用于测试针床的接地结构制造技术

本实用新型专利技术公开一种用于测试针床的接地结构，其中，该用于测试针床的接地结构包括：壳体，设有一朝上开口的容置腔；伸缩柱，活动插设在所述容置腔内；接地件，包括设在所述伸缩柱上端的连接部、以及设在所述连接部上端的定位部和接地柱；所述接地件通过所述定位部与待测试电路板定位连接，而使所述接地柱与所述待测试电路板上的接地触点触接；以及弹性复位件，连接所述壳体和所述伸缩柱，用以复位所述伸缩柱。本实用新型专利技术技术方案提高了待测试电路板接地的便捷性，且避免了接地结构受力下陷，而导致电路板无法先接地的问题。

Ground structure for the test bed

The utility model relates to a connecting structure, which used in the test bed, ground structure testing neilsbed comprises a shell, a once an accommodating cavity; the telescopic column, is movably inserted in the accommodating cavity; the grounding piece comprises a connecting part, is arranged on the upper end of the telescopic column and the positioning part is arranged on the upper end of the connecting part and the grounding column; the grounding piece through the positioning part is connected with the test circuit board positioning, so that the ground column and the test circuit board ground contact contact; and elastic resetting parts, connected with the shell and the telescopic column is used to reset the telescopic column. The technical proposal of the utility model improves the convenience of the grounding of the circuit board to be tested, and avoids the problem that the ground structure can not be ground when the grounding structure is stressed.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子设备领域，特别涉及一种用于测试针床的接地结构。
技术介绍
目前，测试针床上普遍会设置接地针，且接地针的高度大于其他针的高度，以便于使待测试的电路板先接地，避免带电插拔或静电等情形损坏电路板或针床。然而接地针在使用过程中会受到从上往下方向的力，长期受力后接地针容易下陷，导致与其他针的高度平齐，如此就无法保证待测试的电路板先接地，电路板就有损坏的可能。此外，由于接地针比较细，电路板上的接地触点也比较小，手动调整接地针与接地触点达到对应连接位置，并不容易。
技术实现思路
本技术的主要目的是提出一种用于测试针床的接地结构，旨在解决接地针长期受力后下陷而与其他针高度平齐、无法使电路板先接地的技术问题，同时提高待测试电路板接地的便捷性。为实现上述目的，本技术提出的用于测试针床的接地结构，包括：壳体，设有一朝上开口的容置腔；伸缩柱，活动插设在所述容置腔内；接地件，包括设在所述伸缩柱上端的连接部、以及设在所述连接部上端的定位部和接地柱；所述接地件通过所述定位部与待测试电路板定位连接，而使所述接地柱与所述待测试电路板上的接地触点触接；以及弹性复位件，连接所述壳体和所述伸缩柱，用以复位所述伸缩柱。优选地，所述接地柱的自由端呈锥形设置。优选地，所述定位部为凸设于所述连接部上端且并行于所述接地柱的定位柱，所述待定位柱用以适配穿设所述待测试电路板上的定位孔，而实现与所述待测试电路板的定位连接。优选地，所述接地柱设有多个，多个所述接地柱间隔环设在所述定位柱的外围。优选地，所述连接部的底面凹设有朝上延伸的插槽，所述伸缩柱的上端设有可转动插设所述插槽的插接柱。优选地，所述伸缩柱的周面凸设有第一限位部，所述第一限位部位于所述接地件下方；所述弹性复位件的一端抵接于所述第一限位部的下端；所述容置腔的腔壁上设有可供所述伸缩柱穿过的环状凸筋，所述弹性复位件的另一端抵接于该环状凸筋。优选地，所述壳体的底部设有可供所述伸缩柱穿出所述容置腔的下开口，所述伸缩柱下端的周面设有第二限位部，所述第二限位部抵接于所述下开口周缘的所述壳体。优选地，所述第二限位部为一呈环状的限位件，所述限位件上设有一安装缺口；所述伸缩柱下端的周面上凹设有供所述限位件适配嵌设的安装槽。优选地，所述壳体的外周面上设有螺纹结构，所述用于测试针床的接地结构通过所述螺纹结构固定安装于所述测试针床。