一种屏蔽罩的平面度检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种屏蔽罩的平面度检测装置，所述装置包括检测平台和转盘：所述转盘转动连接于所述检测平台，所述转盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐，所述检测平台的上表面开设有PIN脚插孔和PIN脚插槽，所述转盘的上表面开设有PIN脚插槽，且所述PIN脚插孔的孔深和所述PIN脚插槽的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。应用本发明专利技术实施例，以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。

Flatness detecting device for shielding cover

The embodiment of the invention provides a device for detecting flatness of the shield, the apparatus comprises a detection platform and turntable: the rotary table is connected to the test platform, the turntable and the top surface of the test platform on the surface, the detection platform are arranged on the upper surface of PIN feet Jack and PIN pin slot, the turntable on the surface is provided with PIN pin slot, and the PIN pin jack hole depth and the PIN pin slot groove depth is greater than the shield PIN foot length. The embodiment of the invention is used to realize the flatness detection of most of the shielding covers with two or three PIN feet, thereby improving the detection efficiency and saving the detection cost.

【技术实现步骤摘要】
一种屏蔽罩的平面度检测装置
本专利技术涉及检测
，特别是涉及一种屏蔽罩的平面度检测装置。
技术介绍
目前，屏蔽罩已经广泛的使用在各种电子产品中，其主要应用于手机、GPS(GloblePositioningSystem，全球卫星定位系统)等领域。通常在电子元件外设一个屏蔽罩，作用就是屏蔽外接电磁波对内部电路的影响和内部产生的电磁波向外辐射。为了达到更好地屏蔽效果，对屏蔽罩的侧壁底面平整度要求较高，因此，对屏蔽罩的平面度进行检测是非常必要的。当前对于有PIN脚的屏蔽罩，PIN脚的数量通常都在两个或者三个，其平面度的检测通常是用一块比屏蔽罩长宽大一些的平整的模具钢块，把屏蔽罩放在钢块上，在PIN脚对应的位置打点做标记，再用机械加工工艺在每个点上加工一个小孔，这样就能保证屏蔽罩的PIN脚都能落在对应的小孔里面，屏蔽罩就能很平整的放在钢块上面，然后用塞尺去测量屏蔽罩与钢块之间的间隙，从而测量出屏蔽罩的平面度。但是现有的屏蔽罩平面度的检测工具一般都是根据屏蔽罩的PIN脚量身定做的，对于屏蔽罩上不同位置或者不同数量的PIN脚都需要重新定制一款平面度的检测工具，导致检测效率比较低，检测成本比较高。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提供一种屏蔽罩的平面度检测装置，以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。具体技术方案如下：本专利技术实施例提供了一种屏蔽罩的平面度检测装置，包括检测平台和转盘：所述转盘转动连接于所述检测平台，所述转盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐，所述检测平台的上表面开设有PIN脚插孔和PIN脚插槽，所述转盘的上表面开设有PIN脚插槽，且所述PIN脚插孔的孔深和所述PIN脚插槽的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。可选的，所述转盘的所述PIN脚插槽具体为过所述转盘转动轴线的直线插槽。可选的，所述检测平台的所述PIN脚插槽具体为直线插槽。可选的，所述检测平台具有两个所述PIN脚插槽，两个所述PIN脚插槽相对于所述转盘的转动轴线对称设置。可选的，所述检测平台具有若干个所述PIN脚插孔，若干个所述PIN脚插孔均分为两列并相对于所述转盘的转动轴线对称设置。可选的，所述转盘包括同轴设置的圆盘和转轴，所述检测平台具有阶梯回转孔；所述圆盘位于所述阶梯回转孔的大孔段并搭接于所述阶梯回转孔的轴肩，所述圆盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐并开设有所述PIN脚插槽；所述转轴转动插装于所述阶梯回转孔的小孔段。可选的，所述的平面度检测装置还包括锁紧螺母，所述锁紧螺母与所述转轴由伸出于所述检测平台的伸出端螺纹连接。本专利技术实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置，针对屏蔽罩上有两个或者三个PIN脚的情况，将其PIN脚分别插入PIN脚插孔和PIN脚插槽中，再使用塞尺测量该屏蔽罩的平面度，从而判断其平面度是否合格。通过该检测装置，可以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。当然，实施本专利技术的任一产品或方法必不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置的爆炸图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。现有的屏蔽罩的PIN脚大多是两个或者三个，PIN直译过来就是大头针、针、栓、琐碎物等意思，是指PIN脚的形状可以是各种类似大头针形、栓形等形状，PIN脚即管脚、插脚，用来连接电气元件及其屏蔽罩。