一种用于进行高温热电参数测量的样品台制造技术

技术编号:15238202 阅读:115 留言:0更新日期:2017-04-29 02:07
本实用新型专利技术公开了一种用于进行高温热电参数测量的样品台,包括样品台支架、样品台和增厚片,样品台设置于样品台支架上,样品台包括上样品台和下样品台,增厚片分别设置于上样品台与样品台支架之间和下样品台与样品台支架之间,样品放置于上样品台与下样品台之间,上样品台和下样品台上均设有垫片,上样品台和下样品台通过垫片对样品进行夹持,样品台支架上设有加热管,加热管靠近样品的一端设置,上样品台和下样品台中均设有热电偶,热电偶采集样品两端的温度。便于对样品的高温热电参数进行测量,适应不同高度的样品,避免了在高温环境下样品台易腐蚀,寿命短,从而提高了测试精度和提高了稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及热电参数测试
,具体涉及一种用于进行高温热电参数测量的样品台
技术介绍
热电材料在温差发电和电制冷领域有广泛的用途,热电参数测试仪用于对热电材料的塞贝克系数和电阻率进行测量,一直以来热电参数测量设备都是研究热电材料不可缺少的,但对于高温测试部分,存在测试精度不高、样品台易腐蚀寿命短、稳定性差等问题。本技术专利设计的样品台结构可以在保证高温测试的数据准确性和稳定性的前提下,解决样品台的寿命问题,从而大大降低了测试的成本,提高了使用的方便性。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是,针对现有技术存在的上述缺陷,提供了一种用于进行高温热电参数测量的样品台,便于对样品的高温热电参数进行测量,适应不同高度的样品,避免了在高温环境下样品台易腐蚀,寿命短,从而提高了测试精度和提高了稳定性。本技术为解决上述技术问题所采用的技术方案是:一种用于进行高温热电参数测量的样品台,包括样品台支架、样品台和增厚片,样品台设置于样品台支架上,样品台包括上样品台和下样品台,增厚片分别设置于上样品台与样品台支架之间和下样品台与样品台支架之间,样品放置于上样品台与下样品台之间,上样品台和下样品台上均设有垫片,上样品台和下样品台通过垫片对样品进行夹持,样品台支架上设有加热管,加热管靠近样品的一端设置,上样品台和下样品台中均设有热电偶,热电偶采集样品两端的温度。按照上述技术方案,上样品台和下样品台上均设有凹槽和挡块,垫片设置于凹槽中,挡块压紧垫片的上端,使垫片固定于凹槽内。按照上述技术方案,所述垫片为金属垫片。按照上述技术方案,所述的加热管为加热陶瓷管。按照上述技术方案,加热管嵌入式设置于样品台支架表面或内部。按照上述技术方案,所述的热电偶为铠装热电偶。按照上述技术方案,上样品台和下样品台的侧方均设有凹孔,热电偶插入凹孔中。按照上述技术方案,热电偶与凹孔之间涂有高温绝缘胶,用于密封。按照上述技术方案,样品台的材质为铜。按照上述技术方案,上样品台和下样品台上分别设有电流引线。本技术具有以下有益效果:通过加热管使样品一端产生高温,通过样品台对样品的夹持,通过热电偶的设置,便于对样品的高温热电参数进行测量,通过增厚片的数量和厚度调整可以夹持的样品的高度范围,适应不同高度的样品,垫片避免了样品在高温测试时直接与样品台接触,避免了在高温环境下样品台易腐蚀,寿命短,从而提高了测试精度和提高了稳定性。附图说明图1是本技术实施例中用于进行高温热电参数测量的样品台的结构示意图;图2是本技术实施例中样品台的结构示意图;图中,1-增厚片,2-样品台支架,3-挡块,4-样品,5-垫片,6-样品台,7-加热陶瓷管,8-热电偶,9-探针,10-凹孔。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术进行详细说明。参照图1~图2所示,本技术提供的一种实施例中用于进行高温热电参数测量的样品台,包括样品台支架2、样品台6和增厚片1,样品台6设置于样品台支架2上,样品台6包括上样品台和下样品台,增厚片1分别设置于上样品台与样品台支架2之间和下样品台与样品台支架2之间,样品4放置于上样品台与下样品台之间,上样品台和下样品台上均设有垫片5,上样品台和下样品台通过垫片5对样品4进行夹持,样品台支架2上设有加热管,加热管靠近样品4的一端设置,使样品4的两端产生动态温差,上样品台和下样品台中均设有热电偶8,热电偶8采集样品4两端的温度,通过采集到样品4两端的温度,可以求得样品4两端的温度差和热电势,用于快速响应样品4两端温度变化;通过加热管使样品4一端产生高温,通过样品台6对样品4的夹持,通过热电偶的设置,便于对样品的高温热电参数进行测量,通过增厚片的数量和厚度调整可以夹持的样品的高度范围,适应不同高度的样品,垫片5避免了样品4在高温测试时直接与样品台6接触,避免了在高温环境下样品台易腐蚀,寿命短,从而提高了测试精度和提高了稳定性。进一步地,样品台支架2包上样品台支架和下样品台支架,上样品台支架和下样品台支架分别与上样品台和下样品台连接。进一步地,上样品台和下样品台上均设有凹槽和挡块3,垫片5设置于凹槽中,挡块3压紧垫片5的上端,使垫片5固定于凹槽内。进一步地,所述垫片5为金属垫片5。进一步地,所述的加热管为加热陶瓷管7。进一步地,加热管嵌入式设置于样品台支架2表面或内部。进一步地,所述的热电偶8为铠装热电偶8。进一步地,上样品台和下样品台的侧方均设有凹孔10,热电偶8插入凹孔10中。进一步地,热电偶8与凹孔10之间涂有高温绝缘胶,用于密封防止凹孔10腐蚀。进一步地,样品台6的材质为铜。进一步地,上样品台和下样品台上分别设有电流引线;从上样品台和下样品台上引出的导线测量样品4上下两端的电势差。本技术的一个实施例中,本技术的工作原理:本技术专利涉及一种可以进行高温热电参数测量的样品台结构,热电参数主要包括:电阻率、塞贝克系数和热导率,使用本样品台的仪器可以进行电阻率和塞贝克系数的测量。样品4由样品台支架2安装的上样品台和下样品台夹持,在塞贝克系数测试时,在下部支架内部安装加热陶瓷管7,用于在样品4两端产生动态的温差;铠装热电偶8插入样品台6中,测量样品4上下两端的温度;从样品台6上引出的导线测量样品4上下两端的电势差;由采集到的温差和电势差求得样品4的塞贝克系数。电阻率测量时,恒流源经由上样品台和下样品台上引出的导线通过样品4,使用探针9测量接触位置的电压,然后结合样品4尺寸等参数算出样品4的电阻率数值。样品台6的核心部分由铠装热电偶8、样品台6和金属垫片5组成;并且在样品台6安装铠装热电偶8的开口处有凹孔10,用于填充密封胶防止尝试使用导致的开孔腐蚀等问题。探针9为钨探针9,两根钨探针9从侧面顶在样品4上,电阻率测量时,通过上样品台和下样品台上的引线通固定电流,并使用这两根钨探针9采集样品4表面的电压信号。以上的仅为本技术的较佳实施例而已,当然不能以此来限定本技术之权利范围,因此依本技术申请专利范围所作的等效变化,仍属本技术的保护范围。本文档来自技高网...
一种用于进行高温热电参数测量的样品台

