一种定位治具、测试下垂度的系统及使用方法技术方案

技术编号:15432749 阅读:164 留言:0更新日期:2017-05-25 17:05
本发明专利技术提供了一种定位治具、系统及使用方法,该定位治具包括:包含多个测试孔的支撑板和至少一个固定部,且支撑板和固定部相连,通过至少一个固定部将外部待测物件固定于支撑板,通过包含多个测试孔的支撑板确定待测物件的多个测试点。由于该定位治具,能够直接确定出测量点,不需要测试人员绘制网格线,能够有效的避免在绘制网格线过程中出现的错误,从而能够提高测试效率。

Positioning jig, system for testing sag degree and using method

The invention provides a positioning apparatus, system and method of use, the positioning apparatus includes: a support plate includes a plurality of test holes and at least one fixed part, and the support plate is connected with the fixing part, by means of at least one fixing part outside the object to be tested is fixed on the supporting plate, determining a plurality of test points to be measured the object through the support plate comprises a plurality of test holes. Because the positioning tool can directly determine the measuring points, and without the need for testers to draw grid lines, the errors in the process of drawing grid lines can be effectively avoided so as to improve the testing efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种定位治具、测试下垂度的系统及使用方法
本专利技术涉及服务器
,特别涉及一种定位治具、测试下垂度的系统及使用方法。
技术介绍
随着科技和互联网技术的飞速发展,大部分企业会将多个机架式服务器放入机柜中,然而由于机架式服务器的下垂,不仅会造成主板变形等问题,引起服务器本身结构的稳定性降低,而且会对机柜造成损伤。因此,对于新生产的服务器,只有下垂度达标才能投入使用。现在,在测量服务器下垂度的过程中,尤其在在确定所需测量点时,需要测试人员绘制网格线,网格线的交点就是测试点。在绘制过程中,经常会出现倾斜,间距错误的问题,从而,需要重新绘制。现有的确定测试点的方法需要测试人员绘制网格线,并且绘制过程中容易出现错误,造成测试效率低。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种定位治具、测试下垂度的系统及使用方法,能够提高测试效率。第一方面,本专利技术实施例提供了一种定位治具,该定位治具包括:包含多个测试孔的支撑板和至少一个固定部,其中,所述至少一个固定部与所述支撑板相连;所述至少一个固定部,用于将外部待测物件固定于所述支撑板。所述包含多个测试孔的支撑板,用于确定所述待测物件的多个测试点。优选地,所述支撑板为长方体;所述至少一个固定部,包括:位于所述支撑板四个角的四个卡扣。优选地,所述卡扣,包括:可调节固定高度的卡扣,其中所述可调节固定高度的卡扣,用于根据所述待测物件的高度,确定该卡扣的高度,以及将所述待测物件固定于所述支撑板。优选地,所述支撑板为长方体,其中,所述长方体的长边长为900mm、宽边长为482mm、高边长为10mm。优选地,所述多个测试孔以9行19列的方式排布,且每行相邻的两个测试孔以及每列相邻的两个测试孔之间的距离均为50mm,所述行与所述宽边平行,所述列与所述长边平行。第二方面,本专利技术实施例提供了一种测试下垂度的系统,该系统包括:待测物件和上述任一所述的定位治具。优选地,该系统进一步包括:基板、至少一个支撑治具和测量尺,其中,所述基板,用于放置所述至少一个支撑治具;所述至少一个支撑治具,用于支撑所述待测物件,以使所述待测物件与所述基板之间产生高度差;所述测量尺,用于测量所述待测物件中每一个测试点到所述基板的测试距离。优选地,所述待测物件,包括机架式服务器机箱;所述至少一个支撑治具,包括:位于所述机架式服务器机箱四角的四个支撑脚,且每一个所述支撑脚高度相等。第三方面,本专利技术实施例提供了一种定位治具的使用方法,该方法包括:通过至少一个固定部将所述待测物件固定于所述支撑板;通过包含多个测试孔的支撑板确定所述待测物件的多个测试点。优选地,在所述通过包含多个测试孔的支撑板确定所述待测物件的多个测试点之后,进一步包括,在基板上,通过至少一个支撑治具支撑所述待测物件;通过测量尺测量所述待测物件中每一个测试点到所述基板的测试距离。优选地,所述通过至少一个支撑治具支撑所述待测物件,包括:通过位于机架式服务器机箱四角的四个支撑脚支撑所述机架式服务器机箱,其中,每一个所述支撑脚高度相等。优选地,在所述通过测量尺测量所述待测物件中每一个测试点到所述基板的测试距离之后,进一步包括:记录每一个所述测试距离,并且判断每一个所述测试距离是否在预设的达标距离范围内,若是,则所述待测物件的下垂度达标。本专利技术实施例提供了一种定位治具、测试下垂度的系统及使用方法,该定位治具包括:包含多个测试孔的支撑板和至少一个固定部,且支撑板和固定部相连,通过至少一个固定部将外部待测物件固定于支撑板,通过包含多个测试孔的支撑板确定待测物件的多个测试点。由于该定位治具,能够直接确定出测量点,不需要测试人员绘制网格线,能够有效的避免在绘制网格线过程中出现的错误,从而能够提高测试效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一个实施例提供的一种定位治具的结构示意图;图2是本专利技术一个实施例提供的一种支撑板的结构示意图;图3是本专利技术一个实施例提供的一种测试下垂度的系统的结构示意图;图4是本专利技术一个实施例提供的另一种测试下垂度的系统的结构示意图;图5是本专利技术一个实施例提供的一种定位治具使用方法的流程图;图6是本专利技术一个实施例提供的另一种定位治具使用方法的流程图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。如图1所示,本专利技术实施例提供了一种定位治具,该定位治具可以包括:包含多个测试孔的支撑板101和至少一个固定部102,其中,所述至少一个固定部102与所述支撑板101相连;所述至少一个固定部102,用于将外部待测物件固定于所述支撑板101。所述包含多个测试孔的支撑板101,用于确定所述待测物件的多个测试点。在图1所示的实施例中,该定位治具包括:包含多个测试孔的支撑板和至少一个固定部,且支撑板和固定部相连,通过至少一个固定部将外部待测物件固定于支撑板,通过包含多个测试孔的支撑板确定待测物件的多个测试点。由于该定位治具,能够直接确定出测量点,不需要测试人员绘制网格线,能够有效的避免在绘制网格线过程中出现的错误,从而能够提高测试效率。在本专利技术一个实施例中,为了能够使待测物件在支撑板上固定牢固,所述支撑板为长方体;所述至少一个固定部,包括:位于所述支撑板四个角的四个卡扣。在该实施例中,通过设置四个卡扣将待测物件固定于支撑板上,使得待测物件不易移动,从而能够准确的确定出测试点,能够有效的避免由于待测物件的移动,造成所确定的测试点的位置错误。值得说明的是,对于支撑板的形状,用户可以根据待测物件的特性进行设定。对于卡扣的位置和个数,用户均可根据自己的待测物件的特性进行设定。例如,可以设置两个、五个卡扣等等。由于卡扣个数的改动,则卡扣的位置必定改动,即使是四个卡扣,卡扣的位置也可以进行改动,用户可以自行设定,只要保证待测物件被固定且不移动即可。在本专利技术一个实施例中,为了方便固定不同的待测物件,所述卡扣,包括:可调节固定高度的卡扣,其中所述可调节固定高度的卡扣,用于根据所述待测物件的高度,确定该卡扣的高度,以及将所述待测物件固定于所述支撑板。在该实施例中,将卡扣设置为高度可调,对于不同高度的待测物件,可根据待测物件的高度相应的调节卡扣的固定高度,从而可以实现对不同高度的待测物件的固定。例如,该卡扣的结构可以是:包括对称设置的上夹板、下夹板以及连接上夹板、下夹板的调节杆,下夹板上设有下插孔,上夹板上设有与下插孔相对应的上插孔,上插孔内设有内螺纹,调节杆依次贯穿上插孔、下插孔且设有与内螺纹相适配的外螺纹,下夹板的底部设有沿着下插孔周侧设置的凹槽,调节杆的下部设有垫板,垫板嵌设在凹槽内,且上夹板、下夹板之间的调节杆上套设有弹簧,上夹板的下部设有压柱,压柱的下端连接弹簧的上端。为了用户使用方便本文档来自技高网...
一种定位治具、测试下垂度的系统及使用方法

