EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法制造方法及图纸

技术编号:15390225 阅读:143 留言:0更新日期:2017-05-19 03:57
本发明专利技术公开了EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法,本发明专利技术公开的EMI测量系统脉冲强度测量装置包括:宽带衰减器、宽带示波器、PC机;宽带衰减器对脉冲信号作衰减处理;宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号;PC机控制宽带示波器自动截取单脉冲波形,并计算脉冲强度。通过本发明专利技术可以快速测量脉冲强度参数。

Pulse intensity measuring device and measuring method for EMI measuring system

The invention discloses a EMI measurement system of pulse intensity measuring device and method and device for measuring the intensity of pulse EMI measurement system is disclosed: Broadband attenuator, broadband oscilloscope, PC; broadband attenuator on the pulse signal attenuation pulse signal processing; broadband oscilloscope acquisition attenuation processing after PC control; automatic interception of single wideband oscilloscope the pulse waveform, and calculate the pulse intensity. The pulse intensity parameter can be rapidly measured by the invention.

【技术实现步骤摘要】
EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法
本专利技术涉及无线电电子学的电磁兼容领域,特别涉及EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法。
技术介绍
随着武器型号系统的发展,系统中各种先进的电子设备越来越多,系统空间的电磁环境越来越复杂,电磁干扰对整个电子系统造成严重的影响。为了使电子系统能够稳定、可靠地工作,必须对系统中的部件进行电磁兼容测试,评估其是否满足总体电磁兼容设计的要求。电磁兼容测量设备的计量显得十分迫切。国内每年举行电磁兼容测量试验室之间的比对,EMI测量系统中脉冲强度成为试验室之间测量不确定度的一个重要来源。根据国际标准CISPR16-1-1,将脉冲强度定义为某一脉冲电压对时间积分的面积,并按照工作频率将工作频段划分为4个波段,分别是A波段(9kHz~150kHz)、B波段(0.15MHz~30MHz)、C波段(30MHz~300MHz)、D波段(300MHz~1000MHz),同时规定各个波段输出脉冲信号要求,具体见表1。表1校准脉冲特性综上,对脉冲强度参数的快速测量,是解决EMI测量系统脉冲强度的量值溯源的重要问题。
技术实现思路
本专利技术解决的问题是现有技术中需要一种可以实现对脉冲强度快速测量的技术;为解决所述问题,本专利技术提供一种EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法。本专利技术提供的EMI测量系统脉冲强度测量装置包括:宽带衰减器、宽带示波器、PC机;宽带衰减器对脉冲信号作衰减处理;宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号,并计算脉冲强度;PC机控制宽带示波器。进一步,所述宽带衰减器的峰值功率不小于100W。进一步,所述宽带示波器的带宽大于11.7GHz。本专利技术还提供采用所提供的EMI测量系统脉冲强度测量装置的脉冲强度测量方法,包括:步骤一、宽带衰减器采集EMI测量系统输出的脉冲信号,并进行衰减处理;步骤二、宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号,并计算脉冲强度;步骤三、根据采集的脉冲波形数据自动截取单脉冲波形并计算脉冲强度。进一步,所述步骤三单脉冲波形自动截取。首先,通过控制示波器单次触发获取多周期脉冲波形,并对脉冲波形数据作数值微分,根据数值微分结果判断脉冲边沿,最后,根据脉冲边沿,截取单脉冲波形。本专利技术的优点包括:通过宽带衰减及脉冲波形自动截取技术智能截取EMI校准脉冲波形并获得脉冲强度结果,实现对脉冲强度参数的快速测量,解决EMI测量系统脉冲强度的量值溯源问题。附图说明图1是本专利技术实施例提供的EMI测量系统脉冲强度测量装置的原理框图;图2是本专利技术实施例提供的EMI测量系统脉冲强度测量方法的流程示意图。具体实施方式下文中,结合附图和实施例对本专利技术进行详细阐述。如图1所示,本专利技术实施例提供的EMI测量系统脉冲强度测量装置的包括:宽带衰减器1、宽带示波器2、PC机3;宽带衰减器1采集EMI测量系统中的脉冲信号,对脉冲信号作衰减处理;宽带示波器2采集衰减处理后的脉冲信号,并计算脉冲强度;PC机3控制宽带示波器1。考虑到EMI测量系统脉冲信号幅度高,不能直接采集波形数据,需对脉冲信号作衰减处理。取脉冲信号幅度最大值64V,计算其峰值功率为81.9W,但是由于其脉宽窄,占空比极小,尽管脉冲信号的幅度很高,但它的有效能量很小。故本专利技术的实施例中选取峰值功率不小于100W的宽带衰减器。宽带示波器2通过与宽带衰减器1连接的端口采集衰减后的脉冲波形,针对脉冲信号脉宽窄,占空比小的特点,数据采集需使用宽带示波器。脉冲信号脉宽最小为380ps,按照上升时间30ps计算,信号带宽=0.35/t=11.7GHz,为满足测量需求,需选用带宽大于11.7GHz的宽带示波器实现脉冲数据采集,从而保留原始信号丰富的频谱信息。PC机通过与宽带示波器连接的端口控制宽带示波器自动截取脉冲波形。脉冲强度的计算主要关注正脉冲波形,而EMI测量系统的脉冲信号占空比极小,势必增加脉冲波形获取难度。为此通过示波器自动触发与脉冲边沿自动获取的方法实现正脉冲波形的获取,并通过数值积分计算脉冲强度。图2,所示为采用本专利技术所提供的EMI测量系统脉冲强度测量装置的脉冲强度测量方法流程图。本专利技术虽然已以较佳实施例公开如上,但其并不是用来限定本专利技术,任何本领域技术人员在不脱离本专利技术的精神和范围内,都可以利用上述揭示的方法和
技术实现思路
对本专利技术技术方案做出可能的变动和修改,因此,凡是未脱离本专利技术技术方案的内容,依据本专利技术的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰,均属于本专利技术技术方案的保护范围。本文档来自技高网
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EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法

【技术保护点】
EMI测量系统脉冲强度测量装置,其特征在于,包括:宽带衰减器、宽带示波器、PC机;宽带衰减器对脉冲信号作衰减处理;宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号,保留脉冲信号丰富的频谱信息;PC机控制宽带示波器自动截取脉冲波形数据。

【技术特征摘要】
1.EMI测量系统脉冲强度测量装置,其特征在于,包括:宽带衰减器、宽带示波器、PC机;宽带衰减器对脉冲信号作衰减处理;宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号,保留脉冲信号丰富的频谱信息;PC机控制宽带示波器自动截取脉冲波形数据。2.依据权利要求1所述的EMI测量系统脉冲强度测量装置,其特征在于,所述宽带衰减器的峰值功率不小于100W,带宽不小于3GHz,一般的示波器探头带宽小于1GHz,无法满足测量要求。3.依据权利要求1所述的EMI测量系统脉冲强度测量装置,其特征在于,所述宽带示波器的带宽大于11.7GHz。4.采用权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪桃林范凤军陈斌谢恒贵马秋萍戴利剑曹焕丽
申请(专利权)人:上海精密计量测试研究所上海航天探维传媒科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海,31

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