GIP检测电路和平板显示装置制造方法及图纸

在本发明专利技术提供的GIP检测电路和平板显示装置中，利用第九晶体管将输出端所输出高电平信号提供至检测端，并利用第十晶体管将所述输出端的低电平信号耦合到检测端，由此实现GIP信号的检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及平板显示
，特别涉及一种GIP检测电路和平板显示装置。
技术介绍
近年来，随着信息技术、无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用，人们对电子产品的依赖性与日俱增，更带来各种显示技术及显示装置的蓬勃发展。平板显示装置具有完全平面化、轻、薄、省电等特点，因此得到了广泛的应用。目前，为了降低平板显示装置的制造成本并藉以实现窄边框的目的，在制造过程中通常采用GIP(GateinPanel，门面板)技术，直接将栅极驱动电路(即GIP电路)集成于平板显示面板的阵列基板上。GIP电路产生并输出多级GIP信号，平板显示面板的各个像素根据GIP电路提供的GIP信号进行选通，各级GIP信号正常与否都会直接影响平板显示面板的显示效果。一旦某一级GIP信号出现异常，就无法选通对应的像素，所述平板显示面板100就会出现屏体不工作、屏体某一行显示异常或者屏体前一部分图片显示正常而后一部分图片显示异常这些异常情况。因此，对GIP电路输出的各级GIP信号进行检测是非常必要的。如果没有对GIP信号进行检测，很难判定是不是GIP电路的问题。目前，业内通常采用实时监控的方式，即将GIP电路的输出连接至一柔性电路板(FPC)上，通过柔性电路板(FPC)监控其输出的GIP信号。但是，如果采用这种方法来监控每一级GIP信号，则需要通过多条走线将每一级输出都连接至FPC处，这会增加边框尺寸和FPC长度，对产品外观造成不利影响，无r>法满足客户需求。除此之外，则是通过委外测试的方式对GIP电路进行检测。但进行委外测试不仅费用较高，检测周期长，而且都是破坏型测试，即便问题不是出在GIP电路上，平板显示面板中的阵列基板也无法再进行利用。基此，如何解决现有的GIP检测方式成本高、时间长、破坏产品或影响产品外观的问题，成了本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种GIP检测电路和平板显示装置，以解决现有技术中GIP检测方式成本高、时间长、破坏产品或影响产品外观的问题。为解决上述问题，本专利技术提供一种GIP检测电路，所述GIP检测电路包括：第一晶体管至第十晶体管、第一电容器、第二电容器、检测端、起始信号端、第一时钟信号端、第二时钟信号端、第一栅极信号端、第二栅极信号端以及输出端；其中，第一晶体管连接在起始信号端与第一节点之间，第一晶体管的栅极与第一时钟信号端连接；第二晶体管连接在第一时钟信号端与第三节点之间，第二晶体管的栅极连接至第一节点；第三晶体管连接在第二时钟信号端与第四节点之间，第三晶体管的栅极连接至第三节点；第四晶体管连接在第二节点与第四节点之间，第四晶体管的栅极与第二时钟信号端连接；第五晶体管连接在第三节点与第二栅极信号端之间，第五晶体管的栅极与第一时钟信号端连接；第六晶体管连接在第一栅极信号端与第二节点之间，第六晶体管的栅极连接至第一节点；第七晶体管连接在第一栅极信号端与输出端之间，第七晶体管的栅极连接至第二节点；第八晶体管连接在第二栅极信号端与输出端之间，第八晶体管的栅极连接至第一节点；第九晶体管连接在检测端与输出端之间，第九晶体管的栅极连接至第二节点；第十晶体管的源漏均与检测端连接，第十晶体管的栅极连接至输出端；第一电容器连接在第三节点与第四节点之间；第二电容器连接在第一节点与输出端之间。可选的，在所述GIP检测电路中，所述第一栅极信号端用于接收高电平号，第二栅极信号端用于接收低电平信号。可选的，在所述GIP检测电路中，所述第一晶体管至第十晶体管均为薄膜晶体管。可选的，在所述GIP检测电路中，所述第一晶体管至第十晶体管均为P型薄膜晶体管。可选的，在所述GIP检测电路中，还包括：第一检测信号线至第六检测信号线、第一时钟信号线以及第二时钟信号线，每个检测单元分别与所述第一检测信号线、第二检测信号线、第一时钟信号线以及第二时钟信号线连接。可选的，在所述GIP检测电路中，所述第一晶体管和第五晶体管的导通和截止均由所述第一时钟信号线提供的第一时钟信号控制，所述第四晶体管的导通和截止由所述第二时钟信号线提供的第二时钟信号控制，第二晶体管、第六晶体管和第八晶体管的导通和截止均由所述第一节点的电位控制,第七晶体管和第九晶体管的导通和截止均由所述第二节点的电位控制，第三晶体管的导通和截止由所述第三节点的电位控制，第十晶体管的导通和截止由所述输出端的电位控制。可选的，在所述GIP检测电路中，每个检测单元的第一时钟信号端均与所述第一时钟信号线连接，每个检测单元的第二时钟信号端均与所述第二时钟信号线连接；第6n+1级检测单元的检测端均与所述第一检测线连接，第6n+2级检测单元的检测端均与所述第二检测线连接，第6n+3级检测单元的检测端均与所述第三检测线连接，第6n+4级检测单元的检测端均与所述第四检测线连接，第6n+5级检测单元的检测端均与所述第五检测线连接，第6n+6级检测单元的检测端均与所述第六检测线连接，n为大于等于0的整数。