The present invention relates to a method for obtaining a temperature of at least one first switch unit and a second switch unit by means of a temperature sensor coupled to a first switch unit and a second switch unit. Read on behalf of the temperature sensor temperature, on behalf of the first and second switch unit power loss in the first and second power loss value, representing the first switch unit and a temperature sensor of the thermally coupled transient thermal resistance sensor first calorific value, on behalf of the second switch unit and a temperature sensor of the thermally coupled transient thermal resistance sensor, second representative calorific value the first switch unit and a second switch unit thermal coupling circuit transient thermal resistance value. Using temperature value, the first loss power value and the first sensor heat value to determine the temperature auxiliary value. The temperature of the first switch unit is obtained by using the temperature auxiliary value, the second loss power value and the circuit heat value. The temperature of the second switch unit is obtained by using the temperature auxiliary value, the first loss power value and the circuit heat value.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及独立权利要求所述的一种装置或方法。本专利技术的客体也是一种计算机程序。
技术介绍
通常借助热敏电阻来测量MOSFET-B6电桥电路的壳体温度。例如可以通过微控制器分析热敏电阻的温度,其中可以在超过最大壳体温度的时候断开B6电桥的开关。如果多个B6电桥在一个电路板上,则所述B6电桥中的每一个例如均可以具有这样一个热敏电阻。
技术实现思路
在此背景下,以这里所介绍的方案按照主权利要求推荐一种用于借助与第一开关单元和第二开关单元热耦合的温度传感器来获取控制器的至少一个第一开关单元和第二开关单元的温度的方法,此外还推荐一种使用该方法的装置、一种控制器、以及一种相应的计算机程序。通过在从属权利要求中所列举的措施,可以对在独立权利要求中给出的装置进行有利的改进和改善。推荐一种用于借助与第一开关单元和第二开关单元热耦合的温度传感器来获取控制器的至少一个第一开关单元和第二开关单元的温度的方法,其中所述方法包括以下步骤:读入代表温度传感器的温度的温度值、代表第一开关单元的损耗功率的第一损耗功率值、代表第二开关单元的损耗功率的第二损耗功率值、代表第一开关单元和温度传感器的热耦合的瞬态热阻的第一传感器热值、代表第二开关单元和温度传感器的热耦合的瞬态热阻的第二传感器热值、代表第一开关单元和第二开关单元的热耦合的瞬态热阻的电路热值;在使用温度值、第一损耗功率值和第一传感器热值的情况下确定温度辅助值;并且在使用温度辅助值、第二损耗功率值和电路热值的情况下获取第一开关单元的温度,并且/或者在使用温度辅助值、第一损耗功率值和电路热值的情况下获取第二开关单元的温度。“开关单元” ...
【技术保护点】
用于借助与第一开关单元(102)和第二开关单元(104)热耦合的温度传感器(106)来获取控制器(100)的至少一个第一开关单元(102)和第二开关单元(104)的温度的方法(1200),其中所述方法(1200)包括以下步骤:读入(1210)代表温度传感器(106)的温度的温度值(110)、代表第一开关单元(102)的损耗功率的第一损耗功率值(112)、代表第二开关单元(104)的损耗功率的第二损耗功率值(114)、代表第一开关单元(102)和温度传感器(106)的热耦合的瞬态热阻的第一传感器热值(116)、代表第二开关单元(104)和温度传感器(106)的热耦合的瞬态热阻的第二传感器热值(118)、以及代表第一开关单元(102)和第二开关单元(104)的热耦合的瞬态热阻的电路热值(120);在使用温度值(110)、第一损耗功率值(112)和第一传感器热值(116)的情况下确定(1220)温度辅助值(T‑PCB);并且在使用温度辅助值(T‑PCB)、第二损耗功率值(114)和电路热值(120)的情况下获取(1230)第一开关单元(102)的温度,并且/或者在使用温度辅助值(T‑PCB) ...
【技术特征摘要】
2015.07.01 DE 102015212298.01.用于借助与第一开关单元(102)和第二开关单元(104)热耦合的温度传感器(106)来获取控制器(100)的至少一个第一开关单元(102)和第二开关单元(104)的温度的方法(1200),其中所述方法(1200)包括以下步骤:读入(1210)代表温度传感器(106)的温度的温度值(110)、代表第一开关单元(102)的损耗功率的第一损耗功率值(112)、代表第二开关单元(104)的损耗功率的第二损耗功率值(114)、代表第一开关单元(102)和温度传感器(106)的热耦合的瞬态热阻的第一传感器热值(116)、代表第二开关单元(104)和温度传感器(106)的热耦合的瞬态热阻的第二传感器热值(118)、以及代表第一开关单元(102)和第二开关单元(104)的热耦合的瞬态热阻的电路热值(120);在使用温度值(110)、第一损耗功率值(112)和第一传感器热值(116)的情况下确定(1220)温度辅助值(T-PCB);并且在使用温度辅助值(T-PCB)、第二损耗功率值(114)和电路热值(120)的情况下获取(1230)第一开关单元(102)的温度,并且/或者在使用温度辅助值(T-PCB)、第一损耗功率值(112)和电路热值(120)的情况下获取(1230)第二开关单元(104)的温度。2.根据权利要求1所述的方法(1200),包括下述步骤:根据分配给第一开关单元(102)和/或第二开关单元(104)的中间电路的中间电路电流和第一开关单元(102)的至少一个元器件参数计算第一损耗功率值(112),并且/或者根据中间电路电流和第二开关单元(104)的至少一个元器件参数计算第二损耗功率值(114)。3.根据上述权利要求中任一项所述的方法(1200),在确定(1220)步骤中通过将由第一损耗功率值(112)和第一传感器热值(116)形成的乘积从温度值(110)中减去,从而确定温度辅助值(T-PCB)。4.根据上述权利要求中任一项所述的方法(1200),在获取(1230)步骤中通过将温度辅助值(T-PCB)与由第二损耗功率值(114)和电路热值(120)形成的乘积相加,从而获取第一开关单元(102)的温度,并且/或者通过将温度辅助值(T-PCB)与由第一损耗功率值(112)和电路热值(120)形成的乘积相加,从而获取第二开关单元(104)的温度。5.根据上述...
【专利技术属性】
技术研发人员:B·希林格,
申请(专利权)人:罗伯特·博世有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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