一种电路板测试冶具制造技术

技术编号:15042073 阅读:198 留言:0更新日期:2017-04-05 14:18
本实用新型专利技术公开了一种电路板测试冶具,包括盒体,盒体的上方安装有测试平台,测试平台上设有容纳槽,测试平台的一侧安装有挡板,挡板靠近测试平台的一侧安装有导轨,挡板远离盒体的一端设有第一凹槽,第一凹槽的内部安装有第一转轴,第一转轴的外侧套接有推杆,推杆上设有第二凹槽,第二凹槽的内部安装有第二转轴,第二转轴的外侧套接有连接杆,连接杆远离第二转轴的一端设有圆槽,圆槽内部套接有活动接头。本实用新型专利技术,改变传统电路板测试时需要拔插插头的连接方式,不需要对插头进行拔插,防止插头损坏,提高了测试效率,减小了测试冶具的损坏率,将传统的拔插插头的连接方式改变为触点接触的方式,提高了测试的效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试冶具
,尤其涉及一种电路板测试冶具。
技术介绍
普通电路板测试冶具在操作过程中发现以下问题及不便之处:电路板测试时都要拔插插头,影响测试速度,降低工作效率;插头由于多次拔插会导致插头及线路松动,造成误测,增加不必要修理工作。而损坏的测试冶具需要经过修理好后才能继续测试,因此需要一种方便测试且不易损害坏的电路板测试冶具。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种电路板测试冶具。为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:一种电路板测试冶具,包括盒体,所述盒体的上方安装有测试平台,所述测试平台上设有容纳槽,所述测试平台的一侧安装有挡板,所述挡板靠近测试平台的一侧安装有导轨,所述挡板远离盒体的一端设有第一凹槽,所述第一凹槽的内部安装有第一转轴,所述第一转轴的外侧套接有推杆,所述推杆上设有第二凹槽,所述第二凹槽的内部安装有第二转轴,所述第二转轴的外侧套接有连接杆,所述连接杆远离第二转轴的一端设有圆槽,所述圆槽内部套接有活动接头,所述活动接头远离圆槽的一端安装有压板,所述压板靠近挡板的一侧安装有滑块,且滑块与导轨连接,所述压板上设有螺纹孔,所述螺纹孔上安装有测试探针,所述测试探针靠近测试平台的一端安装有触点,所述测试探针远离测试平台的一端安装有接线柱。优选的,所述盒体的内部安装有压力罐,所述压力罐内填充有液态二氧化碳,所述压力罐上按有管道,所述容纳槽的侧壁上设有喷嘴,所述喷嘴与管道连接,所述容纳槽的底部内壁镶嵌有温度传感器。优选的,所述盒体上设有螺纹孔,且螺纹孔通过螺钉与测试平台连接。优选的,所述挡板上安装有限位块。优选的,所述压板上设有螺纹孔,且螺纹孔与活动接头上的外螺纹啮合。本技术的有益效果:1、通过设置的推杆和压板,改变传统电路板测试时需要拔插插头的连接方式,不需要对插头进行拔插,防止插头损坏,提高了测试效率,减小了测试冶具的损坏率;2、通过设置的测试探针,将传统的拔插插头的连接方式改变为触点接触的方式,提高了测试的效率。附图说明图1为本技术提出的一种电路板测试冶具的结构示意图。图中:1盒体、2挡板、3测试平台、4容纳槽、5导轨、6第一凹槽、7第一转轴、8推杆、9第二凹槽、10第二转轴、11连接杆、12圆槽、13活动接头、14压板、15滑块、16螺纹孔、17测试探针、18触点、19接线柱。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。