大电流导电装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种大电流导电装置，包括探针插座、探针及用于与电元件的电极连接的电元件插头,所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针能与所述电极电连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构。本发明专利技术提供的大电流导电装置，通过设置探针插座与电元件插头的插接结构，使得探针与电元件之间的连接稳固，插拔方便，弹性导电连接结构不仅起到紧固作用，还起到对大电流进行导电的作用，与探针结合能起到同时测量大电流信号及小电流信号的目的，有效简化导电装置结构、提高装配效率及提高测试的准确度，能够获得准确的电信号。

High current conduction device

The invention provides a large current conducting device comprises a probe, probe socket and plug connection for electrical components and electrical components of the electrode, the probe socket and the electric element plug, the probe socket is sleeved in the external probe and connected with the sliding direction along the axis of the probe the probe, the probe is connected to the electrode, conductive elastic connection structure is arranged between the probe and the electrical plug socket. Large current conducting device provided by the invention, by setting the probe socket and plug structure electrical plug, making solid connection between the probe and the components of the electric plug convenience, elastic conductive connection structure not only has the fastening function, but also play on current conducting role, combined with the probe can play at the same time measurement large current signal and low current signals to simplify the structure and improve the efficiency of assembly and conductive device improve the testing accuracy, can obtain accurate signal.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电元件检测
，更具体地说，是涉及一种大电流导电装置。
技术介绍
随着社会的发展，电子产品被越来越多的使用，其中的电元件(例如电池)需要检测合格后才能够出厂组装。目前，对电元件进行检测的主要内容包括测试、分容、化成等，进行这些检测时，都需要使用导电装置与电元件进行电连接，进行电流、电压等电信号的传输。对于较大型的电元件，目前所使用的导电装置结构复杂，装配过程复杂，并且由于连接结构不稳定还会导致导电性能不稳定，影响检测的效率及检测结果的准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种大电流导电装置，旨在解决现有技术中存在的较大型的电元件在测试时，其对应的导电装置结构复杂，装配困难及连接结构不稳定的问题。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：提供一种大电流导电装置，包括：探针插座、探针及用于与电元件的电极连接的电元件插头,所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针能与所述电极电连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构。具体地，所述电元件插头为内螺纹套筒，所述内螺纹套筒的前端设有探测开口，所述探测开口与所述内螺纹套筒同轴设置且所述探测开口的内径小于所述内螺纹套筒的内径，所述内螺纹套筒的后端设有第一限位凸台。进一步地，所述探测开口的外侧设有导向锥面。具体地，所述电元件插头为插接柱，所述插接柱的后端设有与所述电极匹配的外螺纹，所述插接柱的中部设有第二限位凸台。具体地，所述探针插座包括插座本体及能使所述探针沿自身中轴方向在预设行程范围内运动的限位导向机构，所述插座本体后部设有插接孔，所述插接孔能与所述电元件插头插接，所述探针贯穿所述插座本体的前部且所述探针的探测端伸入所述插接孔内，所述探针与所述插座本体之间设有所述限位导向机构。进一步地，所述插座本体前部设有与所述插接孔连通且同轴设置的导向通孔，所述探针贯穿所述导向通孔，所述限位导向机构包括第一限位环、第二限位环、压簧及固定夹，所述第一限位环套装于所述探针的外部并与所述导向通孔的前端连接，所述第二限位环套装于所述探针的外部并与所述导向通孔的后端连接，所述压簧套装于所述探针的外部，所述压簧的前端与所述第二限位环抵接，所述压簧的后端与所述探针的探测端抵接，所述探针的接线端伸出所述插座本体外，所述固定夹位于所述第一限位环前部且与所述探针的接线端连接，所述固定夹的后端面能与所述第一限位环的前端面抵接。进一步地，所述第二限位环内设有向所述第二限位环后端开口的容置腔，所述容置腔的深度小于所述压簧的长度，所述压簧的前端与所述容置腔的前端面抵接。进一步地，所述插座本体的前部设有外螺纹导线连接柱。进一步地，所述弹性导电连接结构为卡圈式弹性导电环。具体地，所述弹性导电连接结构包括至少一圈与所述插接孔同轴设置的卡槽及与所述卡槽卡接的金属弹性卡圈。本专利技术提供的大电流导电装置的有益效果在于：与现有技术相比，本专利技术大电流导电装置通过设置探针插座与电元件插头的插接结构，使得探针与电元件之间的连接结构稳定，且插拔方便，弹性导电连接结构不仅能对探针插座及电元件插头之间的连接起到紧固作用，还能进行良好的导电，起到对大电流进行导电的作用，与探针结合能够起到同时测量大电流信号及小电流信号的目的，能够有效简化导电装置的结构、提高装配效率及提高测试的准确度，并且导电性能良好，能够获得准确的电信号，有利于保证测试的准确度。附图说明图1为本专利技术实施例提供的大电流导电装置的主视结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的大电流导电装置的立体结构示意图一；图3为本专利技术实施例提供的大电流导电装置的立体结构示意图二；图4为图1所示的大电流导电装置的A-A剖视图；图5为图1中电元件插头的实施例一的结构示意图；图6为图5的B-B剖视图；图7为图1中电元件插头的实施例二的结构示意图；图8为图5的C-C剖视图；图9为图1中探针插座及探针的装配结构示意图；图10为图9的D-D剖视图。图中：1、探针插座；2、探针；3、内螺纹套筒；4、探测开口；5、第一限位凸台；6、导向锥面；7、插接柱；8、外螺纹；9、第二限位凸台；10、插座本体；11、限位导向机构；12、插接孔；13、导向通孔；14、第一限位环；15、第二限位环；16、压簧；17、固定夹；18、容置腔；19、外螺纹导线连接柱；20、卡槽；21、弹簧圈；22、定位圈。具体实施方式为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。请一并参阅图1至图4，现对本专利技术提供的大电流导电装置进行说明。所述大电流导电装置，包括探针插座1、探针2及用于与电元件的电极连接的电元件插头，探针插座1能与电元件插头插接，探针插座1套装于探针2的外部并与探针2沿探针2的中轴方向滑动连接，探针2能与电极电连接，探针插座1与电元件插头之间还设有弹性导电连接结构。使用时，先将电元件插头与电元件的电极连接，同时将探针插座1与探针2同时与测试平台的导线连接，随后将探针插座1对准电元件插头推入插接，实现测试的连接，测试完成后，只需将探针插座1拔出即可。同时，探针2可与探针插座1滑动连接，在装配过程中，探针2能沿自身中轴方向进行移动，以适应测试位置的深度，防止装配时与探针2的探测端接触的位置与探针2硬性接触损坏探针2。弹性导电连接结构能够对探针插座1及电元件插头之间进行过盈配合，并且能够起到直接对电元件插头及探针插座1之间进行电连接的作用。应当注意的是，探针2主要用于进行小电流信号传导，电元件插头及探针插座1之间的电连接主要用于进行大电流信号传导。本专利技术提供的大电流导电装置，与现有技术相比，通过设置探针插座与电元件插头的插接结构，使得探针与电元件之间的连接结构稳定，且插拔方便，弹性导电连接结构不仅能对探针插座1及电元件插头之间的连接起到紧固作用，还能进行良好的导电，起到对大电流进行传导的作用，与探针结合能够起到同时测量大电流信号及小电流信号的目的，能够有效简化导电装置的结构、提高装配效率及提高测试的准确度，并且导电装置的导电性能良好，能够获得准确的电信号，有利于保证测试的准确度。进一步地，请一并参阅图1至图6，作为本专利技术提供的大电流导电装置的一种具体实施方式，为了方便连接，电元件插头为内螺纹套筒3，内螺纹套筒3的前端设有探测开口4，探测开口4与内螺纹套筒3同轴设置且探测开口4的内径小于内螺纹套筒3的内径，内螺纹套筒3的后端设有第一限位凸台5。电元件的电极上具有外螺纹，内螺纹套筒3的内螺纹与电极上的外螺纹相匹配，装配时只需将内螺纹套筒3拧到电极上，探测开口4将电极的端部暴露出来，方便探针2与电极的接触，并能围护住探针2探测端的四周，其与电极的连接结构简单，转配效率高，同时能为探针2在测试时提供一定的保护环境，进一步提高测试的准确度。第一限位凸台5在插接后能对探针插座1起到限位作用，防止其过渡插入影响测试的准确性甚至损坏探针2。优选的，请一并参阅图6，作为本专利技术提供的大电流导电装置的一种具体实施方式，内螺纹套筒3内的内螺纹的长度与极限拧紧位置相一致，能够有效防止内螺纹套筒3过本文档来自技高网...

