测试平台制造技术

技术编号:15162921 阅读:96 留言:0更新日期:2017-04-12 22:43
本实用新型专利技术涉及一种测试平台,包括测试平台本体、底座及转动连接件,所述转动连接件连接于所述测试平台与所述底座之间,所述测试平台本体可绕所述转动连接件的轴线周向旋转,且还可相对所述转动连接件的轴线向靠近或远离所述底座的方向转动。上述测试平台应用于SMT首件检测系统,通过转动连接件连接测试平台本体与底座,由转动连接件连接的测试平台本体可以绕转动连接件的轴线周向旋转,方便操作人员进行测试时调整放置在测试平台本体上的检测物的位置,并且测试平台本体还可以相对转动连接件的轴线向靠近或远离底座的方向转动,以调整测试平台本体的倾斜角度,满足多种检测物的不同角度的测试需求。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及SMT检测
,特别是涉及一种用于SMT首件检测的测试平台。
技术介绍
SMT首件检测系统中的测试平台一般为转盘,主要应用于操作人员进行测试时放置产品,传统的SMT首件检测系统人工测试用的转盘一般采用以下两种方式:第一种转盘采用在底部的支撑座上固定一个表面覆盖一层防静电胶皮的圆盘的方式,此转盘结构因无轴承结构,操作员进行测试时调整放置在转盘上的PCB板的位置很不方便;第二种转盘在支撑座与圆盘之间通过深沟球轴承结构连接,支撑座上的圆盘可以绕轴承的轴线周向旋转,能满足一般的测试要求,但有些产品需要转盘倾斜角度才便于测试,此种结构无法满足。因此,一般的SMT首件检测系统中的测试平台无法全面满足多种产品不同的测试需求。
技术实现思路
基于此,有必要针对SMT首件检测系统中的测试平台无法全面满足多种产品不同的测试需求的问题,提供一种测试平台。一种测试平台,包括测试平台本体、底座及转动连接件,所述转动连接件连接于所述测试平台与所述底座之间,所述测试平台本体可绕所述转动连接件的轴线周向旋转,且还可相对所述转动连接件的轴线向靠近或远离所述底座的方向转动。上述测试平台应用于SMT首件检测系统,通过转动连接件连接测试平台本体与底座,由转动连接件连接的测试平台本体可以绕转动连接件的轴线周向旋转,方便操作人员进行测试时调整放置在测试平台本体上的检测物的位置,并且测试平台本体还可以相对转动连接件的轴线向靠近或远离底座的方向转动,以调整测试平台本体的倾斜角度,满足多种检测物的不同角度的测试需求。在其中一个实施例中,所述转动连接件包括第一转动连接件和第二转动连接件,所述测试平台本体与所述第二转动连接件连接,所述底座与所述第一转动连接件连接,所述第二转动连接件可绕所述第一转动连接件的轴线周向旋转,且还可相对所述第一转动连接件的轴线向靠近或远离所述底座的方向转动。在其中一个实施例中,还包括设于所述底座上的摩擦力调节件,所述摩擦力调节件的一端穿过所述第一转动连接件可与所述第二转动连接件接触。在其中一个实施例中,所述摩擦力调节件为穿过所述第一转动连接件可与所述第二转动连接件接触的紧固螺钉。在其中一个实施例中,所述转动连接件为向心关节轴承,所述底座为与所述向心关节轴承配合的轴承座,所述向心关节轴承包括与所述轴承座连接的外圈及可相对所述外圈转动且与所述测试平台本体连接的内圈,所述外圈为所述第一转动连接件,所述内圈为所述第二转动连接件。在其中一个实施例中,还包括设于所述底座上的第一紧固件,所述第一紧固件的一端穿过所述底座与所述第一转动连接件挤压接触。在其中一个实施例中,还包括连接轴,所述测试平台本体与所述转动连接件通过所述连接轴连接。在其中一个实施例中,还包括固定连接所述测试平台本体与所述连接轴的第二紧固件,所述测试平台本体与所述连接轴上都设有与所述第二紧固件配合的配合孔。在其中一个实施例中,所述测试平台本体为圆盘。在其中一个实施例中,还包括防静电胶皮,所述防静电胶皮设于所述测试平台本体远离所述底座的一端上。附图说明图1为本技术一具体实施例中测试平台的结构示意图;图2为图1所示测试平台的截面示意图。具体实施方式为了便于理解本技术,下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳的实施例。但是,本技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1所示,本技术一较佳实施例中的测试平台100,包括底座10、转动连接件30和测试平台本体50,转动连接件30连接于测试平台本体50与底座10之间,测试平台本体50可绕转动连接件30的轴线周向旋转,且还可相对转动连接件30的轴线向靠近或远离底座10的方向转动。上述测试平台100应用于SMT首件检测系统,通过转动连接件30连接测试平台本体50与底座10,由转动连接件30连接的测试平台本体50可以绕转动连接件30的轴线周向旋转,方便操作人员进行测试时调整放置在测试平台本体50上的检测物的位置,并且测试平台本体50还可以相对转动连接件30的轴线向靠近或远离底座10的方向转动,以调整测试平台本体50的倾斜角度,满足多种检测物的不同角度的测试需求。如图2所示,转动连接件30包括第一转动连接件32和第二转动连接件34,底座10与第一转动连接件32连接,测试平台本体50与第二转动连接件34连接,第二转动连接件34可绕第一转动连接件32的轴线周向旋转,并且还可相对第一转动连接件32的轴线向靠近或远离底座10的方向转动,也就是说第二转动连接件34不仅可以在水平面内做周向旋转,同时还可以相对水平面倾斜,实现全方位的转动。在本具体实施例中,转动连接件30为向心关节轴承,底座10为与向心关节轴承配合的轴承座,向心关节轴承包括与轴承座连接的外圈及可相对外圈转动且与测试平台本体50连接的内圈,外圈为第一转动连接件32,内圈为第二转动连接件34,外圈与内圈的接触面为球面,可实现内圈相对外圈的全方位转动,并且接触面积大,可以承受较大的负载。在本具体实施例中,测试平台本体50为圆盘,可以理解地,在其他一些实施例中,测试平台本体50也可以为其他形状,在此不做限定。测试平台100还包括设于底座10上的第一紧固件12,第一紧固件12的一端穿过底座10与第一转动连接件32挤压接触,从而可以紧固转动连接件30,使转动连接件30固定于底座10上。优选地,第一紧固件12为平端紧定螺钉。测试平台100还包括设于底座10上的摩擦力调节件14,摩擦力调节件14的一端穿过第一转动连接件32可与第二转动连接件34接触,并且可以阻碍第二转动连接件34的转动,第二转动连接件34转动时的摩擦力大小根据摩擦力调节件14与第二转动连接件34接触时的挤压力的大小调节,如此克服了深沟球轴承结构摩擦力过小,产品放置平行性不好的缺点,使得产品不仅能按要求转动或做角度倾斜,且可通过摩擦力调节件14调整合适的力度固定或转动测试平台本体50。在本具体实施例中,摩擦力调节件14穿过第一转动连接件32可与第二转动连接件34接触的紧固螺钉。通过调整紧固螺钉便可调整第二转动连接件34转动时所受到的紧固螺钉的阻力,进而调节了第二转动连接件34转动时的摩擦力。当测试平台本体10转动至合适的位置时,可以拧紧紧固螺钉固定测试平台本体10的位置,松开紧固螺钉又可以重新调整测试平台本体10的位置。在本具体实施例中,紧固螺钉为圆柱端紧定螺钉,圆柱端紧定螺钉圆柱端的平面与向心关节轴承的内圈的球面接触调节内本文档来自技高网
...
测试平台

