半导体激光器的测试系统技术方案

技术编号:15389544 阅读:153 留言:0更新日期:2017-05-19 03:28
本发明专利技术涉及一种半导体激光器的测试系统,包括若干个驱动模块,用于驱动若干个半导体激光器,以及主控模块,用于根据需要得到的激光功率和所述若干个半导体激光器各自的激光功率,给出所述若干个驱动模块的使能信号,以开启或关断各驱动模块,使得开启的驱动模块驱动的半导体激光器总的功率能达到所述需要得到的激光功率;该测试系统可以根据需要得到的激光功率和半导体激光器各自的激光功率,对多个半导体激光器进行组合,得到输出不同激光功率的半导体激光器,进而对其进行研发测试,无需为特定激光功率的半导体激光器单独设计对应的电源及控制系统,提高了研发效率。

Testing system for semiconductor lasers

The test system of the invention relates to a semiconductor laser, which comprises a plurality of driving module for driving a plurality of semiconductor laser, and the main control module for laser power, laser power according to the obtained and a plurality of semiconductor lasers respectively, given the plurality of driver modules enable signal to open or close disconnect the drive module, the driving power of semiconductor laser module driver can achieve the total laser power needs to be opened; the laser power test system according to the needs of the semiconductor laser and the laser power, the combination of a plurality of semiconductor lasers, semiconductor lasers have different laser power. Then the development of testing, no need for a specific laser power semiconductor lasers individually designed corresponding electric The source and control system have improved the efficiency of research and development.

【技术实现步骤摘要】
半导体激光器的测试系统
本专利技术涉及激光器的研发测试领域,特别是涉及一种半导体激光器的测试系统。
技术介绍
半导体激光器技术是近年来激光技术研究的热点,一方面,半导体激光器可以独立地应用到激光探测、照明以及光谱探测等领域,另一方面,半导体激光器可以作为其他固体激光器的泵浦源。然而,目前在进行大功率半导体激光器的研发过程中,往往需要等待特定激光功率的半导体激光器的电源及相关控制系统测试完成后才可以进行后续的光学部分开发,即半导体激光器的研发测试,使得半导体激光器的研发周期长,效率低。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种半导体激光器的测试系统,可以对不同激光功率的半导体激光器进行研发测试,提高了研发效率。一种半导体激光器的测试系统,包括:若干个驱动模块,用于驱动若干个半导体激光器;主控模块,用于根据需要得到的激光功率和所述若干个半导体激光器各自的激光功率,给出所述若干个驱动模块的使能信号,以开启或关断各驱动模块,使得开启的驱动模块驱动的半导体激光器总的功率能达到所述需要得到的激光功率。上述半导体激光器的测试系统,包括若干个驱动模块,用于驱动若干个半导体激光器,以及主控模块,用于根据需要得到的激光功率和所述若干个半导体激光器各自的激光功率,给出所述若干个驱动模块的使能信号,以开启或关断各驱动模块,使得开启的驱动模块驱动的半导体激光器总的功率能达到所述需要得到的激光功率;该测试系统可以根据需要得到的激光功率和半导体激光器各自的激光功率,对多个半导体激光器进行组合,得到输出不同激光功率的半导体激光器,进而对其进行研发测试,无需为特定激光功率的半导体激光器单独设计对应的电源及控制系统,提高了研发效率。在其中一个实施例中,还包括:通讯模块,输入端连接所述主控模块,输出端分别连接各驱动模块,用于建立所述主控模块和若干个驱动模块的通讯连接,所述主控模块通过所述通讯模块给出所述若干个驱动模块的使能信号。在其中一个实施例中,还包括:信号采集模块,输入端分别连接各驱动模块,输出端连接所述主控模块,用于采集所述半导体激光器的特征参数。在其中一个实施例中,所述主控模块还用于在根据所述特征参数判断所述半导激光器体异常时,对其进行漏光保护、过温保护,以及过压过流保护。在其中一个实施例中,还包括:报警模块,连接所述主控模块,用于在所述主控模块判断所述半导体激光器异常时,发出相应的报警提醒。在其中一个实施例中,还包括:电源接口模块,输入端连接外部电源,输出端分别连接各驱动模块。在其中一个实施例中,还包括合束器,用于将所述若干个半导体激光器发出的激光进行合束。在其中一个实施例中,所述主控模块还用于设定各半导体激光器的测试电流。在其中一个实施例中,所述通讯模块通过总线分别与各驱动模块连接。在其中一个实施例中,所述信号采集模块通过总线分别与各驱动模块连接。附图说明图1为一实施例中半导体激光器的测试系统的系统结构图;图2为另一实施例中半导体激光器的测试系统的系统结构图。具体实施方式参见图1,图1为一实施例中半导体激光器的测试系统的系统结构图。在本实施例中,该半导体激光器的测试系统包括若干个驱动模块11和主控模块10。若干个驱动模块11用于驱动若干个半导体激光器20。一个半导体激光器20由一个单独的驱动模块11驱动,输出特定功率的半导体激光器20需要对其单独设计电源和相关控制系统,才能使其正常工作。主控模块10用于根据需要得到的激光功率和所述若干个半导体激光器20各自的激光功率,给出所述若干个驱动模块11的使能信号,以开启或关断各驱动模块11,使得开启的驱动模块11驱动的半导体激光器20总的功率能达到所述需要得到的激光功率。当需要得到预设功率的半导体激光器,并对其进行研发测试时,可以根据该预设功率和若干个半导体激光器20各自的激光功率,对若干个半导体激光器20进行组合得到。例如,若需要得到激光功率为5KW的半导体激光器,每个半导体激光器20的激光功率为1KW,同时驱动5个这样的半导体激光器20,将输出的激光进行合束即可得到5KW的激光功率。各半导体激光器20的激光功率可以相同也可以不同,以实现更灵活的组合,得到范围更全、更大的激光功率。进而对预设功率的半导体激光器进行测试,如是否出光,实质上是对通过合成实现该预设功率的各个半导体激光器20进行测试。参见图2,该半导体激光器的测试系统中半导体激光器20的数量为3个,不限于3个。在其中一个实施例中,该半导体激光器的测试系统还包括通讯模块13,输入端连接所述主控模块10,输出端分别连接各驱动模块11,用于建立所述主控模块10和若干个驱动模块11的通讯连接,所述主控模块10通过所述通讯模块13给出所述若干个驱动模块11的使能信号。在其中一个实施例中,该通讯模块13通过总线与各驱动模块11连接。使得主控模块10可以实现对各驱动模块11的同步使能,加快该测试系统的运行速度。主控模块10通过通讯模块13将各驱动模块11的使能信号给到各个驱动模块11,同时给出各半导体激光器20的测试电流,并根据该测试电流控制各驱动模块11给出不同的驱动电流,以控制半导体激光器20输出不同的功率,满足不同的半导体激光器20的驱动需求。在其中一个实施例中,该半导体激光器的测试系统还包括信号采集模块14,输入端分别连接各驱动模块11,输出端连接所述主控模块10,用于采集所述半导体激光器20的特征参数。该特征参数包括半导体激光器20的激光电流信号、漏光信号、激光能量信号、温度信号等。在其中一个实施例中,主控模块10还用于在根据所述特征参数判断所述半导激光器20体异常时,对其进行漏光保护、过温保护,以及过压过流保护。在其中一个实施例中,该半导体激光器的测试系统还包括报警模块15,连接所述主控模块10,用于在所述主控模块10判断所述半导体激光器20异常时,发出相应的报警提醒。不同的异常情况发出对应的报警提醒,如语音、指示灯等。上述特征参数一方面可用于实现对半导体激光器20的保护,另一方面,可以作为半导体激光器20的性能测试结果,进而实现对半导体激光器20全面的研发测试。在其中一个实施例中,信号采集模块14通过总线分别与各驱动模块11连接。可以实现多路信号的同时采集,使得主控模块10可以同时获取到各半导体激光器20的特征参数,进而实现同步保护。在其中一个实施例中,该半导体激光器的测试系统还包括电源接口模块16,输入端连接外部电源,输出端分别连接各驱动模块11。在其中一个实施例中,该半导体激光器的测试系统还包括合束器12,用于将所述若干个半导体激光器20发出的激光进行合束。以得到将各半导体激光器20的输出功率进行叠加之后的激光功率。此外,各半导体激光器20也可以单独工作,以实现该半导体激光器20的研发测试。同时,可以在各半导体激光器20测试通过后,根据需要得到的激光功率和各半导体激光器20的激光功率,对各半导体激光器20进行组合,通过合束得到不同激光功率的半导体激光器。上述半导体激光器的测试系统,在半导体激光器的研发测试阶段,可以根据需要得到的激光功率和各半导体激光器20各自的激光功率,对多个半导体激光器20进行组合,通过合束得到输出不同激光功率的半导体激光器,同时通过采集各半导体激光器20的特征参数对该组合后得到的半导体激光器进行测本文档来自技高网...
半导体激光器的测试系统

