The invention relates to molding equipment and methods for forming. An embodiment molding apparatus includes a main chamber and a buffer chamber connected with the main chamber.
【技术实现步骤摘要】
成型设备和用于成型的方法
本专利技术涉及一种成型设备和一种用于成型的方法。
技术介绍
在成型工艺和成型设备的
中,存在对于以精确地限定的形状或者尺寸制造产品的不断增加的要求。这原则上适用于其中产品照此由成型材料形成或者被成型材料嵌入或者封装的所有的领域。作为一个实例,在电子装置的领域中,半导体芯片或者管芯大多数以如此方式在成型材料中封装,使得在半导体芯片的主表面上的接触焊盘被与在封装材料的主表面上的外部接触元件连接。一个实例是包括在一侧上封装任何种类的载体或者中介片(interposer)的、所谓的成型阵列封装(MAP),该载体或者中介片由例如引线框架、层压板、Capton带或者陶瓷材料制成。另一个实例是特别地被开发用于为要求更高的集成度和更大数目的外部触点的半导体装置提供晶圆级封装方案的、所谓的嵌入晶圆级球栅阵列(eWLB)技术。特别地,关于半导体芯片封装装置,以能够在小的公差范围内以精确的方式通过制造工艺调节的非常小的总体厚度制造半导体芯片封装装置变得越来越重要。对于具有精确地限定的厚度的非常薄的半导体封装的这种要求特别地适用于芯片卡应用,而且还适用于移动通信芯片和功率芯片。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面,提供了一种成型设备,该成型设备包括:第一工具和第二工具,在它们之间形成腔;主腔;被与所述主腔连接的缓冲腔,其中所述缓冲腔具有可变空间容积,并且其中所述空间容积被配置为在成型过程期间是可变的;以及壁,将所述主腔与所述缓冲腔分离,其中所述壁是第一工具的一部分,其中成型设备的第二工具被配置为接收带有将被成型材料覆盖的多个装置的载体面板,并且其中 ...
【技术保护点】
一种成型设备,包括:第一工具和第二工具,在它们之间形成腔;主腔;被与所述主腔连接的缓冲腔,其中所述缓冲腔具有可变空间容积,并且其中所述空间容积被配置为在成型过程期间是可变的;以及壁,将所述主腔与所述缓冲腔分离,其中所述壁是第一工具的一部分,其中成型设备的第二工具被配置为接收带有将被成型材料覆盖的多个装置的载体面板,并且其中所述载体面板从所述主腔延伸到所述缓冲腔中。
【技术特征摘要】
2011.12.21 US 13/3327371.一种成型设备,包括:第一工具和第二工具,在它们之间形成腔;主腔;被与所述主腔连接的缓冲腔,其中所述缓冲腔具有可变空间容积,并且其中所述空间容积被配置为在成型过程期间是可变的;以及壁,将所述主腔与所述缓冲腔分离,其中所述壁是第一工具的一部分,其中成型设备的第二工具被配置为接收带有将被成型材料覆盖的多个装置的载体面板,并且其中所述载体面板从所述主腔延伸到所述缓冲腔中。2.根据权利要求1所述的成型设备,进一步包括:第一工具和第二工具,所述第一工具和第二工具之一能够移动以在它们之间形成所述主腔。3.根据权利要求1所述的成型设备,进一步包括:所述缓冲腔具有可移动边界壁。4.根据权利要求3所述的成型设备,进一步包括:所述可移动边界壁被作用于所述可移动边界壁上的力预加载从而减小所述缓冲腔的空间容积。5.根据权利要求1所述的成型设备,进一步包括:形成所述缓冲腔的边界壁的柱塞。6.根据权利要求1所述的成型设备,进一步包括:在所述主腔和所述缓冲腔之间的通道。7.根据权利要求6所述的成型设备,进一步包括:所述通道处于所述主腔的壁和从所述缓冲腔分离所述主腔的壁之间。8.根据权利要求6所述的成型设备,进一步包括:所述通道沿着从所述主腔的壁到从所述缓冲腔分离所述主腔的壁的方向包括在小于100µm的范围中的宽度。9.根据权利要求8所述的成型设备,进一步包括:所述通道包括在从10µm到50µm的范围中的宽度。10.根据权利要求9所述的成型设备,进一步包括:所述通道包括在从20µm到40µm的范围中的宽度。11.根据权利要求1所述的成型设备,进一步包括:被与所述主腔连接的两个或者更多缓冲腔。12.根据权利要求1所述的成型设备,进一步包括:所述主腔具有圆形形状。13.根据权利要求12所述的成型设备,进一步包括:被布置在所述主腔的规则地隔开的角位置处的两个或者更多腔。14.一种成型设备,包括:第一工具和第二工具,所述第一工具和第二工具之一能够移动以在它们之间形成主腔;和第一和第二工具之一的运动的...
【专利技术属性】
技术研发人员:E菲尔古特,J赫格尔,
申请(专利权)人:英飞凌科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:德国,DE
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