【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试设备,具体涉及射频集成电路测试设备。
技术介绍
随着集成电路的发展,越来越倾向于数模混合单片集成电路。电路内部通过数字功能模块对模拟部分进行控制,因此对于集成电路的测试分析,首先需要验证数字功能模块部分,以达到通过数字功能模块控制模拟部分的正常工作。由于不同的电路内部集成的数字功能模块并不一样,其中包括I2C通信协议、SPI串行通信协议、逻辑电平控制等。而对于射频集成电路,根据接收通道、发射通道与频综等不同的单元,其参数指标差异性较大。因此对于不同的电路,需要对测试系统的硬件部分单独制作,耗费时间多。目前,现有技术中的测试系统控制组合主要由开关、保护装置、连接器及相应的附属机械结构构成。在设计上,这些组合普遍采用专用化设计架构,每种测试系统型号的研制往往都需要对其加电控制组合进行定制,导致作为自动测试系统配套设备的加电控制组合耗费大量不必要的人力和物力,完全不能适应测试领域系统研制周期短的生产要求。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供射频集成电路测试设备,为了实现本专利技术的目的,采用的技术方案是:一种射频集成电路测试设备,包括上位机、交换机、PXI机箱和接口系统、测试仪器及器件安装台,所述上位机中设置有中央处理器模块、接口模块、电路功能设置模块和参数测试模块;接口模块用于和接口系统连接;电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择;参数测试模块用于对测试参数进行选择,对测试参数进行对应的功能函数设置;提供自动化测试的函数调用;对测试仪器进行读写控制;对测试结果进行合格与否的判断并进行指示;所述上位机、交换机、P ...
【技术保护点】
一种射频集成电路测试设备,包括上位机(1)、交换机(2)、PXI机箱(3)和接口系统(4)、测试仪器(5)、器件安装台(6)及中央处理器(7),其特征在于:所述上位机(1)中设置有中央处理器模块(11)、接口模块(12)、电路功能设置模块(13)和参数测试模块(15);接口模块(12)用于和接口系统(4)连接;电路功能设置模块(13)用于对测试系统的工作模式进行设置和选择;参数测试模块(15)用于对测试参数进行选择,对测试参数进行对应的功能函数设置;提供自动化测试的函数调用;对测试仪器(5)进行读写控制;对测试结果进行合格与否的判断并进行指示;所述上位机(1)、交换机(2)、PXI机箱(3)通过接口系统(4)连接;待测射频集成电路安装在器件安装台(6)上,待测射频集成电路通过器件安装台(6)和接口系统(2)与上位机(1)进行通讯,并且,待测射频集成电路通过器件安装台(6)输出信号到测试仪器(5)或者接收测试仪器(5)输出的信号;测试仪器(5)接收上位机(1)的参数测试模块输出的信号,通过器件安装台(6)读取待测射频集成电路的数据,输出到上位机(1)。
【技术特征摘要】
1.一种射频集成电路测试设备,包括上位机(1)、交换机(2)、PXI机箱(3)和接口系统(4)、测试仪器(5)、器件安装台(6)及中央处理器(7),其特征在于:所述上位机(1)中设置有中央处理器模块(11)、接口模块(12)、电路功能设置模块(13)和参数测试模块(15);接口模块(12)用于和接口系统(4)连接;电路功能设置模块(13)用于对测试系统的工作模式进行设置和选择;参数测试模块(15)用于对测试参数进行选择,对测试参数进行对应的功能函数设置;提供自动化测试的函数调用;对测试仪器(5)进行读写控制;对测试结果进行合格与否的判断并进行指示;所述上位机(1)、交换机(2)、PXI机箱(3)通过接口系统(4)连接;待测射频集成电路安装在器件安装台(6)上,待测射频集成电路通过器件安装台(6)和接口系统(2)与上位机(1)进行通讯,并且,待测射频集成电路通过器件安装台(6)输出信号到测试仪器(5)或者接收测试仪器(5)输出的信号;测试仪器(5)接收上位机(1)的参数测试模块输出的信号,通过器件安装台(6)读取待测射频集成电路的数据,输出到上位机(1)。2.根据权利要求1所述的射频集成电路测试设备,其特征在于:电路功能设置模块(13)还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制;并把数据传输到中央处理...
【专利技术属性】
技术研发人员:王浩,王刚,
申请(专利权)人:江苏艾科半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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