本技术技术方案将上端设有接地件的伸缩柱活动插设于壳体的容置腔内，并于接地件的下方设置用以复位伸缩柱的弹性复位件，接地件上设置接地柱和用以连接电路板的定位部；如此，电路板接地时，只需将定位部与电路板对位连接，即可实现接地柱与接地触点的对位连接，提高了电路板接地的便捷性；此外，通过设置弹性复位件，使用过程中当接地柱受力时，接地柱会随伸缩柱而收缩，使用结束后接地柱在弹性复位件的作用下复位，避免了接地结构受力下陷，而导致电路板无法先接地的问题。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本技术用于测试针床的接地结构一实施例的结构示意图；图2为图1中用于测试针床的接地结构的爆炸示意图；图3为本技术中待测试电路板的结构示意图；图4为图1中用于测试针床的接地结构的俯视图；图5为图1中用于测试针床的接地结构的前视图；图6为图5中沿VI-VI线的剖切示意图。附图标号说明：标号名称标号名称标号名称1壳体11容置腔112环状凸筋12螺纹结构2伸缩柱21插接柱22第一限位部23安装槽3接地件31连接部311插槽32定位柱33接地柱4弹性复位件5电路板51定位孔52接地触点6限位件本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。本技术提出一种用于测试针床的接地结构。在本技术一实施例中，参照图1和图2，该用于测试针床的接地结构包括：壳体1，设有一朝上开口的容置腔11；伸缩柱2，活动插设在容置腔11内；接地件3，包括设在伸缩柱2上端的连接部31、以及设在连接部31上端的定位部和接地柱33；接地件3通过定位部与待测试电路板5定位连接，而使接地柱33与待测试电路板5上的接地触点52触接；以及弹性复位件4，连接壳体1和伸缩柱2，用以复位伸缩柱2。具体地，接地柱33自由端的高度大于测试针床上其他测试针的高度；测试针床工作时，电路板5与定位部连接，再使接地触点52持续弹性抵压接地柱33，弹性复位件4被压缩，直至测试针抵接电路板5，进行测试；完成测试后，伸缩柱2于弹性复位件4的作用下复位。不失一般性，连接部31为与伸缩柱2同轴设置的圆柱体，当然，于其他实施例中，连接部31也可为其他结构。本技术技术方案将上端设有接地件3的伸缩柱2活动插设于壳体1的容置腔11内，并于接地件3的下方设置用以复位伸缩柱2的弹性复位件4，接地件3上设置接地柱33和用以连接电路板5的定位部；如此，电路板5接地时，只需将定位部与电路板5对位连接，即可实现接地柱33与接地触点52的对位连接，提高了电路板5接地的便捷性。此外，通过设置弹性复位件4，使用过程中当接地柱33受力时，接地柱33会随伸缩柱2收缩，使用结束后接地柱33在弹性复位件4的作用下复位，避免了接地结构受力下陷，而导致电路板无法先接地的问题。进一步地，接地柱33的自由端呈锥形设置。不失一般性，锥形的周面与母线的夹角小于30°，如此，接地柱33能更好的破除接地触点52上的氧化膜、松香，提高接地效果。需要说明的是，本设计不限于此，于其他实施例中，接地柱33的自由端也可以为平面。进一步地，定位部为凸设于连接部31上端且并行于接地柱33的定位柱32，定位柱32用以适配穿设待测试电路板上的定位孔51，而实现与待测试电路板的定位连接。不失一般性，定位柱32的自由端高于接地柱33的自由端，如此，定位柱32与定位孔51上下对位后，下压针本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试针床的接地结构，其特征在于，包括：壳体，设有一朝上开口的容置腔；伸缩柱，活动插设在所述容置腔内；接地件，包括设在所述伸缩柱上端的连接部、以及设在所述连接部上端的定位部和接地柱；所述接地件通过所述定位部与待测试电路板定位连接，而使所述接地柱与所述待测试电路板上的接地触点触接；以及弹性复位件，连接所述壳体和所述伸缩柱，用以复位所述伸缩柱。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试针床的接地结构，其特征在于，包括：壳体，设有一朝上开口的容置腔；伸缩柱，活动插设在所述容置腔内；接地件，包括设在所述伸缩柱上端的连接部、以及设在所述连接部上端的定位部和接地柱；所述接地件通过所述定位部与待测试电路板定位连接，而使所述接地柱与所述待测试电路板上的接地触点触接；以及弹性复位件，连接所述壳体和所述伸缩柱，用以复位所述伸缩柱。2.如权利要求1所述的用于测试针床的接地结构，其特征在于，所述接地柱的自由端呈锥形设置。3.如权利要求1所述的用于测试针床的接地结构，其特征在于，所述定位部为凸设于所述连接部上端且并行于所述接地柱的定位柱，所述定位柱用以适配穿设所述待测试电路板上的定位孔，而实现与所述待测试电路板的定位连接。4.如权利要求3所述的用于测试针床的接地结构，其特征在于，所述接地柱设有多个，多个所述接地柱间隔环设在所述定位柱的外围。5.如权利要求4所述的用于测试针床的接地结构，其特征在于，所述连接部可转动连接在所述伸缩柱的上端，且所述定位柱与所述伸缩柱同轴设置。6.如权利要求5所述的用于测...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗华，王伟，赵龙立，腊德炳，王旭杰，李晓飞，
申请(专利权)人：TCL王牌电器惠州有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44