粗糙度自动测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及粗糙度自动测量装置。其特征是：减震橡胶垫（10）安装到箱体（11）底面四角位置，横向位移装置（8）安装到箱体（11）上表面正下方并与铝导轨（6）相连接，铝导轨（6）与位于箱体（11）上面的样品台（9）相接，支架（7）安装到箱体（11）上表面并通过铝导轨（6）支撑数据采集装置（1），支架（7）通过样品台摄像头纵向调节安装支架（5）连接样品台摄像头纵向调节杆光（4）及样品台摄像头纵向调节螺杆（3）并与样品台摄像头（2）连接，防护外壳（12）安装到箱体（11）上表面并支撑纵向位移装置（13）。其结构简单，能有效的提高粗糙度测量精度并降低设备成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种表面粗糙度测量实验装置，尤其是利用计算机自动处理指定区间内进行测量的粗糙度自动测量装置。
技术介绍
表面粗糙度是反映样品表面微观结构的一个重要指标。样品表面的粗糙度直接影响材料表面的耐摩性能、耐腐蚀性能、生物相容性等众多功能指标。材料表面粗糙度成为影响功能材料应用的一个重要因素。目前，表面粗糙度测量方法主要有样板比较法，光切法，干涉法，触针法等，比较法经验因素大，精度低；光切法精度高但适用范围小；干涉法仪器调整要求高；触针法精度高，适用范围广，但是仪器价格高，不利于节约成本。
技术实现思路
本技术的目的是为了弥补市售仪器功能单一的不足,同时能达到检测三维表面结构的目的,本技术提供一种利用计算机辅助测量功能材料表面粗糙度自动测量装置，其具有成本低、操作简单、人为因素影响小等优点。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：粗糙度自动测量装置，其特征是：减震橡胶垫安装到箱体底面四角位置，横向位移装置安装到箱体上表面正下方并与铝导轨相连接，铝导轨与位于箱体上面的样品台相接，支架安装到箱体上表面并通过铝导轨支撑数据采集装置，支架通过样品台摄像头纵向调节安装支架连接样品台摄像头纵向调节光杆及样品台摄像头纵向调节螺杆并与样品台摄像头连接，防护外壳安装到箱体上表面并支撑纵向位移装置。使用时，计算机通过两USB口与仪器两视频采集设备相连，一个USB口负责采集样品表面整理图像，另一个USB口负责采集样品表面粗糙度信息；计算机利用并口对仪器内部的步进电机及探针进行控制，实现探针在样品表面二维方向运动及粗糙度探测；探针利用电磁铁与永磁体实现深度控制，一端利用反射镜形成的光杠杆原理对样品表面粗糙度信息进行放大，提高测量精度。本技术的有益效果是，可利用计算机控制粗糙度仪器自动对选区进行粗糙度测量并自动处理数据；采用光杠杆原理对粗糙度信号进行放大，有利用提高接触法测量精度；由于仪器采用低成本的步进电机，简单电路及光学系统，成本低，性能可靠，测量方便，数据可三维显示。附图说明下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。图1为本技术的主视图。图中：1.数据采集装置；2.样品台摄像头；3.样品台摄像头纵向调节螺杆；4.样品台摄像头纵向调节光杆；5.样品台摄像头纵向调节安装支架；6.铝导轨；7.支架；8.横向位移装置；9.样品台；10.减震橡胶垫；11.箱体；12.防护外壳；13.纵向位移装置。具体实施方式图1所示：粗糙度自动测量装置，其特征是：减震橡胶垫10安装到箱体11底面四角位置，横向位移装置8安装到箱体11上表面正下方并与铝导轨6相连接，铝导轨6与位于箱体11上面的样品台9相接，支架7安装到箱体11上表面并通过铝导轨6支撑数据采集装置1，支架7通过样品台摄像头纵向调节安装支架5连接样品台摄像头纵向调节光杆4及样品台摄像头纵向调节螺杆3并与样品台摄像头2连接，防护外壳12安装到箱体11上表面并支撑纵向位移装置13。本文档来自技高网...

【技术保护点】
粗糙度自动测量装置，其特征是：减震橡胶垫（10）安装到箱体（11）底面四角位置，横向位移装置（8）安装到箱体（11）上表面正下方并与铝导轨（6）相连接，铝导轨（6）与位于箱体（11）上面的样品台（9）相接，支架（7）安装到箱体（11）上表面并通过铝导轨（6）支撑数据采集装置（1），支架（7）通过样品台摄像头纵向调节安装支架（5）连接样品台摄像头纵向调节光杆（4）及样品台摄像头纵向调节螺杆（3）并与样品台摄像头（2）连接，防护外壳（12）安装到箱体（11）上表面并支撑纵向位移装置（13）。

【技术特征摘要】
1.粗糙度自动测量装置，其特征是：减震橡胶垫（10）安装到箱体（11）底面四角位置，横向位移装置（8）安装到箱体（11）上表面正下方并与铝导轨（6）相连接，铝导轨（6）与位于箱体（11）上面的样品台（9）相接，支架（7）安装到箱体（11）上表面并通...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨亮，陈涛，曹阳，周灿，
申请(专利权)人：海南大学，
类型：新型
国别省市：海南;46