【技术保护点】
一种半导体激光器的测试系统,其特征在于,包括:若干个驱动模块,用于驱动若干个半导体激光器;主控模块,用于根据需要得到的激光功率和所述若干个半导体激光器各自的激光功率,给出所述若干个驱动模块的使能信号,以开启或关断各驱动模块,使得开启的驱动模块驱动的半导体激光器总的功率能达到所述需要得到的激光功率。

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器的测试系统,其特征在于,包括:若干个驱动模块,用于驱动若干个半导体激光器;主控模块,用于根据需要得到的激光功率和所述若干个半导体激光器各自的激光功率,给出所述若干个驱动模块的使能信号,以开启或关断各驱动模块,使得开启的驱动模块驱动的半导体激光器总的功率能达到所述需要得到的激光功率。2.根据权利要求1所述的半导体激光器的测试系统,其特征在于,还包括:通讯模块,输入端连接所述主控模块,输出端分别连接各驱动模块,用于建立所述主控模块和若干个驱动模块的通讯连接,所述主控模块通过所述通讯模块给出所述若干个驱动模块的使能信号。3.根据权利要求1所述的半导体激光器的测试系统,其特征在于,还包括:信号采集模块,输入端分别连接各驱动模块,输出端连接所述主控模块,用于采集所述半导体激光器的特征参数。4.根据权利要求3所述的半导体激光器的测试系统,其特征在于,所述主控模块还用于在根据所述特征参数...

【专利技术属性】
技术研发人员:钟绪浪朱宝华王瑾陆业钊高云峰
申请(专利权)人:大族激光科技产业集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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