一种微电阻测量设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种微电阻测量设备，该电阻测量设备包括：滑动平台、控制装置以及设置于滑动平台上可沿XYZ轴三个方向运动的微电阻测试计，微电阻测试计上设有一组或多组探针。本实用新型专利技术一种微电阻测量设备及测量方法可以快速有效准确地对产品进行电阻值的测量，分辨出合格与不合格的产品，减少工人的操作复杂度，提高其检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电阻测量设备，具体涉及一种用于对微小电阻进行测量的微电阻测量设备。
技术介绍
在电子产品领域，为了保证出厂产品的良率，在产品生产完成后，还需要对产品的电阻值进行测量。纯金属电阻值精密测量一般采用传统的四联回路设备进行测量，但是在测量的过程中，传统的测量设备对测量点的位置选取不精确，探针的压力难以控制，其可能会对测量的电阻值产生影响。由于测量产品的电阻值十分微小，只有几毫欧或零点几毫欧，为了提高其测量精确度，故一种微电阻测量设备亟待提出。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术提出了一种微电阻测量设备，该设可以快速有效对产品进行电阻值的测量，分辨出合格与不合格的产品，减少工人的操作复杂度，提高其检测效率。为了达到上述目的，本技术的技术方案如下：一种电阻测量设备，电阻测量设备包括：滑动平台、控制装置以及设置于滑动平台上可沿XYZ轴三个方向运动的微电阻测试计，微电阻测试计上设有一组或多组探针。本技术一种微电阻测量设备采用滑动平台上的微电阻测试计对产品进行测量。控制装置控制微电阻测试计沿XY轴运动，可以准确有效地选取产品上的测量点进行测量，同时降低了工作人员的操作复杂度。而控制装置控制微电阻测试计沿Z轴运动，可以有效控制微电阻测试计上的探针与产品测量点的压力，防止两者接触不良或探针对产品压力过大造成损伤，保证探针对产品的测量更精确。在上述技术方案的基础上，还可做如下改进：作为优选的方案，在滑动平台上设置有：Y轴水平组件，包括Y轴滑块、Y轴滑轨以及Y轴驱动装置，Y轴驱动装置驱动Y轴滑块沿Y轴滑轨运动；X轴水平组件，设置于Y轴滑块上，包括X轴滑块、X轴滑轨以及X轴驱动装置，X轴驱动装置驱动X轴滑块沿X轴滑轨运动；Z轴垂直组件，设置于X轴滑块上，包括Z轴滑块、Z轴滑轨以及Z轴驱动装置，微电阻测试计设置于Z轴滑块上，Z轴驱动装置驱动Z轴滑块沿Z轴滑轨运动。采用上述优选的方案，结构简单，成本低。作为优选的方案，电阻测量设备还包括：设置于滑动平台上的用于承载或运输产品的载具。采用上述优选的方案，便于对产品进行承载或运输。作为优选的方案，电阻测量设备还包括温度传感器，温度传感器与控制装置电连接。采用上述优选的方案，温度传感器对微电阻测试计对产品进行测量时的环境温度进行测量，对微电阻测试计测量的产品的电阻值进行温度补偿，消除环境温度对产品电阻的影响，使其检测更精确。作为优选的方案，电阻测量设备还包括调零母板。采用上述优选的方案，调零母板的表面镀有贵金属，如：金、银。传统的四联回路设备，需要工作人员将每组探针进行接触短接来实现，操作复杂，一个工作人员难以实现。而本申请采用阻值无限小的调零母板对微电阻测试计进行调零，操作更便捷。作为优选的方案，调零母板水平设置于Z轴滑轨内部空腔中，且调零母板与母板驱动装置连接，母板驱动装置驱动调零母板运动。采用上述优选的方案，降低工作人员的操作复杂度。作为优选的方案，调零母板包括正面和背面，正面为金属检测面，背面上设有卡槽，卡槽内铰接有用于支撑调零模板的支撑脚。采用上述优选的方案，支撑脚对调零模板进行良好的支撑，保证其调零更有效。附图说明图1为本技术实施例提供的微电阻测量设备的结构示意图。图2为本技术实施例提供的Z轴垂直组件、微电阻测试计以及调零母板的主视图。图3为本技术实施例提供的产品结构示意图。图4为本技术实施例提供的产品俯视图。图5为本技术实施例提供的微电阻测量设备的侧视图之一。