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一种高度差检具装置制造方法及图纸

技术编号:15111696 阅读:93 留言:0更新日期:2017-04-09 02:25
本发明专利技术公开了一种高度差检具装置,其特征在于:包括支撑梁(1)、刻度尺(2)和齿形突起(3),支撑梁(1)和刻度尺(2)呈十字架形状,支撑梁(1)的两端分别设有一个齿形突起(3);齿形突起的高度为50mm。本发明专利技术依照简单易用原则,采用两点定位,中间使用刻度尺进行测量,制造方便,使用方法简,结构简单,操作方便,经济耐用,实用高效的特点,能够方便的检验桥壳的高度差,提高生产。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机械检具领域,特别是一种高度差检具装置
技术介绍
目前机械加工制造都在向批量化、规模化方向发展,采用高效实用的专用检具是提高生产效率的重要途径,合理的专用检具可以减少工序的辅助时间,提高生产线的生产效率。
技术实现思路
针对上述问题,本专利技术所要解决的技术问题是提供一种结构简单,操作方便,经济耐用的高度差检具装置。一种高度差检具装置,其特征在于:包括支撑梁(1)、刻度尺(2)和齿形突起(3),支撑梁(1)和刻度尺(2)呈十字架形状,支撑梁(1)的两端分别设有一个齿形突起(3);齿形突起的高度为50mm。本专利技术的优点:本专利技术依照简单易用原则,采用两点定位,中间使用刻度尺进行测量,制造方便,使用方法简单,结构简单,操作方便,经济耐用,实用高效的特点,能够方便的检验桥壳的高度差,提高生产。中的工作效率。附图说明下面结合附图及实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。图1为本专利技术的结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步的解释。一种高度差检具装置,其特征在于:包括支撑梁(1)、刻度尺(2)和齿形突起(3),支撑梁(1)和刻度尺(2)呈十字架形状,支撑梁(1)的两端分别设有一个齿形突起(3);齿形突起的高度为50mm。本专利技术依照简单易用原则,采用两点定位,中间使用刻度尺进行测量,制造方便,使用方法简单。上述内容,仅为本专利技术的较佳实施例,并非用于限制本专利技术的实施方案,本领域技术人员根据本专利技术的构思,所作出的适当变通或修改,都应在本专利技术的保护范围之内。

【技术保护点】
一种高度差检具装置,其特征在于:包括支撑梁(1)、刻度尺(2)和齿形突起(3)。

【技术特征摘要】
1.一种高度差检具装置,其特征在于:包括支撑梁(1)、刻度尺(2)和齿形突起(3)。
2.根据权利要求1所述的一种高度差检具装置,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:李诗慧
申请(专利权)人:李诗慧
类型:发明
国别省市:辽宁;21

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