The invention provides a goods, having a zirconia substrate, located in the middle layer on a substrate, and is located in the surface treatment of fluorine containing silane compounds containing the agent of intermediate layer formed on the surface layer, the intermediate layer of a metal oxide containing more than one. The surface treatment layer in the article of the present invention has high frictional durability.
【技术实现步骤摘要】
具有表面处理层的物品
本专利技术涉及一种具有表面处理层的物品、特别是在氧化锆基材上具有由含有含氟硅烷化合物的表面处理剂得到的表面处理层的物品及其制造方法。
技术介绍
已知某种含氟化合物用于基材的表面处理时,可以提供优异的拨水性、拨油性、防污性等。作为这样的含氟硅烷化合物,已知有分子主链上具有全氟聚醚基、在分子末端或末端部具有与Si原子键合的能够水解的基团的含全氟聚醚基的硅烷化合物。例如,在专利文献1中记载了在分子末端或末端部具有与Si原子键合的能够水解的基团的含全氟聚醚基的硅烷化合物。由含有如上所述的含氟硅烷化合物的表面处理剂得到的层(以下,也称为“表面处理层”)作为所谓的功能性薄膜实施于玻璃等。特别是上述表面处理层在薄膜中也能够发挥如上所述的功能,因此,适用于要求光透过性或透明性的眼镜、触摸面板、便携终端的操作画面等光学部件。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2013-117012号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题例如,在便携终端等操作画面中一般使用玻璃基材,在该玻璃基材上形成上述的表面处理层。另一方面,在筐体部分的表面具有类似于金刚石的光泽等的设计性优异,因此,有时利用氧化锆陶瓷。便携终端等尤其要求摩擦耐久性的提高,但根据本专利技术人的研究得知:在玻璃基材上所形成的表面处理层可以具有充分的摩擦耐久性,但在氧化锆陶瓷上所形成的表面处理层的摩擦耐久性不充分。因此,本专利技术的目的在于,提供一种在氧化锆陶瓷基材、即氧化锆基材上形成有具有更高的摩擦耐久性的表面处理层的物品以及这样的层的形成方法。用于解决课题的技术方案本专利技术人等进行了深入研究的结 ...
【技术保护点】
一种物品,其具有氧化锆基材、位于基材上的中间层、和位于中间层上的由含有含氟硅烷化合物的表面处理剂形成的表面处理层,该物品的特征在于:所述中间层含有一种以上的金属氧化物。
【技术特征摘要】
1.一种物品,其具有氧化锆基材、位于基材上的中间层、和位于中间层上的由含有含氟硅烷化合物的表面处理剂形成的表面处理层,该物品的特征在于:所述中间层含有一种以上的金属氧化物。2.如权利要求1所述的物品,其特征在于:中间层含有氧化硅或氧化铝。3.如权利要求1或2所述的物品,其特征在于:中间层含有氧化硅。4.如权利要求1~3中任一项所述的物品,其特征在于:中间层含有氧化硅和氧化铝。5.如权利要求2~4中任一项所述的物品,其特征在于:中间层还含有氧化锆。6.如权利要求1~5中任一项所述的物品,其特征在于:中间层由多个金属氧化物层构成。7.如权利要求1~6中任一项所述的物品,其特征在于:中间层由多个金属氧化物层构成,与基材接触的金属氧化物层为氧化铝的层,与表面处理层接触的金属氧化物的层为氧化硅的层。8.如权利要求1~7中任一项所述的物品,其特征在于:所述含氟硅烷化合物为下述通式(A1)、(A2)、(B1)、(B2)、(C1)、(C2)、(D1)和(D2)所示的1种以上的化合物,(Rf-PFPE)β′-X5-(SiR1nR23-n)β…(B1)(R23-nR1nSi)β-X5-PFPE-X5-(SiR1nR23-n)β…(B2)(Rf-PFPE)γ′-X7-(SiRakRb1Rcm)γ…(CI)(RcmRb1RakSi)γ-X7-PFPE-X7-(SiRakRb1Rcm)γ…(C2)(Rf-PFPE)δ′-X9-(CRdk′Re1′Rfm′)δ…(D1)(Rfm′Re1′Rdk′C)δ-X9-PFPE-X9-(CRdk′Re1′Rfm′)δ…(D2)式中:PFPE在每次出现时分别独立地为式:-(OC4F8)a-(OC3F6)b-(OC2F4)c-(OCF2)d-所示的基团,式中,a、b、c和d分别独立地为0~200的整数,a、b、c和d之和至少为1,标注下标a、b、c或d并用括弧括起来的各重复单元的存在顺序在式中是任意的;Rf在每次出现时分别独立地表示可以取代有1个以上的氟原子的碳原子数1~16的烷基;R1在每次出现时分别独立地表示氢原子或碳原子数1~22的烷基;R2在每次出现时分别独立地表示羟基或能够水解的基团;R11在每次出现时分别独立地表示氢原子或卤原子;R12在每次出现时分别独立地表示氢原子或低级烷基;n在每个(-SiR1nR23-n)单元中独立地为0~3的整数;其中,式(A1)、(A2)、(B1)和(B2)中,至少存在1个R2;X1分别独立地表示单键或2~10价的有机基团;X2在每次出现时分别独立地表示单键或2价的有机基团;t在每次出现时分别独立地为1~10的整数;α分别独立地为1~9的整数;α’为1~9的整数;X5分别独立地表示单键或2~10价的有机基团;β分别独立地为1~9的整数;β’为1~9的整数;X7分别独立地表示单键或2~10价的有机基团;γ分别独立地为1~9的整数;γ’为1~9的整数;Ra在每次出现时分别独立地表示-Z-SiR71pR72qR73r;Z在每次出现时分别独立地表示氧原子或2价的有机基团;R71在每次出现时分别独立地表示Ra’;Ra’与Ra意义相同;Ra中,经由Z基连结成直链状的Si最多为5个;R72在每次出现时分别独立地表示羟基或能够水解的基团;R73在每次出现时分别独立地表示氢原子或低级烷基;p在每次出现时分别独立地为0~3的整数;q在每次出现时分别独立地为0~3的整数;r在每次出现时分别独立地为0~3的整数;其中,在每个-Z-SiR71pR72qR73r中,p、q和r之和为3,在式(C1)和(C2)中,至少存在1个R72;Rb在每次出现时分别独立地表示羟基或能够水解的基团;Rc在每次出现时分别独立地表示氢原子或低级烷基;k在每次出现时分别独立地为1~3的整数;l在每次出现时分别独立地为0~2的整数;m在每次出现时分别独立地为0~2的整数;其中,在标注γ并用括弧括起来的单元中,k、l和m之和为3;X9分别独立地表示单键或2~10价的有机基团;δ分别独立地为1~9的整数;δ’为1~9的整数;Rd在每次出现时分别独立地表示-Z’-CR81p’R82q’R83r’;Z’在每次出现时分别独立地表示氧原子或2价的有机基团;R81在每次出现时分别独立地表示Rd’;Rd’与Rd意义相同;Rd中,经由Z’基连结成直链状的C最多为5个;R82在每次出现时分别独立地表示-Y-SiR85jR863-j;Y在每次出现时分别独立地表示2价的有机基团;R85在每次出现时分别独立地表示羟基或能够水解的基团;R86在每次出现时分别独立地表示氢原子或低级烷基;j在...
【专利技术属性】
技术研发人员:本多义昭,前平健,
申请(专利权)人:大金工业株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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