测量装置制造方法及图纸

技术编号:15350944 阅读:133 留言:0更新日期:2017-05-17 03:57
本申请涉及测量器具技术领域,尤其涉及一种测量装置,其包括第一本体、第二本体、基准测量部、第一测量部和第二测量部;所述第一测量部和所述第二测量部均安装于所述第一本体上,且两者之间的距离为预设值;所述第二本体伸缩连接于所述第一本体上,所述基准测量部安装于所述第二本体上,所述第一测量部的测量位置位于所述基准测量部的测量位置与所述第二测量部的测量位置之间,所述第二本体上具有测量刻度;在所述第二本体的伸缩行程上,所述测量装置所测得的值为所述基准测量部与所述第一测量部之间的距离,或者所述距离与所述预设值之和。该测量装置可以适用于被测量的大小大于测量装置的长度的情况,因此其所适用的范围更广。

【技术实现步骤摘要】
测量装置
本申请涉及测量器具
,尤其涉及一种测量装置。
技术介绍
卡尺类测量装置是一种常用的量具,其具有结构简单、使用方便等优点。卡尺不但能测量普通的长度,而且还能测量内外径、深度等被测量,因此,卡尺还具有适用范围较广的优点。目前,普通的卡尺上设置有游标,通过操作游标在尺身上移动达到测量的目的,这种卡尺的特点在于,游标的移动范围只能在尺身上移动,尺身的长度通常为整个卡尺的长度,因此卡尺的量程为单倍卡尺长度。很显然,这种卡尺的量程有限,无法对长于其尺身的物件或部位实施测量。很显然,这影响卡尺的推广和更加广泛地使用。另外,目前的卡尺在检测完毕后,通常需要测量人员手工记录测量数据,人工记录数据较容易记错,进而导致测量失败。具体测量时,通常一人进行测量,另一个人进行记录,很显然这不但导致测量工作耗费较多的人力,同时也导致测量工作效率较低。
技术实现思路
本申请提供了一种测量装置,以解决目前的测量装置的量程为单倍尺长时导致的卡尺适用范围较窄的问题。本申请提供的测量装置包括第一本体、第二本体、基准测量部、第一测量部和第二测量部;所述第一测量部和所述第二测量部均安装于所述第一本体上,且两者之间的距离为预设值;所述第二本体伸缩连接于所述第一本体上,所述基准测量部安装于所述第二本体上,所述第一测量部的测量位置位于所述基准测量部的测量位置与所述第二测量部的测量位置之间,所述第二本体上具有测量刻度;在所述第二本体的伸缩行程上,所述测量装置所测得的值为所述基准测量部与所述第一测量部之间的距离,或者所述距离与所述预设值之和。优选地,所述基准测量部、所述第一测量部和所述第二测量部中的至少一者为测量臂。优选地,所述基准测量部与所述第二本体活动连接,和/或,所述第一测量部与所述第一本体活动连接,和/或,所述第二测量部与所述第一本体活动连接。优选地:所述基准测量部相对于所述第二本体具有第一平移行程和第一转动行程,所述第一平移行程形成于所述基准测量部远离所述第二本体的过程中,所述第一转动行程形成于所述基准测量部相对于所述第二本体转动的过程中;所述第一测量部相对于所述第一本体具有第二平移行程和第二转动行程,所述第二平移行程形成于所述第一测量部远离所述第一本体的过程中,所述第二转动行程形成于所述第一测量部相对于所述第一本体转动的过程中;所述第二测量部相对于所述第一本体具有第三平移行程和第三转动行程,所述第三平移行程形成于所述第二测量部远离所述第一本体的过程中,所述第三转动行程形成于所述第二测量部相对于所述第一本体转动的过程中。优选地,沿着所述第二本体的伸缩方向得到的投影内,所述基准测量部与所述第二本体的连接处的投影、所述第一测量部与所述第一本体的连接处的投影、所述第二测量部与所述第一本体的连接处的投影互不重叠。优选地,还包括限位部,所述限位部用于限定所述基准测量部、所述第一测量部和所述第二测量部中的至少一者的转动位置。优选地,所述第一本体上设置第一卡槽,所述第一测量部卡接于所述第一卡槽内;和/或,所述第一本体上设置第二卡槽,所述第二测量部卡接于所述第二卡槽内;和/或,所述第二本体上设置第三卡槽,所述基准测量部卡接于所述第三卡槽内。优选地,所述基准测量部与所述第一测量部之间的最大测量距离等于所述预设值。优选地,还包括固定在所述第一本体上的电子测量尺,所述电子测量尺用于获取所述测量装置的测量结果。优选地,所述第二本体包括内套伸缩部和外露限位部,所述内套伸缩部内套于所述第一本体,所述外露限位部上具有限位凸部,所述限位凸部能够沿着所述第二本体的伸缩方向与所述第一本体挡接。本申请提供的技术方案可以达到以下有益效果:本申请提供的测量装置中,第二本体可以相对于第一本体伸缩,当被测量的大小处于基准测量部与第一测量部之间的量程范围内时,可以通过基准测量部与第一测量部得到被测量的大小,当被测量的大小处于基准测量部与第一测量部之间的量程范围之外时,则可以通过基准测量部和第二测量部得到被测量的大小,此时被测量的大小为:基准测量部和第一测量部之间的距离,与第一测量部和第二测量部之间的距离之和。因此,该测量装置可以适用于被测量的大小大于测量装置的长度的情况,因此其所适用的范围更广。应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的,并不能限制本申请。附图说明图1为本申请实施例所提供的测量装置在基准测量部、第一测量部和第二测量部均处于折叠状态时的结构示意图;图2为本申请实施例所提供的测量装置在部分部件处于折叠状态时的结构示意图;图3为图2所示结构的正视图;图4为本申请实施例所提供的测量装置设置电子测量尺后的结构示意图;图5为图4所示结构的正视图;图6为本申请实施例所提供的测量装置在第二本体伸出第一本体时的结构示意图;图7为图6所示结构的正视图;图8为本申请实施例所提供的另一种测量装置的第一本体和第二本体的结构示意图。附图标记:10-第一本体;100-第一卡槽,101-第二卡槽;11-第二本体;110-内套伸缩部,111-外露限位部,112-第三卡槽;12-基准测量部;13-第一测量部;14-第二测量部;15a-第一定位柱,15b-第二定位柱;15c-第三定位柱;16-电子测量尺;17-卡块。此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本申请的实施例,并与说明书一起用于解释本申请的原理。具体实施方式下面通过具体的实施例并结合附图对本申请做进一步的详细描述。如图1-8所示,本申请实施例提供了一种测量装置,该测量装置可以是卡尺类测量装置,也就是说,该测量装置的测量原理是采用至少两个卡爪结构卡住待测物体,进而得到待测物体的被测量的数值。该测量装置可以包括第一本体10、第二本体11、基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14,其中,基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14均为该测量装置的卡爪结构,此三者可以采用测量凸起,也可以采用测量臂,本申请实施例优选三者中的至少一者为测量臂,以此提高测量装置的测量精度。上述第一本体10和第二本体11伸缩连接,具体地,两者均可采用条形结构,两者的相对伸缩方向即为两者的延伸方向。第一测量部13和第二测量部14均安装于第一本体10上,基准测量部12安装于第二本体11上,第一测量部13的测量位置位于基准测量部12的测量位置与第二测量部14的测量位置之间。此处,第一测量部13的测量位置、基准测量部12的测量位置和第二测量部14的测量位置分别为三者处于测量状态时所处的位置,该测量状态通常指的是,三者垂直于第一本体10或第二本体11的状态。第一测量部13和第二测量部14之间的距离为预设值,该预设值可以根据具体情况灵活设置。第二本体11上具有测量刻度,该测量刻度可以反映基准测量部12与第一测量部13之间的距离。在第二本体11的伸缩行程上,测量装置所测得的值为基准测量部12与第一测量部13之间的距离,或者该距离与前述预设值之和。也就是说,当被测量的数值处于基准测量部12与第一测量部13之间的量程范围内时,可以通过基准测量部12与第一测量部13得到被测量的大小,当被测量的数值处于基准测量部12与第一测量部13之间的量程范围之外时,则可以通过基准测量部12和第二测量部14得到被测量的大小,此时被测量的大小为:基准测本文档来自技高网...
测量装置

