一种电子元器件测试装置制造方法及图纸

技术编号:15045732 阅读:191 留言:0更新日期:2017-04-05 18:03
本实用新型专利技术属于电子元器件测试技术领域,具体涉及一种电子元器件测试装置,包括待测电子元器件和驱动电路板,所述驱动电路板上设有与待测电子元器件的各管脚相匹配的多个导电孔,所述待测电子元器件的管脚插在导电孔内,且各管脚与驱动电路板之间还设有弹性单元,弹性单元能够将管脚拉紧,使其与导电孔内壁紧密贴合,实现待测电子元器件与驱动电路板之间的电连接。本实用新型专利技术摒弃常用测试中焊接的测试方式,采用弹性材料产生的拉力实现了PCB板与电子元器件管脚的电气连通,方便快捷,而且对器件没有任何损伤。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电子元器件测试
,具体涉及一种电子元器件测试装置。
技术介绍
目前广泛用于单光子探测器的器件是雪崩光电二极管(APD),它是探测器领域使用的光伏探测器元件,当二极管的工作电压高于其雪崩击穿电压,可以对单个光子入射产生响应,产生宏观的雪崩电流脉冲,从而实现了光电信号的转换输出,制冷型InGaAsAPD是专门应用于单光子探测器的带有制冷封装的器件,比起普通不带制冷功能APDTO-46封装结构较为复杂,其采用TO-8封装结构。为了保证探测器的性能,需要将APD固定于PCB上,对其性能进行测试,由于制冷型APD管脚数为12个,为了保证性能测试的可靠性,目前最常用的固定方式仍是采用APD直接焊接至PCB板上进行测试。现有的技术主要是通过焊接的方式将APD固定在PCB板上进行APD的性能测试,由于制冷型的APD管脚数为12个,且管脚间距只有几毫米,多次焊接的方式不仅会造成PCB孔的阻塞,导致PCB的浪费,而且拆卸下来的APD管脚上的焊锡处理难度也较大,不利于其安装于正常的生产设备中。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种便于拆装,且拆装过程中不会损伤管脚的电子元器件测试装置。为实现上述目的,本技术提供了以下技术方案:一种电子元器件测试装置,包括待测电子元器件和驱动电路板,所述驱动电路板上设有与待测电子元器件的各管脚相匹配的多个导电孔,所述待测电子元器件的管脚插在导电孔内,且各管脚与驱动电路板之间还设有弹性单元,弹性单元能够将管脚拉紧,使其与导电孔内壁紧密贴合,实现待测电子元器件与驱动电路板之间的电连接。优选的,所述待测电子元器件与驱动电路板之间还设有高导热材料制成的散热板,所述待测电子元器件的管脚从散热板上开设的与管脚一一对应的通孔穿过;所述散热板上邻近待测电子元器件位置处连有散热片。优选的,所述驱动电路板与散热板之间设有绝缘隔热材料制成的管脚隔离垫,所述管脚隔离垫包括板状本体,以及板状本体上凸伸设置的与各管脚一一对应的多个隔离套管,各隔离套管的管孔贯穿板状本体设置,所述板状本体夹在散热板与驱动电路板之间,各隔离套管插在所述散热板的通孔内,待测电子元器件的管脚从隔离套管的管孔穿过,使各管脚与散热板之间绝缘。优选的,所述待测电子元器件与散热板之间设有弹性导热材料制成的导热垫,所述导热垫两侧分别与待测电子元器件和散热板紧密贴合,用于将待测电子元器件产生的热量传导至散热板。优选的,所述散热板和驱动电路板通过螺栓固定连接,所述弹性单元为橡皮筋,弹性单元两端分别套在管脚和螺栓上。优选的,所述待测电子元器件的底部设有螺纹柱,该螺纹柱依次穿过导热垫、散热板及驱动电路板上开设的通孔,并采用螺母拧紧,使待测电子元器件与散热板和驱动电路板固接。优选的,所述散热板为铜板。优选的,所述管脚隔离垫由隔热橡胶或隔热陶瓷制成;所述导热垫由导热橡胶制成。优选的,所述散热片与散热板之间通过螺钉固定连接。优选的,所述待测电子元器件的管脚顶端还设有限位套管,所述限位套管与管脚构成过盈配合,限位套管与管脚之间的摩擦力能够使限位套管与管脚相对固定,并且当操作人员拉拽限位套管时,就能使限位套管从管脚上脱落;所述限位套管的外环面上设有用于卡固橡皮筋的环形槽。本技术的技术效果在于:本技术摒弃常用测试中焊接的测试方式,采用弹性材料产生的拉力实现了PCB板与电子元器件管脚的电气连通,方便快捷,而且对器件没有任何损伤。本技术中的导热垫的弹性材料可以根据电子元器件管脚接触情况实时调整,控制方便。本技术中的管脚隔离垫有效地避免了器件管壳与热沉接触时可能引起的管脚短路之间连通的问题。本技术可以普遍用于各种电子元器件,方便对器件进行入厂性能测试但不会破坏器件本身。附图说明图1是本技术的实施例所提供的剖视图;图2是图1的I局部放大视图;图3是本技术的实施例所提供的立体结构示意图;图4是本技术的实施例所提供的后视图。具体实施方式以下结合附图对本技术进行详细的描述。如图1~4所示,本实施例以雪崩二极管(APD)10的检测为例,对本技术的技术方案进行详细说明。一种电子元器件测试装置,包括APD10和驱动电路板11,所述驱动电路板11上设有与APD10的各管脚101相匹配的多个导电孔,所述APD10的管脚101插在导电孔内,且各管脚101与驱动电路板11之间还设有弹性单元,弹性单元能够将管脚101拉紧,使其与导电孔内壁紧密贴合,实现APD10与驱动电路板11之间的电连接。本技术摒弃常用测试中焊接的测试方式,采用弹性单元产生的拉力实现了驱动电路板11与APD10管脚101的电气连通,方便快捷,而且对器件没有任何损伤。优选的,所述APD10与驱动电路板11之间还设有高导热材料制成的散热板12,所述APD10的管脚101从散热板12上开设的与管脚101一一对应的通孔穿过;所述散热板12上邻近APD10位置处连有散热片19,散热片19上还可以安装一排气扇20,提高散热效率。散热板12能够将APD10制冷时产生的热量及时传导至散热片19,使APD10能够工作在较低温度下。优选的,所述驱动电路板11与散热板12之间设有绝缘隔热材料制成的管脚隔离垫,所述管脚隔离垫包括板状本体13,以及板状本体13上凸伸设置的与各管脚101一一对应的多个隔离套管131,各隔离套管131的管孔贯穿板状本体13设置,所述板状本体13夹在散热板12与驱动电路板11之间,各隔离套管131插在所述散热板12的通孔内,APD10的管脚101从隔离套管131的管孔穿过,使各管脚101与散热板12之间绝缘。由于散热板12是导电的,APD10的管脚101直接接触到散热板12会导致管脚101间短路,因而在散热板12中添加了由绝缘隔热的材料制作而成的管脚隔离垫,能够有效地隔离各管脚101之间的电气连通特性。优选的,所述APD10与散热板12之间设有弹性导热材料制成的导热垫14,所述导热垫14两侧分别与APD10和散热板12紧密贴合,用于将APD10产生的热量传导至散热板12。由于制冷型APD10在使用时需保证器件良好的导热性,为了保证管壳底部与散热板12紧密贴合,保证热传导性,在APD10与热沉之间增加导热垫14,导热垫14的弹性可以保证器件的管壳底部的导热性。优选的,所述散热板12和驱动电路板11通过螺栓16固定连接,所述弹性单元为橡皮筋15,弹性单元两端分别套在管脚101和螺栓16上。APD10的底部设有螺纹柱,该螺纹柱依次穿过导热垫14、散热板12及驱动电路板11上开设的通孔,并采用螺母21拧紧,使APD10与散热板12和驱动电路板11固接。所述螺纹柱与APD10的底座一体式加工成型。本实施例的螺母21优选采用长度较大的铜柱螺母,使螺母21凸出管脚101外端,避免拆装螺母21时与管脚101产生干涉。优选的,所述散热板12为铜板,所述管脚隔离垫由隔热橡胶或隔热陶瓷制成;所述导热垫14由导热橡胶制成,所述散热片19与散热板12之间通过螺钉18固定连接。优选的,所述APD10的管脚101顶端还设有限位套管17,所述限位套管17与管脚101构成过盈配合,限位套管17与管脚101之间的摩擦力能够使限位套管17与管脚101相对固定,并且当操作人员拉拽限位套本文档来自技高网...
一种电子元器件测试装置

