平面度检测治具及平面度检测方法技术

本发明专利技术提供了一种平面度检测治具，包括：水平承载台；升降水平承载台的升降机构；设置于水平承载台上方的探针放置板，探针放置板上放置有呈阵列排布的多个探针，每一探针包括第一端和与第一端相对的第二端，多个探针能够在垂直于水平承载台的方向上移动，具有第一状态和第二状态，在第一状态，水平承载台处于第一位置，各探针的第一端与待检测件的待检测面不接触，多个探针的第一端处于同一平面内；在第二状态，水平承载台上升至第二位置，各探针的第一端与待检测件的待检测面相接触并上升预设高度；用于当多个探针在第二状态时，检测各探针的当前位置是否在预设位置上的检测机构。该治具的结构简单，操作简单，可提高准确度和检测效率。

Flatness detecting tool and flatness detecting method

The invention provides a method for detecting flatness of fixture, including horizontal bearing platform; lifting mechanism is arranged on the horizontal bearing platform; horizontal bearing probe above the placing plate, the probe is placed on the placing plate forms a plurality of probe array arrangement, each probe includes a first end and a second end opposite the first end and a plurality of probes can be moved in the direction perpendicular to the horizontal bearing platform, with the first state and the second state in the first state, the level of bearing platform is in the first position, the end of each probe and the detection of the detected surface contact, the end of a plurality of probes in the same plane in second; state level bearing platform up to second position, the first end of each probe and to be detected surface contact detection parts and rise preset height; for when a plurality of probes in the second state, the detection of Detecting mechanism on the preset position of the current position of the probe. The utility model has the advantages of simple structure and simple operation, and can improve the accuracy and the detection efficiency.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及平面度检测
，尤其涉及一种平面度检测治具及平面度检测方法。
技术介绍
在显示器制造领域，平面度测量是背光源生产中的重要环节。目前的背光源平面度检测主要采取的方法是：用大理石平台放置背光源，然后用塞尺检测背光源的四边，观察四个角是否在规格内，以此判定背光源平面度是否符合规格。这种方法的缺点是：①需要人工判断是否合格，容易受主观意识影响，人为因素影响多；②测量效率低，测量花费时间长，在量产中难以实现所有产品全部测量；③对于尺寸较大的产品，这种测量方法对中间区域的变形度无法保证，如果发生中间区域不规则曲面变形时，用塞尺的检测方法会失效。因此，采用治具的方法测量筛选背光源是非常必要的。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种平面度检测治具及平面度检测方法，通过治具来筛选平面度超规产品，加强平面度管控，可以减少重工和报废，提高良率。