半导体封装件制造技术

本发明专利技术提供了一种半导体封装件。该半导体封装件包括：基板，具有背对的第一表面和第二表面；连接构件，设置在基板的第一表面上；芯片，设置在多个连接构件上以通过多个连接构件与基板电连接；感光阻焊层，包括本体部和位于本体部上的突出部，其中，本体部设置在基板的第一表面的未设置有连接构件的区域上，突出部从感光阻焊层的本体部的一端朝向所述芯片延伸并在芯片的两端位于芯片下方。该半导体封装件能够防止芯片过量变形，从而避免发生短路。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及封装
，具体地，涉及一种防止芯片变形的半导体封装件。
技术介绍
在现有的半导体封装件中，芯片通过凸点与基板连接，同时注塑底充料填充至芯片与基板之间以包裹芯片。具体地讲，在倒装芯片中，芯片通过凸点与基板连接，实现支撑和电信号传输，而为了减小应力，在芯片与基板间会填充底充料，现在为了提高生产性，很多采用了注塑底充料，即将底充料和塑封料的材料合二为一，在完成塑封的同时完成底部填充。例如，图1是示出根据现有技术的半导体封装件结构的示意性剖视图。参照图1，半导体封装件100包括：基板110；连接构件120，直接设置在基板110上；芯片130，设置在连接构件120上；包封构件140，用于包封芯片130和连接构件120；焊球160，附着到基板110的与其上设置有连接构件120和芯片130的表面相对的表面。参照图1，连接构件120包括直接设置在基板110上的凸点121和直接设置在凸点121上的铜柱122。图2是如图1所示的半导体封装件在注塑底充料时的受力情况的示意图。如图2A所示，当注塑底充料时，由于芯片上方和下方的流动阻力的差异，会产生流动差，芯片上方的底充料的流动速度为VT，芯片下方的底充料的流动速度为VB，其中，VT>VB。芯片上方的底充料的流动速度快，这样对芯片形成一个作用力f，作用力f可以分解为竖直向下的力f1和水平的力f2。由于注塑的温度一般为175℃左右，此时焊料凸点的模量很小，所以容易发生变形，如图2B所示。这样随着向下的作用力f1，使凸点发生变形，凸点变形后，横向尺寸增大，相邻的凸点之间容易发生短路。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能够防止凸点发生短路的半导体封装件。本专利技术提供了一种半导体封装件，所述半导体封装件可以包括：基板，具有背对的第一表面和第二表面；多个连接构件，设置在基板的第一表面上；芯片，设置在所述多个连接构件上以通过所述多个连接构件与基板电连接；感光阻焊层，包括本体部和位于本体部上的突出部，其中，本体部设置在基板的第一表面的未设置有连接构件的区域上，突出部从感光阻焊层的本体部的一端朝向所述芯片延伸并在芯片的两端位于芯片下方。每个连接构件可以包括直接设置在基板的第一表面上的第一连接构件和直接设置在第一连接构件上的第二连接构件。第一连接构件可以是由锡或锡银合金形成的焊料凸点，第二连接构件可以是铜柱。突出部的高度与本体部的厚度之和可以小于第一连接构件的高度与第二连接构件的高度之和。突出部的高度与本体部的厚度之和可以大于第二连接构件的高度与第一连接构件的最大变形高度之和。芯片的功能区可以与连接构件连接。半导体封装件还可以包括用于包封感光阻焊层和芯片的包封构件。包封构件可以通过注塑底充料形成并填充在芯片和基板之间以包封连接构件。半导体封装件还可以包括：外部连接端子，设置在基板的第二表面上。附图说明通过结合附图对示例性实施例的以下描述，本专利技术的各方面将变得更加容易理解，在附图中：图1是示出根据现有技术的半导体封装件的示意性剖视图；图2是如图1所示的半导体封装件在注塑底冲料时的受力情况的示意图；图3是示出根据本专利技术的示例性实施例的半导体封装件的示意性剖视图；图4是图3中示出的半导体封装件的连接构件的高度与PSR层的高度之间的关系的示意图。具体实施方式在下文中，将通过参考附图对示例性实施例进行解释来详细描述本专利技术构思。然而，本专利技术构思可以按照多种不同形式具体实施，而不应当解释为限制为本文所阐述的各实施例；相反，提供这些实施例是为了使得本公开是清楚且完整的，并且将向本领域普通技术人员充分地传达本专利技术构思。在附图中，相同的附图标记表示相同的元件。此外，各个元件和区域是示意性示出的。