参照图1,一种电路板测试冶具,包括盒体1,盒体1的上方安装有测试平台3,测试平台3上设有容纳槽4,测试平台3的一侧安装有挡板2,挡板2靠近测试平台3的一侧安装有导轨5,挡板2远离盒体1的一端设有第一凹槽6,第一凹槽6的内部安装有第一转轴7,第一转轴7的外侧套接有推杆8,推杆8上设有第二凹槽9,第二凹槽9的内部安装有第二转轴10,第二转轴10的外侧套接有连接杆11,连接杆11远离第二转轴10的一端设有圆槽12,圆槽12内部套接有活动接头13,活动接头13远离圆槽12的一端安装有压板14,压板14靠近挡板2的一侧安装有滑块15,且滑块15与导轨5连接,压板14上设有螺纹孔16,螺纹孔16上安装有测试探针17,测试探针17靠近测试平台3的一端安装有触点18,测试探针17远离测试平台3的一端安装有接线柱19,盒体1的内部安装有压力罐,压力罐内填充有液态二氧化碳,压力罐上按有管道,容纳槽4的侧壁上设有喷嘴,喷嘴与管道连接,容纳槽4的底部内壁镶嵌有温度传感器,盒体1上设有螺纹孔,且螺纹孔通过螺钉与测试平台3连接,挡板2上安装有限位块,压板14上设有螺纹孔,且螺纹孔与活动接头13上的外螺纹啮合。本技术中,将待测试的电路板放置在容纳槽4内,推动推杆8使连接杆11运动,这时候压板14沿导轨5滑动,当到达测试位置时,测试探针17的触点18与待测电路板的测试点接触,实现对待测电路板的检测,该设计改变传统电路板测试时需要拔插插头的连接方式,不需要对插头进行拔插,防止插头损坏,提高了测试效率,减小了测试冶具的损坏率,将传统的拔插插头的连接方式改变为触点接触的方式,提高了测试的效率。以上,仅为本技术较佳的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内,根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种电路板测试冶具,包括盒体(1),其特征在于:所述盒体(1)的上方安装有测试平台(3),所述测试平台(3)上设有容纳槽(4),所述测试平台(3)的一侧安装有挡板(2),所述挡板(2)靠近测试平台(3)的一侧安装有导轨(5),所述挡板(2)远离盒体(1)的一端设有第一凹槽(6),所述第一凹槽(6)的内部安装有第一转轴(7),所述第一转轴(7)的外侧套接有推杆(8),所述推杆(8)上设有第二凹槽(9),所述第二凹槽(9)的内部安装有第二转轴(10),所述第二转轴(10)的外侧套接有连接杆(11),所述连接杆(11)远离第二转轴(10)的一端设有圆槽(12),所述圆槽(12)内部套接有活动接头(13),所述活动接头(13)远离圆槽(12)的一端安装有压板(14),所述压板(14)靠近挡板(2)的一侧安装有滑块(15),且滑块(15)与导轨(5)连接,所述压板(14)上设有螺纹孔(16),所述螺纹孔(16)上安装有测试探针(17),所述测试探针(17)靠近测试平台(3)的一端安装有触点(18),所述测试探针(17)远离测试平台(3)的一端安装有接线柱(19)。

【技术特征摘要】
1.一种电路板测试冶具,包括盒体(1),其特征在于:所述盒体(1)的上方安装有测试平台(3),所述测试平台(3)上设有容纳槽(4),所述测试平台(3)的一侧安装有挡板(2),所述挡板(2)靠近测试平台(3)的一侧安装有导轨(5),所述挡板(2)远离盒体(1)的一端设有第一凹槽(6),所述第一凹槽(6)的内部安装有第一转轴(7),所述第一转轴(7)的外侧套接有推杆(8),所述推杆(8)上设有第二凹槽(9),所述第二凹槽(9)的内部安装有第二转轴(10),所述第二转轴(10)的外侧套接有连接杆(11),所述连接杆(11)远离第二转轴(10)的一端设有圆槽(12),所述圆槽(12)内部套接有活动接头(13),所述活动接头(13)远离圆槽(12)的一端安装有压板(14),所述压板(14)靠近挡板(2)的一侧安装有滑块(15),且滑块(15)与导轨(5)连接,所述压板(14...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈宁
申请(专利权)人:南京北方慧华光电有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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