图6为本技术实施例提供的微电阻测量设备的侧视图之二。图7为本技术实施例提供的微电阻测量设备的侧视图之三。图8为本技术实施例提供的调零母板背面的结构示意图。其中：1滑动平台、11Y轴水平组件、111Y轴滑块、112Y轴滑轨、12X轴水平组件、121X轴滑块、122X轴滑轨、13Z轴垂直组件、131Z轴滑块、132Z轴滑轨、133Z轴驱动装置、2微电阻测试计、21探针、3载具、4调零母板、41卡槽、42支撑脚。具体实施方式下面结合附图详细说明本技术的优选实施方式。为了达到本技术的目的，一种电阻测量设备的其中一些实施例中，如图1和2所示，一种电阻测量设备，电阻测量设备包括：滑动平台1、控制装置、设置于滑动平台1上可沿XYZ轴三个方向运动的微电阻测试计2、用于承载或运输产品的载具3、温度传感器4以及调零母板5；微电阻测试计2上设有一组四个探针21；载具3设置于滑动平台1上；温度传感器(图中未示出)与控制装置电连接；调零母板4用于对微电阻测试计2进行调零。在滑动平台1上设置有：Y轴水平组件11、X轴水平组件12以及Z轴垂直组件13。Y轴水平组件11包括Y轴滑块111、Y轴滑轨112以及Y轴驱动装置(图中未示出)，Y轴驱动装置驱动Y轴滑块111沿Y轴滑轨112运动。X轴水平组件12设置于Y轴滑块111上，包括X轴滑块121、X轴滑轨122以及X轴驱动装置(图中未示出)，X轴驱动装置驱动X轴滑块121沿X轴滑轨122运动。Z轴垂直组件13设置于X轴滑块121上，包括Z轴滑块131、Z轴滑轨132以及Z轴驱动装置133，微电阻测试计2设置于Z轴滑块131上，Z轴驱动装置133驱动Z轴滑块131沿Z轴滑轨132运动。如图3和4所示，为本技术一种电阻测量设备的待检测产品。一种微电阻测量方法，利用微电阻测量设备进行测量，微电阻测量方法具体包括以下步骤：1)利用调零母板4将四个探针21进行调零；2)将产品设置于载具3上；3)控制装置控制微电阻测试计2沿X轴和Y轴两个方向进行运动，到达产品的上方；4)控制装置控制微电阻测试计沿Z轴向下运动，微电阻测试计的探针21与产品的测量点接触，得到产品的第一电阻值；5)温度传感器对产品的所处温度进行检测，并将检测得到的温度信号传递于控制装置；6)控制装置对温度信号进行分析，并对第一电阻值进行合理补偿，得到第二电阻值；7)控制装置对第二电阻值进行分析，判断该产品质量是否合格；8)重复步骤3)-步骤7)，选取产品上的不同测量点进行测量。本技术一种微电阻测量设备其可以有效实现对产品电阻值的测量，操作便捷，测量精确，其可以多次测量取均值，不易产生误判断。本技术一种微电阻测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻测量设备，其特征在于，所述电阻测量设备包括：滑动平台、控制装置以及设置于所述滑动平台上可沿XYZ轴三个方向运动的微电阻测试计，所述微电阻测试计上设有一组或多组探针。

【技术特征摘要】
1.一种电阻测量设备，其特征在于，所述电阻测量设备包括：滑动平台、控制装置以及设置于所述滑动平台上可沿XYZ轴三个方向运动的微电阻测试计，所述微电阻测试计上设有一组或多组探针。
2.根据权利要求1所述的电阻测量设备，其特征在于，在所述滑动平台上设置有：
Y轴水平组件，包括Y轴滑块、Y轴滑轨以及Y轴驱动装置，所述Y轴驱动装置驱动所述Y轴滑块沿所述Y轴滑轨运动；
X轴水平组件，设置于所述Y轴滑块上，包括X轴滑块、X轴滑轨以及X轴驱动装置，所述X轴驱动装置驱动所述X轴滑块沿所述X轴滑轨运动；
Z轴垂直组件，设置于所述X轴滑块上，包括Z轴滑块、Z轴滑轨以及Z轴驱动装置，所述微电阻测试计设置于所述Z轴滑块上，所述Z轴驱动装置驱动所述Z轴滑块沿Z轴滑轨运动。
3.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵千里，王少波，
申请(专利权)人：亿和精密工业苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32