一种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头制造技术

技术编号:15351276 阅读:282 留言:0更新日期:2017-05-17 04:07
本实用新型专利技术涉及一种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头,主要包括导流罩、绕线骨架、光纤线圈、导流头和传感器组件,导流罩和导流头构成整体的外壳部分,绕线骨架固定在导流头上,导流头和绕线骨架内部空间构成腔体,传感器组件固定在绕线骨架内部。本实用新型专利技术有益的效果是:本实用新型专利技术具有温深测试范围广、测试精度高、响应时间快、一致性好等优点,探头及信号的传输可实现全光纤化,具有较强的抗电磁干扰能力和环境适应性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头
本技术涉及消耗性温度分布测量领域、光纤传感领域,尤其是一种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头。
技术介绍
为了解决舰船在机动状态下的海洋温深剖面的测量问题,1963年,美国Sippican公司开发了世界上第一个用于温深剖面测量的测量探头XBT(ExpendableBathythermographsystem),可在舰船机动状态条件下,快速获取海洋的温深剖面。自此,XBT技术迅速发展,并得到了广泛应用。截止到2009年,根据公开的数据统计,自XBT问世以来的50年间,仅Sippican公司生产的XBT探头数量就累计达到了6000000支。目前,国际上生产消耗性温度分布测量仪的有美国、日本等国的多家公司,有代表性的是美国的LockheedMartin公司的子公司Sippican,产品型号为:MK21USBDAQ,T-4和T-7;日本TSK(鹤见精机)的T-10、T-7。其T4、T7两型一次性温度探头广泛应用于海军反潜战、国际海洋科考等领域。此外,国际上还有韩国、意大利等国开发有多款同种用途的产品。我国从上世纪70年代中期开始引进XBT,80年代开始进行产品开发,但由于温度传感器技术水平过后,进展缓慢。90年代后期,随着温度传感器制造水平的进步,研制开始取得突破。中科院声学所东海研究站开发有产品D3、D5、D7,国家海洋技术中心开发有产品SZC16-1,已经通过了产品设计定型。和国外产品相比,国内产品在测试精度低、测试一致性较差,并且产品投放成功率很低,只有64%,而美国同类产品达到了95%,所以暂时还无法取代国外产品。
技术实现思路
本技术要解决上述现有技术的缺点,提供一种测试精度更高、准确度更好的基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头。本技术解决其技术问题采用的技术方案:这种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头,主要包括导流罩、绕线骨架、光纤线圈、导流头和传感器组件,导流罩和导流头构成整体的外壳部分,绕线骨架固定在导流头上,导流头和绕线骨架内部空间构成腔体,传感器组件固定在绕线骨架内部。所述传感器组件由1×2耦合器、光纤FP温度传感器及光纤FP压力传感器构成,1×2耦合器的一端尾纤和光纤线圈连接,另一端两根尾纤分别连接光纤FP温度传感器和光纤FP压力传感器,传感器组件中的光纤FP温度传感器和光纤FP压力传感器位于导流头的进水口内侧附近。所述光纤FP温度传感器和光纤FP压力传感器通过1×2耦合器并联连接共同构成传感器组件,传感器组件靠近导流头进水口内侧,或者位于绕线骨架内部。所述传感器组件由光纤FP温度传感器及光纤FP压力传感器直接串联构成,传感器组件靠近导流头进水口内侧,或者位于绕线骨架内部。所述光纤FP温度传感器和光纤FP压力传感器的传输光纤为通信光纤或其他特种光纤。所述导流罩的尾部及侧面设有排水孔。所述温深测量探头的整体呈水滴形。本技术有益的效果是:本技术采用流线型外形设计,导流罩尾翼的设计以及导流头尺寸、重量和探头整体重心的合理设计,确保了探头具有稳定的下降姿态及一定的下降速度。作为探头的核心部分,光纤FP温度传感器、光纤FP压力传感器采用并联方式连接,通过1×2耦合器构成传感器组件,光纤FP温度传感器用于测温,对压力不敏感,并用于补偿光纤FP压力传感器由温度变化带来的附加压力漂移,本技术具有温深测试范围广、测试精度高、响应时间快、一致性好等优点,探头及信号的传输可实现全光纤化,具有较强的抗电磁干扰能力和环境适应性。附图说明图1是本技术结构剖视示意图。附图标记说明:导流罩1,绕线骨架2,光纤线圈3,1×2耦合器4,导流头5,光纤FP温度传感器6,光纤FP压力传感器7。具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步说明:如图所示,这种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头,主要包括导流罩1、绕线骨架2、光纤线圈3、导流头5和传感器组件,导流罩1和导流头5构成整体的外壳部分,绕线骨架2固定在导流头5上,导流头5和绕线骨架2内部空间构成腔体,传感器组件固定在绕线骨架2内部。传感器组件由1×2耦合器4、光纤FP温度传感器6及光纤FP压力传感器7构成,光纤FP温度传感器6和光纤FP压力传感器7通过1×2耦合器4并联连接共同构成传感器组件,传感器组件靠近导流头5进水口内侧,或者位于绕线骨架2内部。1×2耦合器4的一端尾纤和光纤线圈3连接,另一端两根尾纤分别连接光纤FP温度传感器6和光纤FP压力传感器7,传感器组件中的光纤FP温度传感器6和光纤FP压力传感器7位于导流头5的进水口内侧附近。光纤FP温度传感器6和光纤FP压力传感器7是用于探头温、压测量的核心器件,探头温、深信号通过光纤线圈3进行上传,传输光纤为通信光纤或其他特种光纤。导流罩1的尾部及侧面设有排水孔。温深测量探头的整体呈水滴形。由导流头5和绕线骨架2内部空间构成的腔体,适用除光纤FP温度传感器6和光纤FP压力传感器7之外基于其他传感原理的光纤温度和传感器压力。在一定工艺条件下,传感器组件不包括1×2耦合器4,传感器组件由光纤FP温度传感器6及光纤FP压力传感器7直接串联构成,传感器组件靠近导流头5进水口内侧,或者位于绕线骨架2内部。本技术以光纤FP温度传感器和光纤FP压力传感器为核心器件,用于海洋温、深剖面的测量。其中,光纤FP温度传感器设计仅对温度敏感,光纤FP压力传感器设计对压力和温度交叉敏感,光纤FP温度和压力传感器设计对温度响应时间相同或一致。光纤FP温度和压力传感器所测温、压满足以下公式:Δλ1=KPPΔP+KPTΔT(1)Δλ2=KTΔT(2)根据公式(1)和(2),得到温度、压力变化量如下:其中,KT为光纤FP温度传感器的温度系数,KPP和KPT分别为光纤FP压力传感器的压力系数和温度系数;Δλ1和Δλ2为可测变化量,由数据采集设备直接解调给出,经过计算得到温、深数据。基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头,在光纤FP温度和压力传感器设计上,相同温度响应保证了两种不同参量传感器实时温度补偿的可行性;同时,在传感器组件设计上,两种传感器在空间上并行排列,保证了两者所处空间海水温度、压力变化的一致性;在传感器组件的装配设计上,靠近导流头进水口内侧附近,保证了探头的对海水温、压变化测量的快速响应。在探头整体设计上,为保证探头内、外海水的充分交换,在导流罩尾部及侧面设计有一定孔径大小的排水孔,保证海水有进有出,进出及时,交换充分。在探头整体设计上,对导流头、导流罩及绕线骨架及光纤线圈尺寸、重量进行计算,保证探头重心在合理位置,以保证其合理的下降速度。由1×2耦合器4、光纤FP温度传感器6、光纤FP压力传感器7构成的传感器组件,光纤FP温度传感器6和光纤FP压力传感器7并联连接,在空间上并排布置。传感器组件在绕线骨架2内部固定,其中1×2耦合器4未连传感器的一端和光纤线圈尾纤相连接,并在其内壁用粘接剂粘接固定。将装配好传感器组件的绕线骨架2和导流头5固定在一起,然后再将导流罩1和导流头5固定在一起,光纤线圈3的尾纤从导流头尾部出水孔引出。流线型探头在设计时要符合流体动力学的特性要求,以减小水阻力和保持探头的稳定性。水滴形的探头结构设计可使其在水中下降时保持本文档来自技高网
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一种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头

