本发明专利技术公开了一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，涉及微波器件测试技术领域。本发明专利技术包括测试平台、定位机构、锁紧机构及上升顶出机构，所述的测试平台支撑于架体之上，定位机构用于对被测管壳进行定位，锁紧机构对定位机构进行锁紧，上升顶出机构能够把被测管壳顶起。其结构简单、使用方便、成本低廉、定位准确，能够提高测试数据的真实可靠性，同时避免管壳受到损坏。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微波器件测试
，尤其是一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置。
技术介绍
传统的底面引线管壳封装的微波器件测试装置，是将被测管壳的引线插入测试装置上相应的插孔内，通过PCB或者射频接插件引出电信号进行测试，测试完成后，用镊子等小工具翘起并取下被测管壳。这一传统的测试装置对于频率较低的微波器件来说，简单，易用，成本低是其主要优点。然而对于频率稍高的微波器件来说，其缺点就暴露无遗了：（1）如果被测管壳受到的压力不足，其底面与测试装置之间会存在缝隙，这将导致被测管壳的接地缺乏稳定性和可靠性。高频器件若不能良好接地，那么其性能会变差，测试数据也不能真实的反应出其相应指标。（2）如果被测管壳受到的压力过大，可能会对管壳造成损伤。（3）测试结束后，用镊子等小工具翘起并取下被测管壳的过程，非常容易损伤管壳外表的镀层和引线，造成质量隐患。虽然自动测试设备能够解决传统测试装置的以上种种缺点，但是由于其有较多的外围装置，对于微波器件的高低温测试来说，会非常的不方便。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其结构简单、使用方便、成本低廉、定位准确，能够提高测试数据的真实可靠性，同时避免管壳受到损坏。为解决上述技术问题，本专利技术所采取的技术方案是：一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，包括测试平台、定位机构、锁紧机构及上升顶出机构，所述的测试平台支撑于架体之上，定位机构压接在被测管壳的边缘，锁紧机构对定位机构进行锁紧，上升顶出机构能够把被测管壳顶起。进一步优选的技术方案，所述的定位机构包括旋转压板、设于旋转压板内表面上的两个定位条以及设于测试平台上的与上述定位条适配的定位槽，旋转压板上设有被测管壳放置口，定位条设置在放置口相对的两侧，旋转压板的一边与架体的一边通过转轴一转动连接，旋转压板绕转轴一旋转能够盖合在测试平台上，盖合后的旋转压板上的定位条卡合在定位槽内，旋转压板放置口能够压住被测管壳相对的两边缘；锁紧机构设置在与转轴一所在边相对的另一边，盖合后的旋转压板通过锁紧机构压紧。进一步优选的技术方案，还包括缓冲保护装置，缓冲保护装置与架体或上升顶出机构相连，能够对正在盖合的旋转压板进行缓冲。进一步优选的技术方案，所述的锁紧机构包括压板和螺钉，压板通过螺钉与架体固定在一起。进一步优选的技术方案，所述的上升顶出机构位于测试平台、双转轴传动件、垂直传动件、导向件，所述导向件固定在架体内，垂直传动件与导向件的竖向导槽滑动配合，垂直传动件下端与双转轴传动件通过转轴二转动连接，传动杠杆自架体外穿入架体内部，传动杠杆与架体上的支撑体通过转轴三转动连接，传动杠杆伸入架体的一端与双转轴传动件通过转轴四转动连接，所述测试平台，垂直传动件上端的两个顶柱在传动杠杆的作用下向上穿过两个导向孔，能够顶起位于测试平台。进一步优选的技术方案，还包括缓冲保护装置，缓冲保护装置与上升顶出机构相连，能够对正在盖合的旋转压板进行缓冲；缓冲保护装置为缓冲块，缓冲块紧贴与转轴一相连的架体的内侧壁放置，缓冲块的下端支撑在传动杠杆的端部，缓冲块的上端面高于测试平台盖合至测试平台起到缓冲的作用，缓冲块随旋转压板盖合而下移。进一步优选的技术方案，所述的支撑体固定于传动杠杆穿入侧架体的内壁上，支撑体上设有传动杠杆穿过的凹槽。进一步优选的技术方案，所述的传动杠杆上设有双转轴传动件穿入的通孔，双转轴传动件上设有垂直传动件穿入的凹槽。采用上述技术方案所产生的有益效果在于：本专利技术通过定位条和定位槽的配合能够精准定位，使旋转压板准确压接在被测管壳的边缘；用紧固件锁紧旋转压板，保证被测管壳可靠接地；测试完成后，压下传动杠杆，双转轴传动件和垂直传动件在其带动下顶起被测管壳，使被测管壳脱离测试平台，双转轴传动件和导向件使传动杠杆沿圆弧的位移转变成垂直传动件的单向垂直位移，避免了划伤被测管壳底部镀层的可能性；其结构简单、使用方便、成本低廉、定位准确，测试数据真实可靠，同时能够避免管壳受到损坏。附图说明图1是本专利技术的立体图；图2是本专利技术内部结构的立体图；图3是本专利技术旋转压板打开状态的俯视图；图4是图3的左视图；图5是图4中旋转压板盖合状态时的内部结构图；图6是图4中旋转压板盖合后的俯视图；图7是被测管壳的主视图；图8是图7的俯视图；图9是图7的侧视图；图中标记：1、旋转压板；2、锁紧机构；3、传动杠杆；4、定位条；5、定位槽；6、双转轴传动件；7、垂直传动件；8、保护装置；9、导向件；10、被测管壳；11、放置口；12、测试平台；13、架体；14、导向孔；15、转轴一；16、转轴二；17、转轴三；18、转轴四；19、支撑体。