通常，屏蔽罩的PIN脚分散在屏蔽罩的不同侧，或者在同一侧的不同端，由于现有的带有PIN脚的屏蔽罩的平面度测量方法比较单一，而且耗财耗时，检测效率较低。因此，针对于有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩，提供一种通用的可调的平面度检测工具是非常必要的。参见图1，图1为本专利技术实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置的结构示意图。图1所示的屏蔽罩的平面度检测装置包括检测平台1和转盘2：转盘2转动连接于检测平台1，转盘2的上表面与检测平台1的上表面平齐，检测平台1的上表面开设有PIN脚插孔3和PIN脚插槽4，转盘2的上表面开设有PIN脚插槽4，且PIN脚插孔3的孔深和PIN脚插槽4的槽深均大于屏蔽罩的PIN脚的长度。具体的，当屏蔽罩的PIN脚为两个时，分为两种放置方法。第一种放置方法为：将屏蔽罩的其中一个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中或者检测平台1的PIN脚插槽4中，将屏蔽罩的另一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，以使屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合，本专利技术中，在测量待检测面的平面度之前，需要保证转盘2的上表面与检测平台1的上表面平齐，才能确保该检测装置在测量屏蔽罩的平面度时更加准确。具体的，先将第一个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中或者检测平台1的PIN脚插槽4中，这是因为PIN脚在PIN脚插槽4中可以来回滑动，即可以调节不同PIN脚位置的屏蔽罩的在检测装置上的放置，然后再将屏蔽罩的另一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，这样，通过固定屏蔽罩的第二个PIN脚，也将屏蔽罩整体固定在检测装置上，即屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合，就可以再进一步进行该屏蔽罩的平面度测量。这里，需要确保PIN脚插孔3的孔深和PIN脚插槽4的槽深均大于屏蔽罩的PIN脚的长度，是为了在测量屏蔽罩的平面度时，可以将屏蔽罩的所有PIN脚都完全插入PIN脚插孔3和PIN脚插槽4之中，然后屏蔽罩的待检测面就可以贴合检测平台1和转盘2的上表面，这样提高了测量的准确性。第二种放置方法为：将屏蔽罩的其中一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，将屏蔽罩的另一个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中，以使屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合。具体的，将其中一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，这样，先将屏蔽罩的一个PIN脚固定住，然后再去将另一个PIN脚插入到合适的位置。这里，其中一个PIN脚即第一个PIN脚，另一个PIN脚即第二个PIN脚，由于第一个PIN脚已固定，那么就很难确保第二个PIN脚刚好能插入到检测平台1的PIN脚插槽4中，因此，可以通过转动转盘2，以使转盘2上的PIN脚插槽4与第二个PIN脚的位置相对应，然后将第二个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中，这样就使得两个PIN脚都插入检测装置中，从而，屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合，再进一步进行该屏蔽罩的平面度测量。当屏蔽罩的PIN脚为三个时，将屏蔽罩的第一个PIN脚插入到检测平台1的PIN脚插槽4中；将屏蔽罩的第二个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，将屏蔽罩的第三个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中，以使屏蔽罩的待检测面与检测平台本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种屏蔽罩的平面度检测装置，其特征在于，包括检测平台(1)和转盘(2)：所述转盘(2)转动连接于所述检测平台(1)，所述转盘(2)的上表面与所述检测平台(1)的上表面平齐，所述检测平台(1)的上表面开设有PIN脚插孔(3)和PIN脚插槽(4)，所述转盘(2)的上表面开设有PIN脚插槽(4)，且所述PIN脚插孔(3)的孔深和所述PIN脚插槽(4)的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。

【技术特征摘要】
1.一种屏蔽罩的平面度检测装置，其特征在于，包括检测平台(1)和转盘(2)：所述转盘(2)转动连接于所述检测平台(1)，所述转盘(2)的上表面与所述检测平台(1)的上表面平齐，所述检测平台(1)的上表面开设有PIN脚插孔(3)和PIN脚插槽(4)，所述转盘(2)的上表面开设有PIN脚插槽(4)，且所述PIN脚插孔(3)的孔深和所述PIN脚插槽(4)的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。2.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于，所述转盘(2)的所述PIN脚插槽(4)具体为过所述转盘(2)转动轴线的直线插槽。3.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于，所述检测平台(1)的所述PIN脚插槽(4)具体为直线插槽。4.如权利要求3所述的平面度检测装置，其特征在于，所述检测平台(1)具有两个所述PIN脚插槽(4)，两个所述P...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊开春，
申请(专利权)人：北京奇艺世纪科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11