一种射频器件的调试方法技术

本发明专利技术实施例公开了一种射频器件的调试方法，包括：对调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合，其中每一螺杆位置组合中包括分别对应于每一调谐螺杆的待调试位置；按照每一螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的射频器件的第一调试波形；计算每一螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据相似度设置对应的螺杆位置组合的权重值，其中相似度越大，对应的螺杆位置组合的权重值越高；根据权重值和螺杆位置组合对每一调谐螺杆的目标位置进行估算。通过上述方式，能够有效降低对人工经验的依赖度、提高调试效率，同时具有极强的普适性和泛化性。

Method for debugging radio frequency device

The embodiment of the invention discloses a debugging method, a radio frequency device: for tuning the screw position of the search space sampling, and then get multiple screw position combination, each combination comprises a screw position respectively corresponding to each tuning screw to debug position; according to the position of each screw position for debugging combination of the position adjustment of the tuning screw respectively corresponding to the first debug waveform and obtain the RF device adjusted; similarity calculation first debug waveform and the target waveform corresponding to each position of a screw combination, and according to the weight of the screw position set corresponding similarity values, the similarity is greater, the corresponding screw the combination of position weight value is higher; to estimate the target position according to the weight value and the screw position of each tuning screw combination. Through the above method, it can effectively reduce the dependence on the artificial experience, improve the debugging efficiency, at the same time, it has strong universality and generalization.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及通信领域，特别是涉及一种射频器件的调试方法。
技术介绍
在部分射频器件(例如，腔体滤波器、双工器以及合路器等)的生产过程中，通常需要对其上的调谐螺杆的位置进行调试，从而调整谐振腔内的状态和谐振腔之间的耦合关系，使得器件实现符合生产要求的指标输出。然而，上述调试过程是一种非常典型的复杂工序。例如，腔体滤波器通常由多路谐振腔构成，因此需要对几个至几十个调谐螺杆的位置进行调试。目前，上述射频器件的调试仍需要依赖人工调试，即工人使用螺丝刀，在观察矢量网络分析仪上显示的射频器件的特定参数波形的同时，逐个手动调节每个调谐螺杆的位置，直到波形符合要求。因此，调试过程相对繁琐，同时调试效率和效果完全依赖于人工经验，且对不同的产品型号无法具有普适性和泛化性。
技术实现思路
本专利技术实施例主要解决的技术问题是提供一种射频器件的调试方法，能够有效降低对人工经验的依赖度、提高调试效率，同时具有极强的普适性和泛化性。为解决上述技术问题，本专利技术实施例采用的一个技术方案是：提供一种射频器件的调试方法，该射频器件包括至少一调谐螺杆，该方法包括：对调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合，其中每一螺杆位置组合中包括分别对应于每一调谐螺杆的待调试位置；按照每一螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的射频器件的第一调试波形；计算每一螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据相似度设置对应的螺杆位置组合的权重值，其中目标波形为用于表征射频器件满足调试要求的波形，相似度越大，对应的螺杆位置组合的权重值越高；根据权重值和螺杆位置组合对每一调谐螺杆的目标位置进行估算。其中，计算每一螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据相似度设置对应的螺杆位置组合的权重值的步骤包括：计算第一调试波形与目标波形之间的均方误差；根据均方误差计算相似度，其中均方误差越大，相似度越低。其中，根据均方误差计算相似度的步骤包括：将均方误差的倒数作为相似度。其中，计算第一调试波形与目标波形之间的均方误差的步骤进一步包括：对第一调试波形进行平移，并计算平移后的第一调试波形与目标波形之间的均方误差；根据均方误差计算相似度的步骤包括：根据均方误差中的最小均方误差及其对应的平移量计算相似度，其中平移量越大，相似度越低，最小均方误差越大，相似度越低，其中最小均方误差为平移前和/或平移后计算得到的至少两个均方误差中数值最小的均方误差。其中，根据均方误差中的最小均方误差及其对应的平移量计算相似度的步骤包括：根据以下公式计算相似度：在上述公式中，S表示相似度，d为最小均方误差，δ为最小均方误差所对应的平移量，λ为经验系数，μ为比例系数。其中，计算每一螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据相似度设置对应的螺杆位置组合的权重值的步骤包括：将相似度进行归一化，并将归一化的相似度作为对应的螺杆位置组合的权重值；根据权重值和螺杆位置组合对每一调谐螺杆的目标位置进行估算的步骤包括：利用权重值对多组螺杆位置组合中对应于同一调谐螺杆的待调试位置进行加权求和，进而获得调谐螺杆的目标位置。其中，该方法进一步包括：按照估算出的目标位置对对应的调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的射频器件的第二调试波形；判断第二调试波形是否满足调试指标；若不满足调试指标，则根据权重值和螺杆位置组合进行重要性重采样，进而重新获得多组螺杆位置组合，并返回按照每一螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的射频器件的第一调试波形的步骤。其中，根据权重值和螺杆位置组合进行重要性重采样，进而重新获得多组螺杆位置组合的步骤包括：根据螺杆位置组合的权重值舍弃权重值相对较低的部分螺杆位置组合，并保留权重值相对较高的部分螺杆位置组合；在保留的部分螺杆位置组合的基础上重新获得多组螺杆位置组合，以使得重要性重采样后的螺杆位置组合与重要性重采样前的螺杆位置组合至少部分不同。其中，在保留的部分螺杆位置组合的基础上重新获得多组螺杆位置组合的步骤：在保留的部分螺杆位置组合的周围进行重新采样，进而重新获得螺杆位置组合。其中，在保留的部分螺杆位置组合的基础上重新获得多组螺杆位置组合的步骤进一步包括：对调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行重新采样，进而重新获得螺杆位置组合。本专利技术实施例的有益效果是：在本专利技术实施例的调试方法中，通过计算每一螺杆位置组合所对应的调试波形与目标波形的相似度，并根据相似度设置对应的螺杆位置组合的权重值，再根据权重值和螺杆位置组合对每一调谐螺杆的目标位置进行估算，由此能够有效降低对人工经验的依赖度、提高调试效率，同时具有极强的普适性和泛化性。进一步，通过结合重要性重采样策略，利用迭代方式实现调谐螺杆的目标位置的快速逼近，从而进一步提高调试效率。附图说明图1是适用于本专利技术实施例的调试方法的射频器件的结构示意图；图2是根据本专利技术一实施例的射频器件的调试方法的流程图；图3是根据本专利技术另一实施例的射频器件的调试方法的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1，图1是适用于本专利技术实施例的调试方法的射频器件的结构示意图。图1所示的射频器件包括至少一个调谐螺杆11和谐振腔12。在图1中，调谐螺杆11包括插入到谐振腔12内部的谐振杆111以及插入到两个谐振腔12之间的耦合杆112。其中，谐振杆111的位置直接决定谐振腔12内的状态，耦合杆112的的位置决定谐振腔12之间的耦合关系。当然，其他射频器件也可能包括其他调谐螺杆，本专利技术实施例中对调谐螺杆11的具体形式不做限定，只需能够通过调谐螺杆11的位置调整能够改变射频器件的工作状态即可。因此，射频器件的调试过程实际上就是在相应的搜索空间内对满足调试指标的螺杆位置进行搜索的过程。值得说明的是，本专利技术实施例所提供的调试方法适用的射频器件包括但不限于腔体滤波器、双工器以及合路器，而是普遍适用于设置有至少一个调谐螺杆且在调试过程中需要对满足调试指标的螺杆位置进行搜索的所有射频器件。请参阅图2，图2是根据本专利技术一实施例的射频器件的调试方法的流程图。本实施例的调试方法包括以下步骤：步骤S11：对调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合。在本步骤中，可在根据调谐螺杆的长度、调试经验和/或已调试好的相同型号的射频器件的螺杆位置所设定的搜索空间(即，合理的待调试位置范围)内，通过计算机随机或按照一定的采样规则针对每一调谐螺杆生成多个待调试位置，并进一步对所有需调试的调谐螺杆的待调试位置进行组合，进而形成多组螺杆位置组合。其中，每一螺杆位置组合中包括分别对应于每一调谐螺杆的待调试位置。此时，每一螺杆位置组合构成一个N维的向量，其中N为调谐螺杆的数量，向量中的每个元素表示对应的调谐螺杆的待调试位置。进一步，待调试位置可以由调谐螺杆的插入深度、旋转角度或其他参数来进行表征。步骤S12：按照每一螺杆位置组合中的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射频器件的调试方法，所述射频器件包括至少一调谐螺杆，其特征在于，所述方法包括：对所述调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合，其中每一所述螺杆位置组合中包括分别对应于每一所述调谐螺杆的待调试位置；按照每一所述螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的所述调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的所述射频器件的第一调试波形；计算每一所述螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据所述相似度设置对应的所述螺杆位置组合的权重值，其中所述目标波形为用于表征所述射频器件满足调试要求的波形，所述相似度越大，对应的所述螺杆位置组合的权重值越高；根据所述权重值和所述螺杆位置组合对每一所述调谐螺杆的目标位置进行估算。

