晶体RPP电性能参数测试分选装置及分选方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种晶体RPP电性能参数测试分选装置，包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置，送料装置包括：振动盘，振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道，轨道设置有导向槽；导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针，所述送料轨道左侧设置有测试头，测试头后部与测试头汽缸相连接；测试头后部与测试头气缸相连接，测试头前端设置有弹片，弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接；绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接。本发明专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置，结构合理、测试精度高、操作方便，提高分选效率，降低分选费用，提高产品合格率，提高生产效率。

Crystal RPP electric performance parameter test sorting device and sorting method

The invention relates to a crystal of RPP electrical properties testing and sorting device, which comprises a feeding device, testing device, separation device and a control device, feeding device comprises a vibration plate, vibration plate is provided with a material outlet inclined orbit, orbit is provided with a guide groove; the guide groove is arranged with a front side before needle, needle, needle retaining block and the bottom of the retaining pin, the feed rail are arranged at the left side of the test head, test the back of the head with a test head cylinder connected to the back of the head; test and test head cylinder connected to the front end testing head is provided with shrapnel, shrapnel and the cable insulation resistance tester is connected with the insulation; resistance tester and control device is connected to the host. The crystal RPP electric performance parameter testing and sorting device of the invention has the advantages of reasonable structure, high testing precision, convenient operation, high separation efficiency, low separation cost, high product qualification rate and high production efficiency.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种晶体参数测试装置，具体的说，是涉及一种晶体RPP电性能参数测试分选装置。
技术介绍
现有的晶体电性能参数自动测试分选设备，无法测量晶体2引线之间的绝缘性，即客户要求的RPP（Resistancepin-to-pin的缩写）参数测试，只能测量晶体2引线与外壳之间的绝缘电阻，所以需开发制造能够自动测试RPP晶体电参数同时实现自动分选的设备。
技术实现思路
针对上述现有技术中的不足，本专利技术提供一种结构合理、测试精度高、操作方便，提高生产效率的晶体RPP电性能参数测试分选装置。本专利技术所采取的技术方案是：一种晶体RPP电性能参数测试分选装置，包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置，送料装置包括：振动盘，振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道，轨道设置有导向槽；导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针，所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧；前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧；所述前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针通过连接杆与挡料汽缸相连接；测试装置包括：设置在送料轨道左侧设置有测试头，测试头后部与测试头汽缸相连接；测试头前端设置有弹片，弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接；绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接；控制装置主机分别与分选气缸、送料气缸和测试头气缸相连接；所述送料轨道下方设置有合格产品料盒和不合格产品料盒；分选装置包括分选气缸，分选气缸前端连接有分选轨道；合格产品料盒设置在送料轨道正下方；不合格产品料盒设置在送料轨道左侧下方。一种晶体RPP电性能参数测试分选装置，包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置，送料装置包括：振动盘，振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道，轨道设置有导向槽；导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针，所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧；前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧；所述前挡针与前挡针气缸相连接、中挡针与前挡针气缸相连接、下挡针与前挡针气缸相连接、底部挡针与前挡针气缸相连接；测试装置包括：设置在送料轨道左侧设置有测试头，测试头后部与测试头汽缸相连接；测试头前端设置有弹片，弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接；绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接；控制装置主机分别与分选气缸、送料气缸和测试头气缸相连接；所述送料轨道下方设置有合格产品料盒和不合格产品料盒；分选装置包括分选气缸，分选气缸前端连接有分选轨道；一种晶体RPP电性能参数测试分选方法，包括如下步骤：a、将待测产品放入振动盘；振动盘将待测产品送入送料轨道；待测产品沿送料轨道向下滑动；b、送料轨道中部设置有上挡针，上挡针将待测产品拦截；c、上挡针向右侧移动，待测产品向下移动；上挡针下方设置有中挡针，中挡针向右侧移动拦截待测产品；d、中挡针向左侧移动；下挡针向右侧移动；待测产品向下移动；下挡针拦截待测产品；下挡针向右侧移动，待测产品向下移动，底部挡针向左侧移动，底部挡针拦截待测产品；e、测试头汽缸动作使弹片分别和晶体个引线接触；绝缘电阻测试仪电极对晶体引线进行放电测试，绝缘电阻测试仪将测试结果信号输出给控制主机；f、控制主机发出动作指令给分选汽缸，如果产品合格，分选汽缸不动作，测试头汽缸退回左位，挡料汽缸移到左位，底部挡片向左移动，产品落入成品盒；如果产品不合格，分选汽缸动作，推动分选轨道移到右位，测头汽缸退回左位，同时放料、挡料汽缸移到右位，产品落入分选轨道经过分选轨道落入废品盒。本专利技术相对现有技术的有益效果：本专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置，结构合理、测试精度高、操作方便，提高分选效率，降低分选费用，提高产品合格率，提高生产效率。附图说明图1是本专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置立体结构示意图；图2是本专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置的送料轨道结构示意图；图3是本专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置的测头在测试位示意图；图4是本专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置的测头在左位示意图；图5是本专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置的挡针、挡片连接示意图；图6是本专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置的分选成品示意图；图7是本专利技术晶体RPP电性能参数测试分选装置的分选废品示意图。附图中主要部件符号说明：图中：1、振动盘2、分选汽缸3、不合格料盒4、合格料盒5、送料轨道6、放料、挡料汽缸7、测试头汽缸8、测试板9、分选轨道10、控制主机11、绝缘电阻测试仪12、弹片13、上挡针14、中挡针15、下挡针。具体实施方式以下参照附图及实施例对本专利技术进行详细的说明：附图1-7可知，一种晶体RPP电性能参数测试分选装置，包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置，送料装置包括：振动盘，振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道，轨道设置有导向槽；导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针，所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧；前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧；所述前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针通过连接杆与挡料汽缸相连接；测试装置包括：设置在送料轨道左侧设置有测试头，测试头后部与测试头汽缸相连接；测试头前端设置有弹片，弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接；绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接；控制装置主机分别与分选气缸、送料气缸和测试头气缸相连接；所述送料轨道下方设置有合格产品料盒和不合格产品料盒；分选装置包括分选气缸，分选气缸前端连接有分选轨道；合格产品料盒设置在送料轨道正下方；不合格产品料盒设置在送料轨道左侧下方。一种晶体RPP电性能参数测试分选装置，包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置，送料装置包括：振动盘，振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道，轨道设置有导向槽；导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针，所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧；前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧；所述前挡针与前挡针气缸相连接、中挡针与前挡针气缸相连接、下挡针与前挡针气缸相连接、底部挡针与前挡针气缸相连接；测试装置包括：设置在送料轨道左侧设置有测试头，测试头后部与测试头汽缸相连接；测试头前端设置有弹片，弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接；绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接；控制装置主机分别与分选气缸、送料气缸和测试头气缸相连接；所述送料轨道下方设置有合格产品料盒和不合格产品料盒；分选装置包括分选气缸，分选气缸前端连接有分选轨道；一种晶体RPP电性能参数测试分选方法，包括如下步骤：a、将待测产品放入振动盘；振动盘将待测产品送入送料轨道；待测产品沿送料轨道向下滑动；b、送料轨道中部设置有上挡针13，上挡针将待本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体RPP电性能参数测试分选装置及分选方法，包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置，其特征在于：送料装置包括：振动盘，振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道，轨道设置有导向槽；导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针，所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧；前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧；所述前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针通过连接杆与挡料汽缸相连接；测试装置包括：设置在送料轨道左侧设置有测试头，测试头后部与测试头汽缸相连接；测试头前端设置有弹片，弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接；绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接；控制装置主机分别与分选气缸、送料气缸和测试头气缸相连接；所述送料轨道下方设置有合格产品料盒和不合格产品料盒；分选装置包括分选气缸，分选气缸前端连接有分选轨道。