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。下述描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本专利技术具体技术方案的实施例在此不能一一列举。因此，基于本专利技术中的实施例的推广和延伸，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。参见图1-图6所示，本专利技术包括测试平台12、定位机构、锁紧机构2及上升顶出机构，所述的测试平台12支撑于架体13之上，定位机构用于准确压接在被测管壳10的边缘，并通过锁紧机构2对定位机构进行锁紧，从而可保证被测管壳10可靠接地，测试完成后，上升顶出机构能够把被测管壳10顶起。其中，定位机构包括旋转压板1，旋转压板1的一边与架体13的一边通过转轴一15转动连接，旋转压板1绕转轴一15旋转能够盖合在测试平台12上，旋转压板1上设有被测管壳10放置口11，在旋转压板1的内表面、放置口11相对的两侧各设有一定位条4，在测试平台12上设有与所述定位条4适配的定位槽5，盖合后的旋转压板1上的定位条4卡合在定位槽5内，旋转压板1放置口11能够压住被测管壳10相对的两边缘；锁紧机构2设置在与转轴一15所在边相对的另一边，盖合后的旋转压板1通过锁紧机构2压紧；通过定位条4和定位槽5的精准定位，旋转压板1准确压接在被测管壳10的边缘，然后用锁紧机构2锁紧旋转压板1，即可保证被测管壳可靠接地，提高测试数据的准确性。进一步的说明，放置口11的宽度大于被测管壳10的宽度，而其长度的尺寸保证旋转压板1盖合后，放置口11能够压住被测管壳10长度方向的折边，这样，当旋转压板1盖合时，放置口11不会触碰到被测管壳10的管壳帽，避免被测管壳10受到损坏。其中，测试时，被测管壳10的引脚插接在测试平台12上的插口内，使被测管壳10可靠电连接的同时能够准确定位。为了避免旋转压板盖合力度过大而对被测管壳10，设置了缓冲保护装置8，缓冲保护装置8与架体13相连，能够对正在盖合的旋转压板1进行缓冲，避免旋转压板1直接撞击到测试平台12上，而损坏被测管壳10。在此，缓冲保护装置8可以采用带有弹簧的结构，具体就是采用一弹簧，弹簧下端可以固定在架体13上，弹簧上端可以连接一平板，平板的上表面要高于本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其特征在于，包括测试平台（12)、定位机构、锁紧机构（2）及上升顶出机构，所述的测试平台（12)支撑于架体(13)之上，定位机构压接在被测管壳（10）的边缘，锁紧机构（2）对定位机构进行锁紧，上升顶出机构能够把被测管壳（10）顶起。
【技术特征摘要】
1.一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其特征在于，包括测试平台（12)、定位机构、锁紧机构（2）及上升顶出机构，所述的测试平台（12)支撑于架体(13)之上，定位机构压接在被测管壳（10）的边缘，锁紧机构（2）对定位机构进行锁紧，上升顶出机构能够把被测管壳（10）顶起。
2.根据权利要求1所述的一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其特征在于，所述的定位机构包括旋转压板（1）、设于旋转压板（1）内表面上的两个定位条（4）以及设于测试平台（12)上的与上述定位条（4）适配的定位槽（5），旋转压板（1）上设有被测管壳（10）放置口（11），定位条（4）设置在放置口（11）相对的两侧，旋转压板（1）的一边与架体(13)的一边通过转轴一（15）转动连接，旋转压板（1）绕转轴一（15）旋转能够盖合在测试平台（12)上，盖合后的旋转压板（1）上的定位条（4）卡合在定位槽（5）内，旋转压板（1）放置口（11）能够压住被测管壳（10）相对的两边缘；锁紧机构（2）设置在与转轴一（15）所在边相对的另一边，盖合后的旋转压板（1）通过锁紧机构（2）压紧。
3.根据权利要求2所述的一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其特征在于，还包括缓冲保护装置（8），缓冲保护装置（8）与架体(13)或上升顶出机构相连，能够对正在盖合的旋转压板（1）进行缓冲。
4.根据权利要求1所述的一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其特征在于，所述的锁紧机构（2）包括压板和螺钉，压板通过螺钉与架体(13)固定在一起。
5.根据权利要求1所述的一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其特征在于，所述的上升顶出机构位于测试平台（12)的下方，上升顶出机构包括传动杠杆（3...
【专利技术属性】
技术研发人员：常会军，张越成，孙建才，孙荣久，胡世洲，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十三研究所，
类型：发明
国别省市：河北;13
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