【技术保护点】
一种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头,主要包括导流罩(1)、绕线骨架(2)、光纤线圈(3)、导流头(5)和传感器组件,其特征是:导流罩(1)和导流头(5)构成整体的外壳部分,绕线骨架(2)固定在导流头(5)上,导流头(5)和绕线骨架(2)内部空间构成腔体,传感器组件固定在绕线骨架(2)内部。

【技术特征摘要】
1.一种基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头,主要包括导流罩(1)、绕线骨架(2)、光纤线圈(3)、导流头(5)和传感器组件,其特征是:导流罩(1)和导流头(5)构成整体的外壳部分,绕线骨架(2)固定在导流头(5)上,导流头(5)和绕线骨架(2)内部空间构成腔体,传感器组件固定在绕线骨架(2)内部。2.根据权利要求1所述的基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头,其特征是:所述传感器组件由1×2耦合器(4)、光纤FP温度传感器(6)及光纤FP压力传感器(7)构成,1×2耦合器(4)的一端尾纤和光纤线圈(3)连接,另一端两根尾纤分别连接光纤FP温度传感器(6)和光纤FP压力传感器(7),传感器组件中的光纤FP温度传感器(6)和光纤FP压力传感器(7)位于导流头(5)的进水口内侧附近。3.根据权利要求2所述的基于光纤FP传感器的抛弃式温深测量探头,其特征是:所述光...

【专利技术属性】
技术研发人员:桑卫兵葛辉良何少灵郝凤欢周苏萍吴国军陆灿幸
申请(专利权)人:中国船舶重工集团公司第七一五研究所
类型:新型
国别省市:浙江,33

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