【技术特征摘要】
1.一种晶体RPP电性能参数测试分选装置及分选方法，包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置，其特征在于：送料装置包括：
振动盘，振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道，轨道设置有导向槽；导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针，所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧；前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧；所述前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针通过连接杆与挡料汽缸相连接；
测试装置包括：
设置在送料轨道左侧设置有测试头，测试头后部与测试头汽缸相连接；测试头前端设置有弹片，弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接；
绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接；
控制装置主机分别与分选气缸、送料气缸和测试头气缸相连接；
所述送料轨道下方设置有合格产品料盒和不合格产品料盒；
分选装置包括分选气缸，分选气缸前端连接有分选轨道。
2.根据权利要求1所述晶体RPP电性能参数测试分选装置，其特征在于：合格产品料盒设置在送料轨道正下方；不合格产品料盒设置在送料轨道左侧下方。
3.一种晶体RPP电性能参数测试分选装置，包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置，其特征在于：送料装置包括：
振动盘，振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道，轨道设置有导向槽；导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针，所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧；前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧；
所述前挡针与前挡针气缸相连接、中挡针与前挡针气缸相连接、下挡针与前挡针气缸相连接、底部挡针与前挡针气...

【专利技术属性】
技术研发人员：狄建兴，张勇，周志勇，
申请(专利权)人：唐山国芯晶源电子有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13