【技术保护点】
一种电子元器件测试装置,其特征在于:包括待测电子元器件和驱动电路板,所述驱动电路板上设有与待测电子元器件的各管脚相匹配的多个导电孔,所述待测电子元器件的管脚插在导电孔内,且各管脚与驱动电路板之间还设有弹性单元,弹性单元能够将管脚拉紧,使其与导电孔内壁紧密贴合,实现待测电子元器件与驱动电路板之间的电连接。

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件测试装置,其特征在于:包括待测电子元器件和驱动电路板,所述驱动电路板上设有与待测电子元器件的各管脚相匹配的多个导电孔,所述待测电子元器件的管脚插在导电孔内,且各管脚与驱动电路板之间还设有弹性单元,弹性单元能够将管脚拉紧,使其与导电孔内壁紧密贴合,实现待测电子元器件与驱动电路板之间的电连接。2.根据权利要求1所述的电子元器件测试装置,其特征在于:所述待测电子元器件与驱动电路板之间还设有高导热材料制成的散热板,所述待测电子元器件的管脚从散热板上开设的与管脚一一对应的通孔穿过;所述散热板上邻近待测电子元器件位置处连有散热片。3.根据权利要求2所述的电子元器件测试装置,其特征在于:所述驱动电路板与散热板之间设有绝缘隔热材料制成的管脚隔离垫,所述管脚隔离垫包括板状本体,以及板状本体上凸伸设置的与各管脚一一对应的多个隔离套管,各隔离套管的管孔贯穿板状本体设置,所述板状本体夹在散热板与驱动电路板之间,各隔离套管插在所述散热板的通孔内,待测电子元器件的管脚从隔离套管的管孔穿过,使各管脚与散热板之间绝缘。4.根据权利要求2或3所述的电子元器件测试装置,其特征在于:所述待测电子元器件与散热板之间设有弹性导热材料制成的导热垫,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:马睿代云启张志刚
申请(专利权)人:科大国盾量子技术股份有限公司
类型:新型
国别省市:安徽;34

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