【技术保护点】
一种定位治具,其特征在于,包括:包含多个测试孔的支撑板和至少一个固定部,其中,所述至少一个固定部与所述支撑板相连;所述至少一个固定部,用于将外部待测物件固定于所述支撑板。所述包含多个测试孔的支撑板,用于确定所述待测物件的多个测试点。

【技术特征摘要】
1.一种定位治具,其特征在于,包括:包含多个测试孔的支撑板和至少一个固定部,其中,所述至少一个固定部与所述支撑板相连;所述至少一个固定部,用于将外部待测物件固定于所述支撑板。所述包含多个测试孔的支撑板,用于确定所述待测物件的多个测试点。2.根据权利要求1所述的治具,其特征在于,所述支撑板为长方体;所述至少一个固定部,包括:位于所述支撑板四个角的四个卡扣。3.根据权利要求2所述的治具,其特征在于,所述卡扣,包括:可调节固定高度的卡扣,其中所述可调节固定高度的卡扣,用于根据所述待测物件的高度,确定该卡扣的高度,以及将所述待测物件固定于所述支撑板;和/或,所述支撑板为长方体,其中,所述长方体的长边长为900mm、宽边长为482mm、高边长为10mm。4.根据权利要求2或3中任一所述的治具,其特征在于,所述多个测试孔以9行19列的方式排布,且每行相邻的两个测试孔以及每列相邻的两个测试孔之间的距离均为50mm,所述行与所述宽边平行,所述列与所述长边平行。5.一种测试下垂度的系统,其特征在于,包括:待测物件和权利要求1至4中任一所述的定位治具。6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,进一步包括:基板、至少一个支撑治具和测量尺,其中,所述基板,用于放置所述至少一个支撑治具;所述至少一个支撑治...

【专利技术属性】
技术研发人员:张庆华
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:河南,41

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