【技术保护点】
一种测量装置,其特征在于,包括第一本体、第二本体、基准测量部、第一测量部和第二测量部;所述第一测量部和所述第二测量部均安装于所述第一本体上,且两者之间的距离为预设值;所述第二本体伸缩连接于所述第一本体上,所述基准测量部安装于所述第二本体上,所述第一测量部的测量位置位于所述基准测量部的测量位置与所述第二测量部的测量位置之间,所述第二本体上具有测量刻度;在所述第二本体的伸缩行程上,所述测量装置所测得的值为所述基准测量部与所述第一测量部之间的距离,或者所述距离与所述预设值之和。

【技术特征摘要】
1.一种测量装置,其特征在于,包括第一本体、第二本体、基准测量部、第一测量部和第二测量部;所述第一测量部和所述第二测量部均安装于所述第一本体上,且两者之间的距离为预设值;所述第二本体伸缩连接于所述第一本体上,所述基准测量部安装于所述第二本体上,所述第一测量部的测量位置位于所述基准测量部的测量位置与所述第二测量部的测量位置之间,所述第二本体上具有测量刻度;在所述第二本体的伸缩行程上,所述测量装置所测得的值为所述基准测量部与所述第一测量部之间的距离,或者所述距离与所述预设值之和。2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述基准测量部、所述第一测量部和所述第二测量部中的至少一者为测量臂。3.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述基准测量部与所述第二本体活动连接,和/或,所述第一测量部与所述第一本体活动连接,和/或,所述第二测量部与所述第一本体活动连接。4.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于:所述基准测量部相对于所述第二本体具有第一平移行程和第一转动行程,所述第一平移行程形成于所述基准测量部远离所述第二本体的过程中,所述第一转动行程形成于所述基准测量部相对于所述第二本体转动的过程中;所述第一测量部相对于所述第一本体具有第二平移行程和第二转动行程,所述第二平移行程形成于所述第一测量部远离所述第一本体的过程中,所述第二转动行程形成于所述第一测量部相对于所述第一本体转动的过程中;所述第二测量部相对于所述第一本体具有第三平移行...

【专利技术属性】
技术研发人员:张志波白曦东张晶
申请(专利权)人:北京博维恒信科技发展有限公司
类型:新型
国别省市:北京,11

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