【技术特征摘要】
1.一种射频器件的调试方法，所述射频器件包括至少一调谐螺杆，其特征在于，所述方法包括：对所述调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合，其中每一所述螺杆位置组合中包括分别对应于每一所述调谐螺杆的待调试位置；按照每一所述螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的所述调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的所述射频器件的第一调试波形；计算每一所述螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据所述相似度设置对应的所述螺杆位置组合的权重值，其中所述目标波形为用于表征所述射频器件满足调试要求的波形，所述相似度越大，对应的所述螺杆位置组合的权重值越高；根据所述权重值和所述螺杆位置组合对每一所述调谐螺杆的目标位置进行估算。2.根据权利要求1中的方法，其特征在于，所述计算每一所述螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据所述相似度设置对应的所述螺杆位置组合的权重值的步骤包括：计算所述第一调试波形与所述目标波形之间的均方误差；根据所述均方误差计算所述相似度，其中所述均方误差越大，所述相似度越低。3.根据权利要求2中的方法，其特征在于，所述根据所述均方误差计算所述相似度的步骤包括：将所述均方误差的倒数作为所述相似度。4.根据权利要求2中的方法，其特征在于，所述计算所述第一调试波形与所述目标波形之间的均方误差的步骤进一步包括：对所述第一调试波形进行平移，并计算平移后的所述第一调试波形与所述目标波形之间的均方误差；所述根据所述均方误差计算所述相似度的步骤包括：根据所述均方误差中的最小均方误差及其对应的平移量计算所述相似度，其中所述平移量越大，所述相似度越低，所述最小均方误差越大，所述相似度越低，其中所述最小均方误差为平移前和/或平移后计算得到的至少两个所述均方误差中数值最小的均方误差。5.根据权利要求4中的方法，其特征在于，所述根据所述均方误差中的最小均方误差及其对应的平移量计算所述相似度的步骤包括：根据以下公式计算所述相似度：S=1λδ+(1-λ)μd;]]>其中，S表示所述相似度，d为...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧勇盛，王志扬，江国来，杨镜锋，孟令江，吕琴，冯伟，
申请(专利权)人：中国科学院深圳先进技术研究院，
类型：发明
国别省市：广东;44