非接卡射频性能自动测试系统及其测试方法技术方案

本发明专利技术提供一种非接卡射频性能自动测试系统及其测试方法，该测试系统包括示波器、PC、三轴测试机构及校准PICC电路；所述校准PICC电路接在三轴测试机构上，校准PICC电路接示波器，三轴测试机构由PC控制；所述示波器的数据输出接PC。 通过该系统实现了自动测试射频性能，具有设备造价低，测量结果准确等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机械自动化领域，具体涉及一种非接卡射频性能自动测试系统。
技术介绍
目前的设备的射频性能的测试设备动辄几十万，设备昂贵。并且测试过程中需要人为手动去调整需要测试的点，造成了测试结果的不准确性。步进电机：步进电机是将电脉冲信号转变为角位移或线位移的开环控制元步进电机件。LabVIEW：LabVIEW是一种程序开发环境，由美国国家仪器（NI）公司研制开发，类似于C和BASIC开发环境非接EMVL1（EMV是国际组织EUROPAY,MASTER,VISA的简称。EMV规范在ISO7816标准子集上加入了一些EMV特有的要求而形成的包括IC卡，IC卡中断，IC卡应用的统一标准）：国际标准，EMVCo?*TypeApprovalContactlessTerminalLevel1（非接卡一级标准通信协议）。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种非接卡射频性能自动测试系统，通过三轴机构、示波器和PC的结合，实现了自动测试射频性能的目的。本专利技术采用以下技术方案实现：一种非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：包括示波器、PC、三轴测试机构及校准PICC电路；所述校准PICC电路接在三轴测试机构上，校准PICC电路接示波器，三轴测试机构由PC控制；所述示波器的数据输出接PC；所述校准PICC电路包括依次连接的感应线线圈、波形调整电路及波形输出部分。在本专利技术一实施例中，所述三轴测试机构包括一支撑底座，所述支撑底座上沿纵向并列设有两皮带传动机构，两皮带传动机构的前端和后端分别经一传动轴连接，两皮带传动机构经一第一步进电机驱动；两皮带传动机构上分别设置有一沿皮带传动机构纵向移动的第一滑块和第二滑块，两皮带传动机构之间横向架设有一皮带导轨，所述皮带导轨的一端设置于所述第一滑块上，另一端穿设于所述第二滑块并且经一第二步进电机驱动；所述皮带导轨上设有一沿该皮带导轨横向移动的第三滑块，所述第三滑块上竖向设有一丝杆机构，并且所述丝杆机构经一第三步进电机驱动，所述丝杆机构上设有一沿丝杆机构竖向移动的连接机构；所述连接机构上安装有一L形转接板，所述L形转接板连接与一支撑杆的一端连接，所述支撑杆的另一端连接固定座，所述固定座夹持所述校准PICC电路板；所述第一步进电机、第二步进电机和第三步进电机分别经一步进电机驱动器与一运动控制卡电连；所述运动控制卡与所述PC连接；所述电机驱动器及运动控制卡电由一电源模块供电。本专利技术还提供一种基于上述的非接卡射频性能自动测试系统的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤S1：首先，将三轴测试机构上电，由PC控制驱动三轴测试机构寻找原点；步骤S2：将设备和校准PICC的位置放好，并且将校准PICC连接到示波器上；步骤S3：对非接卡进行测试，进行中心点定位，若有非接卡标志，测试中心点为该标志所示的位置；步骤S4：在PC上选择测试卡类型，为“A卡”，对控件中的25个点自动进行测试并计算，并且保存测试完的波形数据以及生成日志文件以供生成报告使用；步骤S5：在PC上选择测试卡类型，为“B卡”，对控件中的25个点自动进行测试并计算，并且保存测试完的波形数据以及生成日志文件以供生成报告使用；步骤S6：在PC上选择测试卡类型，为“场强”，在校准PICC电路板上将同轴线缆移至场强数据输出口，并且更改短接帽短接方式，然后点击开始，对控件中的25个点自动进行测试并计算，并且保存测试完的波形数据以及生成日志文件以供生成报告使用；步骤S7：生成报告，在报告里面，没有通过的测试项目会以不同的颜色背景标记出来。在本专利技术一实施例中，定位中心点具体步骤如下：计算固定长度里面的脉冲个数，从而确定单个脉冲的电机转动的角度，其中电机转动的使用绝对坐标来确定。在本专利技术一实施例中，将第一步进电机和第二步进电机分别经步进电机驱动器控制，使得皮带传动机构和皮带导轨和丝杆机构的移动精度为0.1mm,将第三步进电机经步进电机驱动器控制丝杆机构的移动精度为0.01mm。在本专利技术一实施例中，步骤S4-S6中的计算包括均值滤波、中值滤波、峰值检测及波形重采样。在本专利技术一实施例中，步骤S4、S5中抓取A卡或Ｂ卡波形使用的是欠幅触发，通过PC向示波器发送指令从而能够正确的抓取A卡或B卡的波形，从而进行测量；步骤S6中抓取场强波形首先需要将时基调至1us，然后就可以读取场强的平均值，这个平均值即测量的参数。与现有技术相比，本专利技术能够自动测试射频性能，具有设备造价低，测量结果准确等优点。附图说明图1为射频测试点的空间域示意图。图2为本专利技术非接卡射频性能自动测试系统的结构示意图。图3为校准PICC电路原理图。图4为运动控制卡安装示意图。图5为三轴机构结构示意图。图6为校准PICC电路与三轴机构连接结构示意图。图7为校准PICC电路夹持固定座示意图。图8为有非接卡标志示意图。图9为A卡测试要求示意图。图10为B卡测试要求示意图。图11为生成报告示意图。图12为寻找原点示意图。【标号说明】1、底座；21、传动机构；22、皮带导轨；31、第一步进电机；32、第二步进电机；33、第三步进电机；4、滚轴丝杠；5、第一滑块；13第二滑块；6、第三滑块；7、测试设备；8、PICC；9、固定PICC支撑杆；10、传动轴；11、PICC夹持固定座；12、L型转接板。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术做进一步说明。本专利技术的测试标准为EMVL1（EMV是国际组织EUROPAY,MASTER,VISA的简称。EMV规范在ISO7816标准子集上加入了一些EMV特有的要求而形成的包括IC卡，IC卡中断，IC卡应用的统一标准，EMVL1为EMVCo?*TypeApprovalContactlessTerminalLevel1的缩写，指的是非接卡一级标准通信协议））射频测试点的空间域示意图参见图1。本专利技术的非接卡射频性能自动测试系统的结构示意图参见图2.该系统包括示波器、PC、三轴测试机构及校准PICC电路；所述校准PICC电路接在三轴测试机构上，校准PICC电控接示波器，三轴测试机构由PC控制；所述示波器的数据输出接PC。所述校准PICC电路原理图参见图3。所述校准PICC电路，所述校准PICC电路包括依次连接的感应线线圈、波形调整电路及输出模块。感应线线圈用于感应非接卡信号。运动控制卡安装示意图参见图4。在本专利技术一实施例中，所述三轴测试机构包括一支撑底座1，所述支撑底座1上沿纵向并列设有两皮带传动机构21，两皮带传动机构的前端和后端分别经一传动轴10连接，两皮带传动机构经一第一步进电机31驱动；两皮带传动机构上分别设置有一沿皮带传动机构纵向移动的第一滑块5和第二滑块13，两皮带传动机构之间横向架设有一皮带导轨22，所述皮带导轨22的一端设置于所述第一滑块5上，另一端穿设于所述第二滑块13并且经一第二步进电机32驱动；所述皮带导轨21上设有一沿该皮带导轨21横向移动的第三滑块6，所述第三滑块6本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：包括示波器、PC、三轴测试机构及校准PICC电路；所述校准PICC电路接在三轴测试机构上，校准PICC电路接示波器，三轴测试机构由PC控制；所述示波器的数据输出接PC；所述校准 PICC电路包括依次连接的感应线线圈、波形调整电路及波形输出部分。