本专利技术所提供的技术方案如下：一种平面度检测治具，包括：用于放置待检测件的水平承载台；与所述水平承载台连接，能够升降所述水平承载台的升降机构；设置于所述水平承载台的上方的探针放置板，所述探针放置板上放置有呈阵列排布的多个探针，每一探针包括用于与待检测件的待检测面接触的第一端和与所述第一端相对的第二端，所述多个探针能够在垂直于所述水平承载台的方向上移动，而具有第一状态和第二状态，其中，在所述第一状态，所述水平承载台处于第一位置，各探针的第一端与待检测件的待检测面不接触，且多个探针的第一端处于同一平面内；在所述第二状态，所述水平承载台上升至第二位置，各探针的第一端与所述待检测件的待检测面相接触并上升预设高度；以及，用于当所述多个探针在所述第二状态时，检测各探针的当前位置是否在预设位置上的检测机构。进一步的，所述检测机构包括：设置于所述多个探针的上方，并与处于所述第一状态时所述探针放置板上的探针的第二端之间具有预设距离的第一触发部，所述第一触发部能够在与探针的第二端接触时产生第一触发信号；其中所述预设距离大于所述预设高度。进一步的，所述第一触发部包括：一能够与所述探针接触时产生第一电触发信号的电测板，且所述电测板的面向所述探针放置板的一面为平面度达到预设值的平面结构；或者，所述第一触发部包括：一能够与所述探针接触时产生光触发信号的探针触发光栅，且所述探针触发光栅的面向所述探针放置板的一面为平面度达到预设值的平面结构。进一步的，所述平面度检测治具还包括用于调整所述预设距离的调整部件，所述调整部件包括设置在所述探针放置板与所述第一触发部之间的高度可调整的垫圈。进一步的，所述第一触发部与所述探针放置板之间设置有用于使得所述第一触发部与所述探针放置板之间绝缘的绝缘部件。进一步的，所述探针放置板上设有多个通孔，所述探针放置于所述通孔内；所述探针的外周上在第一端和第二端之间设置有检测部；所述检测机构包括：设置在所述通孔的内壁上的第二触发部，其中在所述第一状态时，所述第二触发部与探针的检测部的位置对应，并与所述检测部接触，而不发送触发信号；在所述第二状态时，所述第二触发部与探针的检测部接触时发送第二触发信号。进一步的，所述通孔的内壁上形成有第一支撑台阶；在所述探针上形成与所述第一支撑台阶相配合的第二支撑台阶；其中，所述检测部包括所述探针的第二支撑台阶，所述第二触发部包括所述通孔的第一支撑台阶。一种采用如上所述的平面度检测治具进行平面度检测的方法，所述方法包括：在处于第一位置处的水平承载台上放置待检测件；上升所述水平承载台至第二位置上，以使得各探针的第一端与待检测件的待检测面相接触，并在所述待检测件的支撑下各探针上升预设高度；检测各探针当前位置是否为预设位置，以判断待检测件的待检测面的平面度是否为预设值。进一步的，所述预设值包括预设上变形量和预设下变形量，所述判断待检测件的待检测面的平面度是否为预设值包括：当第一触发部发送第一触发信号时，判断待检测件的待检测面的上变形量超出预设上变形量，其中所述预设上变形量的数值等于所述预设距离与所述预设高度之差；当第二触发部发送第二触发信号时，判断待检测件的待检测面的下变形量超出预设下变形量，其中所述预设下变形量的数值等于所述预设高度。进一步的，所述的方法还包括:调整所述探针放置板与所述第一触发部之间的预设距离，以调整待检测件的待检测面的预设上变形量；控制所述探针上升的预设高度，以调整待检测件的待检测面的预设下变形量。本专利技术的有益效果如下：本专利技术所提供的平面度检测治具，待检测件可以放置于水平承载台上，待检测件能够随水平承载台上升，而与阵列排布的多个探针接触，并将多个探针顶起预设高度之后，通过对各探针的位置进行检测，根据检测各探针是否在预设位置上，来判断待检测件的待检测面平面度是否符合规格，当检测到有探针的位置未处于预设位置时，则判断待检测件的平面度超规。该治具的结构简单，与现有技术中采用人工测量的方式相比，操作简单，可以提高准确度和检测效率，提升产能。附图说明图1表示本专利技术实施例中所提供的平面度检测治具的整体结构示意图；图2表示本专利技术实施例中所提供的平面度检测治具的分解示意图；图3表示本专利技术实施例中所提供的平面度检测治具在第一状态时的结构示意图；图4表示本专利技术实施例中所提供的平面度检测治具在第二状态时的结构示意图；图5表示图3中的A局部结构示意图；图6表示图4中的B局部结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例的附图，对本专利技术实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。