以单、双数为准据的电子元件分类方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术是一种以单、双数为准据的电子元件分类方法及装置，包括：一检测机构，执行一间歇旋转的电子元件搬运流路并检测电子元件的特性，该检测机构设有一测盘，该测盘周缘等距环列布设有多个容槽供电子元件容置；一第一收集区，该第一收集区设有多个第一类料盒，用以收集检测后料码归类为单数的电子元件；一第二收集区，该第二收集区设有多个第二类料盒，用以收集检测后料码归类为双数的电子元件；一第一分配装置，该第一分配装置与一第一排出管连通，该第一排出管对应该测盘其中一容槽，该第一分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第一收集区的该第一类料盒相对应；一第二分配装置，该第二分配装置与一第二排出管连通，该第二排出管对应该测盘其中一容槽，该第二分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第二收集区的该第二类料盒相对应。

Electronic component classification method and device

The invention is an electronic component and device, including: a classification method of detection mechanism, implementation of electronic component handling intermittent rotary flow path and characteristics of the detection of electronic components, the detection mechanism is provided with a measuring disc, the disc circumference equidistant ring distributed with a plurality of grooves for accommodating electronic components; a first the collection area, the first collection area is provided with a plurality of first material box, in order to collect the material code after the detection of electronic components classified as singular; a second collection area, the second collection area is provided with a plurality of second kinds of material box, material code electronic components are classified as \to collect the first distribution device after detection; first, the distribution of the device with a first discharge pipe, the exhaust pipe should be measured on the first disc one slot, the first distribution device is provided with a distribution head, mobile distribution corresponding to the head can be selective to a seat assignment A plurality of distribution pipe one of the first material box of the distribution pipe and the first collecting area corresponding to second; a dispensing device, the second distribution device and a second exhaust pipe, the exhaust pipe should be measured on second disc one slot, the second distribution device is provided with a distribution head, multi a mobile distribution corresponding to the dispensing head selectively to a seat tube distribution one of the distribution pipe and the second areas of the second collection box corresponding.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种分类方法及装置，尤指使用在具有不同特性的电子元件上，将多个电子元件各自依其特性分配至不同收集区的电子元件分类方法及装置。
技术介绍
按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分类的装置必须提供精密、迅速的搬送，此外，由于制程因素，同一电子元件的物理特性愈来愈多样化，因此分类装置的可分类级(Bin)数被要求日益提升，由早期的32级增加到64级，至目前常用的128级或256级，甚至业界已有512级的分类装置出现，随着电子元件分类级数的提升且因其物理特性具有集中于部分料码(BinCode)的情形，遂有如专利号第I402108号「用于测试和分类电子元件的系统」的方式，以两个输送管道将不同特性的电子元件由旋转台移动到高速容器盘或常规容器盘来提高分类速度，其中，高速容器盘的接收座数量小于常规容器盘。
技术实现思路
惟，已知的两个输送管道搭配两个接收座数量不同的容器盘的分类方式虽可提高分类速度，但需使用在电子元件的特性集中在少数料码之前提下，一般是适用于128级以下的分类，若是使用于256级以上的分类，此种集中在少数料码的情形虽然还是会存在，但因级数的增加，原本高速容器盘的接收座数量亦需提升，且以256级的分类为例，在分成一个是1至128料码的容器盘，另一个是129至256料码的容器盘，在两个输送管道搭配两个容器盘的情形下，请参阅图10，电子元件由旋转台间歇旋转搬运到定位排出会有四种逻辑，只要电子元件有从旋转台排出一次，就需等待一次电子元件在输送管道内移动至容器盘的移动时间，只有在皆不需要排出的﹝无；无﹞情形，才可节省该次的移动时间，使旋转台快速转动至下一排出情形发生，因在256级的分类下电子元件特性一般会较集中于第1至128料码的区间，故有一输送管道单独使用占了85％的比例，这意谓着另一输送管道有85％比例闲置，而可节省移动时间的﹝无；无﹞情形仅有5％比例；换言之，随着高速容器盘的接收座数量提升甚至等同于常规容器盘的接收座数量时，将会导致一个输送管道处于过于忙碌状态，而另一个输送管道大部分处于闲置状态，产生电子元件在旋转台内耗费额外时间等待进入输送管道处的情形，无法均匀分配两个输送管道的效能，电子元件分类速度受到限制。爰是，本专利技术的目的，在于提供一种有效提高电子元件分类速度的电子元件分类方法。本专利技术的另一目的，在于提供一种有效提高电子元件分类速度的电子元件分类装置。依据本专利技术目的的电子元件分类方法，包括：使多个电子元件被一检测机构进行搬送及特性检测，当电子元件被检测出其料码归类为单数时，将该电子元件由一第一排出管经一第一分配装置至一第一收集区收集；当电子元件被检测出其料码归类为双数时，将该电子元件由一第二排出管经一第二分配装置至一第二收集区收集。依据本专利技术另一目的的电子元件分类装置，包括：用以执行如权利要求1所述种电子元件分类方法的装置。依据本专利技术另一目的的另一电子元件分类装置，包括：一检测机构，执行一间歇旋转的电子元件搬运流路并检测电子元件的特性，该检测机构设有一测盘，该测盘周缘等距环列布设有多个容槽供电子元件容置；一第一收集区，该第一收集区设有多个第一类料盒，用以收集检测后料码归类为单数的电子元件；一第二收集区，该第二收集区设有多个第二类料盒，用以收集检测后料码归类为双数的电子元件；一第一分配装置，该第一分配装置与一第一排出管连通，该第一排出管对应该测盘其中一容槽，该第一分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第一收集区的该第一类料盒相对应；一第二分配装置，该第二分配装置与一第二排出管连通，该第二排出管对应该测盘其中一容槽，该第二分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第二收集区的该第二类料盒相对应。本专利技术实施例的电子元件分类方法及装置，依电子元件检测后被归类的料号，将单数料号的电子元件，借由第一排出管排出至第一分配装置，经水平位移与上下弧形摆移或以第一方向与第二方向水平位移的移动路径，最后落下至第一收集区的预定的第一类料盒被收集；而双数料号的电子元件，借由第二排出管与第二分配装置，经水平位移与上下弧形摆移或以第一方向与第二方向水平位移的移动路径，最后落下至第二收集区的预定的第二类料盒被收集；因第一收集区与第二收集区分别收集单数与双数料号的电子元件，第一类料盒与第二类料盒总数相等，且电子元件由测盘至第一收集区或第二收集区的路径长度相等，可降低电子元件单一集中使用于第一排出管或第二排出管的比例，请参阅图11，因电子元件均匀分配至第一收集区与第二收集区，故测盘排出的四种逻辑会趋向各25％的比例分配，这意谓着可节省时间的﹝无；无﹞情形比例提升，将可有效提高电子元件整体分类的速度。【附图说明】图1是本专利技术实施例的电子元件分类装置的示意图。图2是本专利技术实施例的第一收集区的第一类料盒与第二收集区的第二类料盒料码配置的示意图。图3是本专利技术实施例的第一收集区的立体示意图。图4是本专利技术实施例的第一分配装置的立体示意图。图5是本专利技术实施例的分配座的立体示意图。图6是本专利技术实施例的第一分配装置与第一收集区的侧面示意图。图7是本专利技术实施例的第一分配装置的俯视示意图。图8是本专利技术另一实施例的第一分配装置的立体示意图。图9是本专利技术另一实施例的第一分配装置的俯视示意图。图10是本专利技术比较例的电子元件排出逻辑比例示意图。图11是本专利技术实施例的电子元件排出逻辑比例示意图。【符号说明】A检测机构A1测盘A11容槽A2送料机A21输送槽道A3检测仪器A4第一排出管A5第二排出管B第一收集区B1第一类料盒B2导料件B3拖架B31拖座B311握把B4载台B5挠性管C第一收集区C1第二类料盒D第一分配装置D1模座D11操作区间D12第一侧座D13第二侧座D14第三侧座D15滑轨D2第一驱动件D21皮带D3第二驱动件D31输出轴D32驱动臂D33连动臂D4移摆机构D41第一固定座D42嵌轮D43转轴D44嵌沟D45第二固定座D46拨架D47分配头D48枢座D5分配座D51上端缘D6分配管D61端口D’第一分配装置D1’模座D11’操作区间D12’第一侧座D13’第二侧座D14’第三侧座D2’第一驱动件D21’输出轴D22’枢座D23’嵌沟D3’第一滑轨D4’第二滑轨D5’第二驱动件D51’输出轴D52’驱动臂D53’连动臂D6’滑座D61’第一固定座D62’第二固定座D63’第一嵌轮D64’第二嵌轮D65’皮带D66’第三滑轨D67’第三固定座D7’分配头D8’分配座D9’分配管D91’端口E第二分配装置E’第二分配装置T机台W电子元件【具体实施方式】请参阅图1，本专利技术实施例的电子元件分选方法可以图中所示分选装置为例作说明，包括：一检测机构A，包括一可作间歇旋转的测盘A1，该测盘A1受架高于一机台T台面上，周缘环列布设等间距凹设的容槽A11，可借自震动送料机A2的输送槽道A21承载电子元件W以间歇性旋转流路搬送电子元件W；测盘A1上方可设置各种物理特性检测仪器A3以对位于测盘A1周缘容槽A11中的电子元件W进行检测；检测机构A本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件分类方法，其特征在于，包括：使多个电子元件被一检测机构进行搬送及特性检测，当电子元件被检测出其料码归类为单数时，将该电子元件由一第一排出管经一第一分配装置至一第一收集区收集；当电子元件被检测出其料码归类为双数时，将该电子元件由一第二排出管经一第二分配装置至一第二收集区收集。