因而，本专利技术构思不限于图中所示出的相对尺寸或距离。将要理解的是，尽管在这里会使用术语第一、第二等来描述各个元件和/或部件，但这些元件和/或部件不应当被这些术语限制。这些术语仅仅用于将一个元件和/或部件与另一个元件和/或部件区分开。因此，下面讨论的第一元件或第一部件可以被称为第二元件或第二部件，而没有背离本专利技术构思的教导。图3是示出根据本专利技术的示例性实施例的半导体封装件200的示意性剖视图，图4是图3中示出的半导体封装件的连接构件的高度与PSR层的高度之间的关系的示意图。参照图3，根据本专利技术示例性实施例的半导体封装件200包括基板210、连接构件220、感光阻焊层230和芯片240。基板210具有背对的第一表面和第二表面。芯片240设置在基板210的第一表面上方并通过多个连接构件220与基板210电连接。多个连接构件220可以以一定的距离布置在基板210上。每个连接构件220可以包括直接设置在基板210的第一表面上的第一连接构件221和直接设置在第一连接构件221上的第二连接构件222。根据本专利技术的一个实施例，第一连接构件221可以是由锡或锡银合金形成的焊料凸点，第二连接构件222可以是铜柱，但本发明不限于此。芯片240的功能区与第二连接构件222连接，并且第一连接构件221与基板210的第一表面连接，从而使芯片240与基板210电连接。根据本专利技术的示例性实施例，感光阻焊(photosolderresist，PSR)层230设置在基板210的第一表面的未设置有第一连接构件221的区域上。感光阻焊层230包括本体部231和位于本体部231上的突出部232。本体部231设置在基板210的第一表面的未设置有连接构件的区域上，突出部232从感光阻焊层230的本体部231的一端朝向所述芯片240延伸并在芯片240的两端位于芯片240下方。根据本专利技术，通过在基板的PSR层的表面形成凸出部，能够防止芯片过量变形而减小焊料凸点(即，第一连接构件221)的变形量，从而最终防止焊料凸点发生短路。根据本专利技术，为了更好地防止短路，感光阻焊层230与连接构件220满足一定的条件，下面将参照图4对此进行详细的描述。参照图4，根据示例性实施例的突出部232的高度h232可以由式1确定。式1：h222+hmax<h231+h232<h222+h221。在式1中，h221表示第一连接构件221的高度，h222表示第二连接构件222的高度，h232表示突出部232的高度，h231表示本体部231的厚度，hmax表示第一连接构件221的最大变形高度。在注塑底充料时，由于芯片240的上方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体封装件，所述半导体封装件包括：基板，具有背对的第一表面和第二表面；多个连接构件，设置在基板的第一表面上；芯片，设置在所述多个连接构件上以通过所述多个连接构件与基板电连接；以及感光阻焊层，包括本体部和位于本体部上的突出部，其中，本体部设置在基板的第一表面的未设置有连接构件的区域上，突出部从感光阻焊层的本体部的一端朝向所述芯片延伸并在芯片的两端位于芯片下方。

【技术特征摘要】
1.一种半导体封装件，所述半导体封装件包括：
基板，具有背对的第一表面和第二表面；
多个连接构件，设置在基板的第一表面上；
芯片，设置在所述多个连接构件上以通过所述多个连接构件与基板电连
接；以及
感光阻焊层，包括本体部和位于本体部上的突出部，其中，本体部设置
在基板的第一表面的未设置有连接构件的区域上，突出部从感光阻焊层的本
体部的一端朝向所述芯片延伸并在芯片的两端位于芯片下方。
2.根据权利要求1所述的半导体封装件，其特征在于，每个连接构件包
括直接设置在基板的第一表面上的第一连接构件和直接设置在第一连接构件
上的第二连接构件。
3.根据权利要求2所述的半导体封装件，其特征在于，第一连接构件为
由锡或锡银合金形成的焊料凸点，第二连接构件为铜柱。
4.根据权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜茂华，
申请(专利权)人：三星半导体中国研究开发有限公司，三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：江苏;32