The utility model provides an auxiliary testing equipment, automatic test equipment, the auxiliary testing equipment includes: central control board for testing instructions received from a processor output, and the interpretation of the test instructions will be issued; instruction transmission path circuit parameters to be tested including the processor has selected test instruction and in the processor set; at least one group multicard slot adapter plate, and the central control board connection, used to relay the test instruction; at least one group can be inserted into the controlled switch group board, respectively inserted into the multi card slot adapter plate and the circuit to be tested on at least one test circuit on the test instructions to access the start of the test, auxiliary equipment, test circuit parameters of the circuit in the test point. The utility model can automatically, continuously and quickly complete the test circuit parameters, easy operation, and accurate access to the circuit parameters of the circuit board, even without adding auxiliary circuit in the circuit parameter test for a limited time when.
【技术实现步骤摘要】
本技术属于电路板制造领域,涉及一种辅助设备,特别是涉及一种测试辅助设备、自动测试方法及装置。
技术介绍
集成电路(IntegratedCircuit,IC)是一种微型电子器件,通过采用一定的工艺,把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行电路参数测试时,一般是对电子产品的集成电路进行电路参数测试。对集成电路进行电路参数测试时,需要将集成电路的各个功能引脚通过集成电路转接板连接到测试装置。而数字万用表就是进行电路测试时不可或缺的工具。用数字万用表测试时,需反复手动选择数字表的档位和移动红黑表棒至需要测试的测试点。当技术原因需连续快速测试时,手动作业就难以完成。例如,当需要对电路板上的一些电路参数进行测试时,要用数字表一个一个参数进行测试。需反复调整数字表的档位和表棒位置,并目视读取记录。换一片电路板时,再重复上述过程。操作繁琐,且容易出错,且对于有时间限制的参数测试需设计辅助电路。因此,如何提供一种测试辅助设备、自动测试装置,以解决现有技术在对集成电路板进行连续快速的电路参数测试时,手动作业难以完成、操作繁琐,容易出错等缺陷,实已成为本领域从业者亟待解决的技术问题。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点,本技术的目的在于提供一种测试辅助设备、自动测试装置,用于解决现有技术中在对集成电路板进行连续快速的电路参数测试时,手动作业难以完成、操作繁琐,容易出错的问题。为实现上述目的及其他相关目的,本技术一方面提供一种测试辅助 ...
【技术保护点】
一种测试辅助设备,其特征在于,与待测电路连接,所述测试辅助设备包括:中心控制板,用于接收源于一处理器输出的测试指令,并解读该测试指令将其下发;所述测试指令中包括所述处理器已选择的需测试的电路参数及所述处理器已设置的指令传输路径;至少一组多卡槽转接板,与所述中心控制板连接,用于中转所述测试指令;至少一组可插入式受控开关组板,分别插入所述多卡槽转接板和所述待测电路上至少一测试电路点上,以接入所述测试指令,启动所述测试辅助设备,测试所述测试电路点的电路参数。
【技术特征摘要】
1.一种测试辅助设备,其特征在于,与待测电路连接,所述测试辅助设备包括:中心控制板,用于接收源于一处理器输出的测试指令,并解读该测试指令将其下发;所述测试指令中包括所述处理器已选择的需测试的电路参数及所述处理器已设置的指令传输路径;至少一组多卡槽转接板,与所述中心控制板连接,用于中转所述测试指令;至少一组可插入式受控开关组板,分别插入所述多卡槽转接板和所述待测电路上至少一测试电路点上,以接入所述测试指令,启动所述测试辅助设备,测试所述测试电路点的电路参数。2.根据权利要求1所述的测试辅助设备,其特征在于:所述中心控制板与所述处理器之间通过串行接口连接。3.根据权利要求2所述的测试辅助设备,其特征在于:所述中心控制板采用单片机芯片。4.根据权利要求1所述的测试辅助设备,其特征在于:所述多卡槽转接板包括:两线式串行总线中转芯片,用于将所述测试指令中转成测试指令数据信号和时序信号,并将其放大;多个卡槽,集成在所述两线式串行总线中转芯片上,用于传输中转后的测试指令数据信号和时序信号。5.根据权利要求1所述的测试辅助设备,其特征在于:所述可插入式受控开关组板包括:两线式串行总线端口扩展芯片,以两线式串行接口方式插入在多卡槽...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙广文,赵铁帅,孟祥忙,
申请(专利权)人:达丰上海电脑有限公司,达功上海电脑有限公司,达人上海电脑有限公司,达利上海电脑有限公司,达群上海电脑有限公司,
类型:新型
国别省市:上海;31
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