【技术保护点】
一种用于进行高温热电参数测量的样品台,其特征在于,包括样品台支架、样品台和增厚片,样品台设置于样品台支架上,样品台包括上样品台和下样品台,增厚片分别设置于上样品台与样品台支架之间和下样品台与样品台支架之间,样品放置于上样品台与下样品台之间,上样品台和下样品台上均设有垫片,上样品台和下样品台通过垫片对样品进行夹持,样品台支架上设有加热管,加热管靠近样品的一端设置,上样品台和下样品台中均设有热电偶,热电偶采集样品两端的温度。

【技术特征摘要】
1.一种用于进行高温热电参数测量的样品台,其特征在于,包括样品台支架、样品台和增厚片,样品台设置于样品台支架上,样品台包括上样品台和下样品台,增厚片分别设置于上样品台与样品台支架之间和下样品台与样品台支架之间,样品放置于上样品台与下样品台之间,上样品台和下样品台上均设有垫片,上样品台和下样品台通过垫片对样品进行夹持,样品台支架上设有加热管,加热管靠近样品的一端设置,上样品台和下样品台中均设有热电偶,热电偶采集样品两端的温度。2.根据权利要求1所述的用于进行高温热电参数测量的样品台,其特征在于,上样品台和下样品台上均设有凹槽和挡块,垫片设置于凹槽中,挡块压紧垫片的上端,使垫片固定于凹槽内。3.根据权利要求1或2所述的用于进行高温热电参数测量的样品台,其特征在于,所述垫片为金属垫片。4.根据权利要求1所述的用于...

【专利技术属性】
技术研发人员:缪向水王愿兵童浩邰凯平蔡颖锐张雨乔伟林冲房山
申请(专利权)人:武汉嘉仪通科技有限公司
类型:新型
国别省市:湖北;42

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