【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示器液晶填充量测定的方法及装置。
技术介绍
随着显示技术的日益成熟，各种显示器也逐渐发展起来。目前，液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，简称LCD)由于具有功耗小、微型化、轻薄等优点而得到越来越广泛的应用。如图1(a)和图1(b)所示，液晶显示面板包括阵列基板20、对盒基板10以及位于阵列基板20和对盒基板10之间的胶框30和液晶层40。现有的液晶显示器在制造过程中，液晶填充量(LiquidCrystalMargin，简称LCMargin)一般根据设计要求及实际工艺过程中的细微调整来确定。在制造过程中，液晶填充量存在上限和下限，如图1(a)所示，当液晶填充量趋近于或低于液晶填充量的下限时，阵列基板20和对盒基板10之间的液晶填充量较少，隔垫物50(PhotoSpacer，简称PS)起主要支撑作用，其中，隔垫物50包括主隔垫物501和辅隔垫物502，此时由于液晶没有在阵列基板20和对盒基板10之间填充满，因而会出现真空气泡(bubble)，在低温条件下，阵列基板20、对盒基板10和液晶等材料的都会收缩，由于液晶的热膨胀系数远大于阵列基板20、对盒基板10的热膨胀系数，因而更容易出现bubble缺陷。如图1(b)所示，当液晶填充量趋近于或略高于液晶填充量上限时，液晶起主要支撑作用，隔垫物50所承受的支撑力减小，当液晶显示面板放...
【技术保护点】
一种显示器液晶填充量测定的方法，其特征在于，包括：控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围。
【技术特征摘要】
1.一种显示器液晶填充量测定的方法，其特征在于，包括：
控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；
对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合
出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；
依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐
点，得到所述显示器的液晶填充量范围。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量；
对所述多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合
出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线；
控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：根据
所述常温关系曲线，控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充
量，分别与所述常温关系曲线的下限拐点和所述下限拐点两侧预设范
围内的多个点、以及上限拐点和所述上限拐点两侧预设范围内的多个
点一一对应。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，控制多个第一待测
液晶显示面板的液晶填充量，包括：
选取多个第一待测液晶显示母板，控制每个所述第一待测液晶显
示母板中所有第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于
不同所述第一待测液晶显示母板中的所述第一待测液晶显示面板的液
晶填充量不同；
控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：
选取一个第二待测液晶显示母板，控制其中每个所述第二待测液
晶显示面板的液晶填充量不同。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，对待测液晶显
示面板的液晶层厚度进行检测，包括：对待测液晶显示面板的中间位
置处的液晶层厚度进行检测；
对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测，包括：
针对每个待测液晶显示面板，将一束光以相对液晶光轴的预定角
度θ射向待测液晶显示面板的中间位置，得到从待测液晶显示面板的液
晶层出射的O光和E光之间的距离d；
根据所述预定角度θ及所述距离d，利用公式：计
\t算得到所述液晶层的厚度T；
其中，no为所述O光在液晶层中的折射率；ne为所述E光在液晶
层中的折射率。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。
6.一种显示器液晶填充量测定的装置，其特征在于，包括：控制
单元、检测单元和处理单元；其中，所述控制单元包括液晶填充子单
元、温度控制子单元；
所述液晶填充子单元，用于控制多个第一待测液晶显示面板的液
晶填充量；
所述温度控制子单元，用于控制所述多个第...
【专利技术属性】
技术研发人员：耿淼，高章飞，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。