【技术特征摘要】
2015.10.23 TW 1041348531.一种电子元件分类方法，其特征在于，包括：使多个电子元件被一检测机构进行搬送及特性检测，当电子元件被检测出其料码归类为单数时，将该电子元件由一第一排出管经一第一分配装置至一第一收集区收集；当电子元件被检测出其料码归类为双数时，将该电子元件由一第二排出管经一第二分配装置至一第二收集区收集。2.一种电子元件分类装置，其特征在于，包括：用以执行如权利要求1所述种电子元件分类方法的装置。3.一种电子元件分类装置，其特征在于，包括：一检测机构，执行一间歇旋转的电子元件搬运流路并检测电子元件的特性，该检测机构设有一测盘，该测盘周缘等距环列布设有多个容槽供电子元件容置；一第一收集区，该第一收集区设有多个第一类料盒，用以收集检测后料码归类为单数的电子元件；一第二收集区，该第二收集区设有多个第二类料盒，用以收集检测后料码归类为双数的电子元件；一第一分配装置，该第一分配装置与一第一排出管连通，该第一排出管对应该测盘其中一容槽，该第一分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第一收集区的该第一类料盒相对应；一第二分配装置，该第二分配装置与一第二排出管连通，该第二排出管对应该测盘其中一容槽，该第二分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第二收集区的该第二类料盒相对应。4.如权利要求3所述电子元件分类装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：高铭彬，林铭展，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71