相应的，本专利技术还提供了一种平板显示装置，所述平板显示装置包括：。所述GIP检测电路设置于所述阵列基板上。可选的，在所述的平板显示装置中，所述阵列基板具有多个像素，所述多个像素呈n行m列的阵列分布，n和m均为自然数。可选的，在所述的平板显示装置中，所述GIP检测电路中检测单元的数量与所述像素的行数相同。综上所述，在本专利技术提供的GIP检测电路和平板显示装置中，利用第九晶体管将输出端所输出高电平信号提供至检测端，并利用第十晶体管将所述输出端的低电平信号耦合到检测端，检测电路通过级联的方式，每隔6行检测输出连接在一起，仅需要6条检测信号线就可以实现整个GIP电路的检测。附图说明图1是本专利技术实施例的GIP检测电路的结构示意图；图2是本专利技术实施例的检测单元的结构示意图；图3是本专利技术实施例的GIP检测电路的时序波形图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术提出一种GIP检测电路和平板显示装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。请结合参考图1和图2，其为本专利技术实施例的GIP检测电路的结构示意图。如图1和图2所示，所述GIP检测电路100包括：多个依次连接的检测单元10，每个检测单元10均包括：第一晶体管M1至第十晶体管M10、第一电容器C1、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种GIP检测电路，其特征在于，包括：多个依次连接的检测单元，每个检测单元均包括：第一晶体管至第十晶体管、第一电容器、第二电容器、检测端、起始信号端、第一时钟信号端、第二时钟信号端、第一栅极信号端、第二栅极信号端以及输出端；其中，第一晶体管连接在起始信号端与第一节点之间，第一晶体管的栅极与第一时钟信号端连接；第二晶体管连接在第一时钟信号端与第三节点之间，第二晶体管的栅极连接至第一节点；第三晶体管连接在第二时钟信号端与第四节点之间，第三晶体管的栅极连接至第三节点；第四晶体管连接在第二节点与第四节点之间，第四晶体管的栅极与第二时钟信号端连接；第五晶体管连接在第三节点与第二栅极信号端之间，第五晶体管的栅极与第一时钟信号端连接；第六晶体管连接在第一栅极信号端与第二节点之间，第六晶体管的栅极连接至第一节点；第七晶体管连接在第一栅极信号端与输出端之间，第七晶体管的栅极连接至第二节点；第八晶体管连接在第二栅极信号端与输出端之间，第八晶体管的栅极连接至第一节点；第九晶体管连接在检测端与输出端之间，第九晶体管的栅极连接至第二节点；第十晶体管的源漏均与检测端连接，第十晶体管的栅极连接至输出端；第一电容器连接在第三节点与第四节点之间；第二电容器连接在第一节点与输出端之间。...

【技术特征摘要】
1.一种GIP检测电路，其特征在于，包括：多个依次连接的检测单元，每
个检测单元均包括：第一晶体管至第十晶体管、第一电容器、第二电容器、检
测端、起始信号端、第一时钟信号端、第二时钟信号端、第一栅极信号端、第
二栅极信号端以及输出端；
其中，第一晶体管连接在起始信号端与第一节点之间，第一晶体管的栅极
与第一时钟信号端连接；第二晶体管连接在第一时钟信号端与第三节点之间，
第二晶体管的栅极连接至第一节点；第三晶体管连接在第二时钟信号端与第四
节点之间，第三晶体管的栅极连接至第三节点；第四晶体管连接在第二节点与
第四节点之间，第四晶体管的栅极与第二时钟信号端连接；第五晶体管连接在
第三节点与第二栅极信号端之间，第五晶体管的栅极与第一时钟信号端连接；
第六晶体管连接在第一栅极信号端与第二节点之间，第六晶体管的栅极连接至
第一节点；第七晶体管连接在第一栅极信号端与输出端之间，第七晶体管的栅
极连接至第二节点；第八晶体管连接在第二栅极信号端与输出端之间，第八晶
体管的栅极连接至第一节点；第九晶体管连接在检测端与输出端之间，第九晶
体管的栅极连接至第二节点；第十晶体管的源漏均与检测端连接，第十晶体管
的栅极连接至输出端；第一电容器连接在第三节点与第四节点之间；第二电容
器连接在第一节点与输出端之间。
2.如权利要求1所述的GIP检测电路，其特征在于，所述第一栅极信号端
用于接收高电平号，第二栅极信号端用于接收低电平信号。
3.如权利要求1所述的GIP检测电路，其特征在于，所述第一晶体管至第
十晶体管均为薄膜晶体管。
4.如权利要求3所述的GIP检测电路，其特征在于，所述第一晶体管至第
十晶体管均为P型薄膜晶体管。
5.如权利要求1所述的GIP检测电路，其特征在于，还包括：第一检测信
号线至第六...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨楠，胡思明，张婷婷，姜海斌，袁晓冬，
申请(专利权)人：昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32