The invention relates to a plane type flying needle tester. The plane flying probe tester is used to test the circuit board, plane type flying probe testing machine comprises a feeding mechanism, a test host, feeding mechanism and feed mechanism; feeding mechanism for placing the circuit board; testing machine is used to electrically test on the circuit board and a test signal feeding mechanism; the test circuit board for the material; between the feeding mechanism and the feeding mechanism in the feeding mechanism, the feeding mechanism includes a first frame, the first transmission component and second transmission components, test host, first transmission components and second transmission components are arranged on the first frame; the first transmission components and second components are transmitted and the test host communication connection; the first component is used to transfer will be located in the feed mechanism of the circuit board is transported to the test host. The overall structure of the plane flying needle testing machine is relatively compact and simple; the plane type flying needle testing machine has compact structure and small occupation area.
【技术实现步骤摘要】
平面式飞针测试机
本专利技术涉及电路板的测试的
,特别是涉及一种平面式飞针测试机。
技术介绍
随着PCB(PrintedCircuitBoard,印刷电路板)技术不断进步,电路板逐渐向轻薄化的方向发展。电路板的结构变得越来越复杂,且可靠性要求越来越高,使电路板的检测要求也越来越高。当电路板的焊盘尺寸在2mil以下,且焊点间距为6mil时,通用测试机将无法进行测试,只能通过飞针测试机进行测试。飞针测试机主要有立式飞针测试机和平面式飞针测试机两种。相对于人工积极参与的立式飞针测试机而言,平面式飞针测试机能进行自动上下料测试,测试效率较高。然而,一般的平面式飞针测试机存在结构复杂且占地面积大的问题。
技术实现思路
基于此,有必要针对平面式飞针测试机存在结构复杂且占地面积大的问题,提供一种平面式飞针测试机。一种平面式飞针测试机,用于对电路板进行测试,所述平面式飞针测试机包括:上料机构,用于放置所述电路板;测试主机,用于对所述电路板进行电性测试并发出测试信号;下料机构,用于对测试后的所述电路板进行下料;以及送料机构,位于所述上料机构与所述下料机构之间,所述送料机构包括第一机架、第一传送组件和第二传送组件,所述测试主机、所述第一传送组件和所述第二传送组件均设置于所述第一机架上;所述第一传送组件和所述第二传送组件均与所述测试主机通信连接;所述第一传送组件用于将位于所述上料机构上的所述电路板输送至所述测试主机上,所述第二传送组件用于将位于所述测试主机上的电路板输送至所述下料机构上。上述的平面式飞针测试机,当测试主机发出测试信号时,第二传送组件将位于测试主机上的电路板输送 ...
【技术保护点】
一种平面式飞针测试机,用于对电路板进行测试,其特征在于,所述平面式飞针测试机包括:上料机构,用于放置所述电路板;测试主机,用于对所述电路板进行电性测试并发出测试信号;下料机构,用于对测试后的所述电路板进行下料;以及送料机构,位于所述上料机构与所述下料机构之间,所述送料机构包括第一机架、第一传送组件和第二传送组件,所述测试主机、所述第一传送组件和所述第二传送组件均设置于所述第一机架上;所述第一传送组件和所述第二传送组件均与所述测试主机通信连接;所述第一传送组件用于将位于所述上料机构上的所述电路板输送至所述测试主机上,所述第二传送组件用于将位于所述测试主机上的电路板输送至所述下料机构上。
【技术特征摘要】
1.一种平面式飞针测试机,用于对电路板进行测试,其特征在于,所述平面式飞针测试机包括:上料机构,用于放置所述电路板;测试主机,用于对所述电路板进行电性测试并发出测试信号;下料机构,用于对测试后的所述电路板进行下料;以及送料机构,位于所述上料机构与所述下料机构之间,所述送料机构包括第一机架、第一传送组件和第二传送组件,所述测试主机、所述第一传送组件和所述第二传送组件均设置于所述第一机架上;所述第一传送组件和所述第二传送组件均与所述测试主机通信连接;所述第一传送组件用于将位于所述上料机构上的所述电路板输送至所述测试主机上,所述第二传送组件用于将位于所述测试主机上的电路板输送至所述下料机构上。2.根据权利要求1所述的平面式飞针测试机,其特征在于,所述第一传送组件包括第一机械手和第一电机,所述第一机械手滑动连接于所述第一机架上,所述第一电机设于所述第一机架上;所述第一机械手与所述第一电机的动力输出端连接,所述第一电机驱动所述第一机械手相对于所述第一机架滑动;所述第一机械手用于将位于所述上料机构上的所述电路板输送至所述测试主机上;所述第二传送组件包括第二机械手和第二电机,所述第二机械手滑动连接于所述第一机架上,所述第二电机设于所述第一机架上;所述第二机械手与所述第二电机的动力输出端连接,所述第二电机驱动所述第二机械手相对于所述第一机架滑动;所述第二机械手用于将位于所述测试主机上的电路板输送至所述下料机构上。3.根据权利要求2所述的平面式飞针测试机,其特征在于,所述第一机架包括第一架本体、第一延伸架和第二延伸架,所述第一延伸架和所述第二延伸架分别连接于所述第一架本体的两侧;所述第一机械手分别滑动连接于所述第一架本体和所述第一延伸架上,所述第一电机设于所述第一架本体上;所述第一电机驱动所述第一机械手分别相对于所述第一架本体和所述第一延伸架滑动;所述第二机械手分别滑动连接于所述第一架本体和所述第二延伸架上,所述第二电机设于所述第一架本体上;所述第二电机驱动所述第二机械手分别相对于所述第一架本体和所述第二延伸架滑动。4.根据权利要求3所述的平面式飞针测试机,其特征在于,所述第一传送组件还包括第一带轮、第二带轮、第三带轮及第一传送带,所述第一带轮设于所述第一电机的输出轴上,所述第二带轮转动连接于所述第一延伸架上远离所述第一架本体的端部,所述第三带轮转动连接于所述第一架本体上,所述第一传送带分别缠绕于所述第一带轮、所述第二带轮和所述第三带轮上,所述第一机械手固定于所述第一传送带上,使所述第一机械手与所述第一电机的动力输出端连接;所述第二传送组件还包括第四带轮、第五带轮、第六带轮及第二传送带,所述第四带轮设于所述第二电机的动力输出轴上,所述第五带轮转动连接于所述第二延伸架上远离所述第一架本体的端部,所述第六带轮转动连接于所述第一架本体上,所述第二传送带分别缠绕于所述第四带轮、所述第五带轮和所述第六带轮上,所述第二机械手固定于所述第二传送带上,使所述第二机械手与所述第二电机的动力输出端连接。5.根据权利要求2至4任一项所述的平面式飞针测试机,其特征在于,所述第一...
【专利技术属性】
技术研发人员:谭艳萍,王星,翟学涛,杨朝辉,高云峰,
申请(专利权)人:大族激光科技产业集团股份有限公司,深圳市大族数控科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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