【技术保护点】
一种测试平台,其特征在于,包括测试平台本体、底座及转动连接件,所述转动连接件连接于所述测试平台与所述底座之间,所述测试平台本体可绕所述转动连接件的轴线周向旋转,且还可相对所述转动连接件的轴线向靠近或远离所述底座的方向转动。

【技术特征摘要】
1.一种测试平台,其特征在于,包括测试平台本体、底座及转动连接件,所述转动连接件连接于所述测试平台与所述底座之间,所述测试平台本体可绕所述转动连接件的轴线周向旋转,且还可相对所述转动连接件的轴线向靠近或远离所述底座的方向转动。2.根据权利要求1所述的测试平台,其特征在于,所述转动连接件包括第一转动连接件和第二转动连接件,所述测试平台本体与所述第二转动连接件连接,所述底座与所述第一转动连接件连接,所述第二转动连接件可绕所述第一转动连接件的轴线周向旋转,且还可相对所述第一转动连接件的轴线向靠近或远离所述底座的方向转动。3.根据权利要求2所述的测试平台,其特征在于,还包括设于所述底座上的摩擦力调节件,所述摩擦力调节件的一端穿过所述第一转动连接件可与所述第二转动连接件接触。4.根据权利要求3所述的测试平台,其特征在于,所述摩擦力调节件为穿过所述第一转动连接件可与所述第二转动连接件接触的紧固螺钉。5.根据权利要求2所述的测试平台,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁建勇叶再惠
申请(专利权)人:深圳市蓝眼科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1