCD driver output mode set command to set the actual operating mode of the LCD drive chip; in the actual operating mode, receives the measured LCD driver output waveform, voltage waveform were extracted from each frame in every state of the value. The threshold voltage and are respectively connected with the waveform of each frame of each state under the default comparison, comparison results of each frame waveform; the comparison results of each frame waveform and the actual operating mode under the preset value of each frame waveform Compare the results of all the frame waveforms in the actual working mode. These schemes can improve the accuracy and efficiency of LCD driver chip testing.

【技术实现步骤摘要】
LCD驱动芯片的测试系统及方法
本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种LCD驱动芯片的测试系统及方法。
技术介绍
目前，液晶屏显示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)已经广泛应用于数码产品领域，与之配套的LCD驱动芯片的需求量也大幅度增加。LCD驱动芯片的测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中，是保证驱动芯片品质的重要手段。现有技术中，在对LCD驱动芯片进行测试时，通常是将LCD驱动芯片的波形所对应的显示器图形通过模拟器进行显示，测试人员通过示波器观察LCD显示驱动芯片的输出波形或模拟器的显示界面，并与理论上的仿真波形进行比对，来验证LCD驱动芯片的功能是否符合要求。然而，现有的LCD驱动芯片测试方法易受测试人员的主观因素影响，测试准确度较差。此外，通过人工观察芯片的输出波形存在测试效率较低的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例解决的技术问题是如何提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种LCD驱动芯片的测试系统，包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。可选的，所述测试机，将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，1≤i≤n-1，Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果。可选的，所述测试机，还适于接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压，并将所述偏置电压与所述实际工作模式下的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果；所述测试机输出测试结果，所述测试结果包括：所述所有帧波形的比较结果，以及所述偏置电压的比较结果。可选的，所述测试机，还适于将所述测试结果输出至所述芯片承载台；所述芯片承载台还适于在接收到所述测试结果时，根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。可选的，所述LCD驱动芯片包括时钟信号输入端，所述时钟信号输入端与所述测试机的时钟信号输出端耦接；所述测试机，适于根据向所述所测LCD驱动芯片输出时钟信号的时刻点，对接收到的所述所测LCD驱动芯片输出的波形进行同步。可选的，所述芯片承载台包括以下任一种：机械手、探针台。本专利技术实施例还提供了一种LCD驱动芯片的测试方法，包括：向所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令；设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形；依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值；将所述每帧波形在每一个状态下的电压值分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果；输出所述测试结果。可选的，将所述每帧波形在每一个状态下的电压值分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，包括：将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，1≤i≤n-1，Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果。可选的，在输出所述测试结果之前，还包括：接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压；将所述偏置电压与所述实际下的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果；所述测试结果还包括所述偏置电压的比较结果。可选的，所述输出测试结果，包括：将所述测试结果输出至承载所述所测LCD驱动芯片的芯片承载台，使得所述芯片承载台根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。可选的，所述芯片承载台包括以下任一种：机械手、探针台。可选的，在向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令之前，还包括：向所述所测LCD驱动芯片的时钟信号输入端输入时钟信号；根据向所述所测LCD驱动芯片输出时钟信号的时刻点，对接收到的所述所测LCD驱动芯片输出的波形进行同步。与现有技术相比，本专利技术实施例的技术方案具有以下有益效果：在接收到所测LCD驱动芯片生成的与实际工作模式对应的波形时，提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与实际工作模式下每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，从而可以获取每帧波形的比较结果。将每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值进行对比，获取实际工作模式下所有帧波形的比较结果，从而完成对所测LCD驱动芯片的测试。上述方案将所测LCD驱动芯片输出的波形对应的电压与实际工作模式预设的电压阈值进行比较，并不依赖于人工观察芯片的输出波形，故可以提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。进一步，在测试完成后，测试机将测试结果输出至芯片承载台。芯片承载台根据测试结果将LCD驱动芯片进行分类或标记，可以自动地完成芯片分类，进一步提高LCD驱动芯片的测试效率。附图说明图1是本专利技术实施例中的一种LCD驱动芯片的测试系统的结构示意图；图2是本专利技术实施例中的一种偏置电压生成单元的结构示意图；图3是本专利技术实施例中的一种LCD驱动芯片输出的波形示意图；图4是本专利技术实施例中的一种LCD驱动芯片的COM0端口输出波形示意图；图5是本专利技术实施例中的一种LCD驱动芯片的测试方法的流程图。具体实施方式现有技术中，在对LCD驱动芯片进行测试时，通常是将LCD驱动芯片的波形所对应的显示器图形通过模拟器进行显示，测试人员通过示波器观察LCD显示驱动芯片的输出波形或模拟器的显示界面，并与理论上的仿真波形进行比对，来验证LCD驱动芯片的功能是否符合要求。然而，现有的LCD驱动芯片测试方法易受测试人员的主观因素影响，测试准确度较差。此外，通过人工观察芯片的输出波形需要花费大量的时间，导致LCD驱动芯片的测试效率较低。在本专利技术实施例中，在接收到所测LCD驱动芯片生成的与实际工作模式对应的波形时，提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与实际工作模式下每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，从而可以获本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。

【技术特征摘要】
1.一种LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。2.如权利要求1所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述测试机，适于将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，1≤i≤n-1，Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果。3.如权利要求1所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述测试机，还适于接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压，并将所述偏置电压与所述实际工作模式下的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果；所述测试机输出测试结果，所述测试结果包括：所述所有帧波形的比较结果，以及所述偏置电压的比较结果。4.如权利要求3所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述测试机，还适于将所述测试结果输出至所述芯片承载台；所述芯片承载台还适于在接收到所述测试结果时，根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。5.如权利要求1所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述LCD驱动芯片包括时钟信号输入端，所述时钟信号输入端与所述测试机的时钟信号输出端耦接；所述测试机，适于根据向所述所测LCD驱动芯片输出时钟信号的时刻点，对接收到的所述所测LCD驱动芯片输出的波形进行同步。6.如权利要求1～5任一项所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述芯片承载台包括以下任一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海群，周彦杰，赵启山，
申请(专利权)人：上海东软载波微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31