针对现有技术中背光源等产品平面度检测时采用手工测量方式准确度低、效率低等问题，本专利技术提供了一种平面度检测治具及平面度检测方法，能够提高检测准确度和检测效率，且结构简单，成本低。如图1至图4所示，本专利技术所提供的平面度检测治具包括：用于放置待检测件10的水平承载台100；与所述水平承载台100连接，能够升降所述水平承载台100的升降机构200；设置于所述水平承载台100的上方的探针放置板300，所述探针放置板300上放置有呈阵列排布的多个探针301，每一探针301包括用于与待检测件10的待检测面接触的第一端和与所述第一端相对的第二端，所述多个探针301能够在垂直于所述水平承载台100的方向上移动，而具有第一状态和第二状态，其中，在所述第一状态，所述水平承载台100处于第一位置，各探针301的第一端与待检测件10的待检测面不接触，且多个探针301的第一端处于同一平面内；在所述第二状态，所述水平承载台100上升至第二位置，各探针301的第一端与所述待检测件10的待检测面相接触并上升预设高度；以及，用于当所述多个探针301在所述第二状态时，检测各探针301的当前位置是否在预设位置上的检测机构。本专利技术所提供的平面度检测治具，待检测件10可以放置于水平承载台100上，待检测件10能够随水平承载台100上升，而与阵列排布的多个探针301接触，并将多个探针301顶起预设高度之后，通过对各探针301的位置进行检测，根据检测各探针301是否在预设位置上，来判断待检测件10的待检测面平面度是否符合规格，当本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面度检测治具，其特征在于，包括：用于放置待检测件的水平承载台；与所述水平承载台连接，能够升降所述水平承载台的升降机构；设置于所述水平承载台的上方的探针放置板，所述探针放置板上放置有呈阵列排布的多个探针，每一探针包括用于与待检测件的待检测面接触的第一端和与所述第一端相对的第二端，所述多个探针能够在垂直于所述水平承载台的方向上移动，而具有第一状态和第二状态，其中，在所述第一状态，所述水平承载台处于第一位置，各探针的第一端与待检测件的待检测面不接触，且多个探针的第一端处于同一平面内；在所述第二状态，所述水平承载台上升至第二位置，各探针的第一端与所述待检测件的待检测面相接触并上升预设高度；以及，用于当所述多个探针在所述第二状态时，检测各探针的当前位置是否在预设位置上的检测机构。

【技术特征摘要】
1.一种平面度检测治具，其特征在于，包括：用于放置待检测件的水平承载台；与所述水平承载台连接，能够升降所述水平承载台的升降机构；设置于所述水平承载台的上方的探针放置板，所述探针放置板上放置有呈阵列排布的多个探针，每一探针包括用于与待检测件的待检测面接触的第一端和与所述第一端相对的第二端，所述多个探针能够在垂直于所述水平承载台的方向上移动，而具有第一状态和第二状态，其中，在所述第一状态，所述水平承载台处于第一位置，各探针的第一端与待检测件的待检测面不接触，且多个探针的第一端处于同一平面内；在所述第二状态，所述水平承载台上升至第二位置，各探针的第一端与所述待检测件的待检测面相接触并上升预设高度；以及，用于当所述多个探针在所述第二状态时，检测各探针的当前位置是否在预设位置上的检测机构。2.根据权利要求1所述的平面度检测治具，其特征在于，所述检测机构包括：设置于所述多个探针的上方，并与处于所述第一状态时所述探针放置板上的探针的第二端之间具有预设距离的第一触发部，所述第一触发部能够在与探针的第二端接触时产生第一触发信号；其中所述预设距离大于所述预设高度。3.根据权利要求2所述的平面度检测治具，其特征在于，所述第一触发部包括：一能够与所述探针接触时产生第一电触发信号的电测板，且所述电测板的面向所述探针放置板的一面为平面度达到预设值的平面结构；或者，所述第一触发部包括：一能够与所述探针接触时产生光触发信号的探针触发光栅，且所述探针触发光栅的面向所述探针放置板的一面为平面度达到预设值的平面结构。4.根据权利要求2所述的平面度检测治具，其特征在于，所述平面度检测治具还包括用于调整所述预设距离的调整部件，所述调整部件包括设置在所述探针放置板与所述第一触发部之间的高度可调整的垫圈。5.根据权利要求2所述的平面度检测治具，其特征在于，所述第一触发部与所述探针放置板之间设置有用于使得所述第一触发部与所述探针放置板之间绝...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄隆，蔡斯特，何红超，
申请(专利权)人：合肥京东方光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34