【技术保护点】
大电流导电装置，其特征在于：包括探针插座、探针及用于与电元件的电极连接的电元件插头，所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针能与所述电极电连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构。

【技术特征摘要】
1.大电流导电装置，其特征在于：包括探针插座、探针及用于与电元件的电极连接的电元件插头，所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针能与所述电极电连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构。2.如权利要求1所述的大电流导电装置，其特征在于：所述电元件插头为内螺纹套筒，所述内螺纹套筒的前端设有探测开口，所述探测开口与所述内螺纹套筒同轴设置且所述探测开口的内径小于所述内螺纹套筒的内径，所述内螺纹套筒的后端设有第一限位凸台。3.如权利要求2所述的大电流导电装置，其特征在于：所述探测开口的外侧设有导向锥面。4.如权利要求1所述的大电流导电装置，其特征在于：所述电元件插头为插接柱，所述插接柱的后端设有与所述电极匹配的外螺纹，所述插接柱的中部设有第二限位凸台。5.如权利要求2-4中任意一项所述的大电流导电装置，其特征在于：所述探针插座包括插座本体及能使所述探针沿自身中轴方向在预设行程范围内运动的限位导向机构，所述插座本体后部设有插接孔，所述插接孔能与所述电元件插头插接，所述探针贯穿所述插座本体的前部且所述探针的探测端伸入所述插接孔内，所述探针与所述插座本体之间设有所述限位导向...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛广甫，
申请(专利权)人：深圳市瑞能实业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44