一种射频发射通道故障管理方法及射频模块技术

一种射频发射通道故障管理方法及射频模块，该方法应用于射频模块，射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，方法包括：BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或射频芯片所在的发射通道进行故障检测；当检测到BIST电路所在的射频芯片和/或发射通道故障时，BIST电路向主控单元通知射频芯片的故障信息，使得主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离；当故障的射频芯片的故障信息满足预设故障上报条件时，主控单元将故障的射频芯片和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。通过采用本方案，能够精确的定位到故障的芯片，且对故障的芯片进行隔离操作，不在用户端体现。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射频
，尤其涉及一种射频发射通道故障管理方法及射频模块。
技术介绍
无线拉远单元(英文全称：RemoteRadioUnit，英文简称：RRU)模块应用在多天线系统中，由于业务量的需求不断提升，RRU模块所包括的发射通道数目也较多，例如包括64T或128T的发射通道。当RRU模块中的某个发射通道故障后，单板便会上报单板硬件故障告警，如果故障发射通道的数目较多时，会造成故障告警的扎堆现象，这样也会导致用户频繁收到故障告警，用户满意度较差，并且有的发射通道故障并不一定影响当前用户进行的业务，可见故障告警的准确率也较低。目前，为了减少频繁故障告警的现象，一般通过发射通道各节点功率检测的方式统计前向反馈功率和统计反向反馈功率，以确定发射通道是否故障。且对于部分故障(业务故障会覆盖此部分故障)，为防止用户面的误报告警，对这类故障仅做日志记录，不用上报客户。但对于RRU模块的射频发射机模拟链路故障，只能通过系统的链路级检测来判断硬件链路是否存在硬件故障，故障定位只能定位到硬件链路，无法确定详细的芯片，可见，这种检测机制故障检测准确率低，也会存在不少的误报。
技术实现思路
本专利技术提供了一种发射通道故障管理方法及射频模块，能够解决现有技术中发射通道故障检测的准确率较低的问题。第一方面提供一种射频发射通道故障管理方法，所述方法应用于射频模块，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，所述方法包括：BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测；当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，所述BIST电路向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息，使得所述主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离。当故障的射频芯片的故障信息满足预设故障上报条件时，所述主控单元将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。在一些可能的设计中，所述射频芯片对应至少一个发射通道，所述BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测，包括：所述BIST电路对所述BIST电路所在的射频芯片和/或射频芯片所在的至少一个发射通道进行故障测试，以确定故障的射频芯片和/或故障的发射通道；在所述主控单元隔离故障的射频芯片和/或故障的发射通道之后，所述方法还包括：当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，所述主控单元根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。可选的，所述预设算法包括多通道增益算法和/或天线阵列增益算法。在一些可能的设计中，所述预设故障上报条件满足：故障的发射通道数目大于所述第一阈值；在故障的发射通道数目大于所述第一阈值时，所述方法还包括：所述主控单元停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。在一些可能的设计中，所述BIST电路对所在的射频芯片对应的多个发射通道进行故障测试，以确定故障的发射通道，包括：所述BIST电路获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号；所述BIST电路将所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常，并根据异常的输入信号和/或输出信号确定对应异常信号的故障的发射通道。第二方面提供一种射频模块，具有实现对应于上述第一方面提供的发射通道故障管理方法的功能。所述功能可以通过硬件实现，也可以通过硬件执行相应的软件实现。硬件或软件包括一个或多个与上述功能相对应的模块，所述模块可以是软件和/或硬件。一种可能的设计中，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，所述射频芯片内置内建自测试BIST电路；所述BIST电路，用于所述对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测，当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息；所述主控单元，用于在接收到所述BIST电路发送的所述故障信息后，根据所述故障信息对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离，并在故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。在一些可能的设计中，所述射频芯片对应多个发射通道，所述BIST电路具体用于对所在的射频芯片对应的多个发射通道进行故障测试，以确定故障的发射通道；所述主控单元在隔离故障的射频芯片和/或故障的发射通道之后，还用于：当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，所述主控单元根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述预设算法包括多通道增益算法和天线阵列增益算法，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。可选的，所述预设算法包括多通道增益算法和/或天线阵列增益算法。在一些可能的设计中，所述预设故障上报条件满足：故障的发射通道数目大于所述第一阈值；所述主控单元在故障的发射通道数目大于所述第一阈值时，还用于：停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。在一些可能的设计中，所述BIST电路包括采样量化模块、比较器和处理模块：所述采样量化模块用于获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号；所述比较器用于将所述采样量化模块获取的所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常；所述处理模块，用于根据所述比较器确定的异常的输入信号和/或输出信号确定对应异常信号的故障的发射通道。相较于现有技术，本专利技术提供的方案中，通过在每个射频芯片内设置BIST电路，在射频芯片工作过程中，该BIST对自身所在的射频芯片进行故障检测，当检测到自身所在的射频芯片故障后，则将该故障的射频芯片的故障信息反馈给主控单元，使得主控单元能够精确的定位到具体故障的射频芯片，并隔离该故障的射频芯片，并且设定只有故障的射频芯片的故障信息满足预设故障上报条件时，才将故障的射频芯片的故障信息上报给用户，从而减少用户面频繁的接收不必要的故障告警。附图说明图1为本实施例中射频发射通道故障管理方法的一种流程示意图；图2为本实施例中射频发射通道故障管理方法的另一种流程示意图；图3为本实施例中射频发射通道故障管理方法的另一种流程示意图；图4为本实施例中射频模块的一种结构示意图；图5为本实施例中BIST电路的一种结构示意图；图6为本实施例中BIST电路的另一种结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本专利技术中的实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射频发射通道故障管理方法，其特征在于，所述方法应用于射频模块，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，所述方法包括：BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测；当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，所述BIST电路向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息，使得所述主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离；当故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，所述主控单元将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。

【技术特征摘要】
1.一种射频发射通道故障管理方法，其特征在于，所述方法应用于射频模块，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，所述方法包括：BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测；当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，所述BIST电路向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息，使得所述主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离；当故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，所述主控单元将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述射频芯片对应至少一个发射通道，所述BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测，包括：所述BIST电路对所述BIST电路所在的射频芯片和/或射频芯片所在的至少一个发射通道进行故障检测，以确定故障的射频芯片和/或故障的发射通道；在所述主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离之后，所述方法还包括：当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，所述主控单元根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设算法包括多通道增益算法和/或天线阵列增益算法。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述预设故障上报条件满足：故障的发射通道数目大于所述第一阈值；在故障的发射通道数目大于所述第一阈值时，所述方法还包括：所述主控单元停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述BIST电路对所在的射频芯片和/或射频芯片所在的至少一个发射通道进行故障测试，以确定故障的射频芯片和/或故障的发射通道，包括：所述BIST电路获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号；所述BIST电路将所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常，并根据异常的输入信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟，
申请(专利权)人：上海华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31