【技术特征摘要】
1.一种非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：包括示波器、PC、三轴测试机构及校准PICC电路；所述校准PICC电路接在三轴测试机构上，校准PICC电路接示波器，三轴测试机构由PC控制；所述示波器的数据输出接PC；所述校准PICC电路包括依次连接的感应线线圈、波形调整电路及波形输出部分。
2.根据权利要求1所述的非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：所述三轴测试机构包括一支撑底座，所述支撑底座上沿纵向并列设有两皮带传动机构，两皮带传动机构的前端和后端分别经一传动轴连接，两皮带传动机构经一第一步进电机驱动；两皮带传动机构上分别设置有一沿皮带传动机构纵向移动的第一滑块和第二滑块，两皮带传动机构之间横向架设有一皮带导轨，所述皮带导轨的一端设置于所述第一滑块上，另一端穿设于所述第二滑块并且经一第二步进电机驱动；所述皮带导轨上设有一沿该皮带导轨横向移动的第三滑块，所述第三滑块上竖向设有一丝杆机构，并且所述丝杆机构经一第三步进电机驱动，所述丝杆机构上设有一沿丝杆机构竖向移动的连接机构；所述连接机构上安装有一L形转接板，所述L形转接板连接与一支撑杆的一端连接，所述支撑杆的另一端连接固定座，所述固定座夹持所述校准PICC电路板；所述第一步进电机、第二步进电机和第三步进电机分别经一步进电机驱动器与一运动控制卡相连；所述运动控制卡与所述PC连接；所述电机驱动器及运动控制卡电由一电源模块供电。
3.一种基于权利要求1-2所述的非接卡射频性能自动测试系统的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤S1：首先，将三轴测试机构上电，由PC控制驱动三轴测试机构寻找原点；
步骤S2：将设备和校准PICC的位置放好，并且将校准PICC连接到示波器上；
步骤S3：PICC电路的感应线圈感应非接卡信号，对非接卡进行测试，进行中心点定位，若有非...

【专利技术属性】
技术研发人员：张强，林魁，
申请(专利权)人：福建联迪商用设备有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35